ГлавнаяКаталогСпектральные системы и комплексыИзмерение спектральной чувствительности и квантовой эффективности

Измерение спектральной чувствительности и квантовой эффективности

Измерение квантовой эффективности
SCS600 - система для измерения квантовой эффективности солнечных ячеек
SCS600 - система для измерения квантовой эффективности солнечных ячеек Измерение внешней квантовой эффективности (EQE), внутренней квантовой эффективности (IQE), спектрального отклика, IPCE, плотности тока короткого замыкания. Диапазон длин волн 250-1700 нм. Воспроизводимость измерений до 1%.
Заказать
SCS600-MAX - система для измерения квантовой эффективности солнечных ячеек большой площади
SCS600-MAX - система для измерения квантовой эффективности солнечных ячеек большой площади Диапазон длин волн 300-1100 нм (300-1700 нм опционально). Диаметр светового пятна 2 - 15 мм. Максимальная площадь сканирования 250 х 150 мм. Точность позиционирования 10 мкм.
Заказать
Измерение спектральной чувствительности
DSR300 - микроскопическая система измерения спектральной чувствительности детекторов
DSR300 - микроскопическая система измерения спектральной чувствительности детекторов Измерение спектральной чувствительности, внешней квантовой эффективности, кривых IT при смещающем напряжении, картирование LBIC, тестирование линейности отклика. Диапазон длин волн 200-2000 нм. Диаметр пучка 40 мкм.
Заказать
DSR600 - система измерения спектральной чувствительности фотодетекторов
DSR600 - система измерения спектральной чувствительности фотодетекторов Измерение спектральной чувствительности, спектральной чувствительности при смещающем напряжении, внешней и внутренней квантовойффектвиности, отражательной способности, коэффициент пропускания, плотности тока короткого замыкания. Диапазон длин волн 200-2400 нм (на выбор). Воспроизводимость измерений > 99%.
Заказать
DSR900 - система измерения параметров камер и сенсоров CMOS/CCD
DSR900 - система измерения параметров камер и сенсоров CMOS/CCD Измерение шума, измерение скорости отклика и обнаружения, измерение динамического диапазона и линейности, исправление неравномерности, определение расположения дефектных пикселей, спектральный диапазон 200-2500 нм, нестабильность < 0,5%.
Заказать

В эпоху возобновляемых источников энергии и освоения космоса использование солнечной энергетики приобретает все больший размах. Все чаще в лабораториях по всему миру внедряются новые материалы, конструкции и системы фотовольтаики.

Независимо от того, используем ли мы солнечный свет или искусственный свет (имитатор), мы стремимся максимизировать чувствительность фотоэлектричесского устройства в максимально широком диапазоне излучения источника. На практике спектральный отклик устройств ограничен, что на длинных волнах обусловлено шириной запрещенной зоны материала, а на коротких – поглощением материала. Спектральная чувствительность солнечных элементов зависит от большого количества факторов (материал, конструкция устройства, геометрия контактов и т. д.) и ограничена для однопереходных p-n-элементов пределом Шокли – Кайссера.

Для измерения квантовой эффективности и чувствительности солнечных элементов могут использоваться настольные приборы от EV. Системы серии SCS10 работают в спектральном диапазоне от 300 до 2500 нм и позволяют измерять характеристики солнечных элементов с различной конструкцией: тонкопленочные элементы. сенсибилизированные красителем элементы. Различные модели используются для образцов различной площади до 156 x 156 мм.

Измерительные установки построены на базе ксенонового источника излучения и монохроматора с высокой разрешающей способностью и низким уровнем рассеянного света. Доступно использование смещающего излучения с излучением до 1,5 солнц.

Измеряемые параметры:

  • Спектральная чувствительность.

  • Внешняя квантовая эффективность (EQE).

  • Внутренняя квантовая эффективность (EQE).

  • Отражение и пропускание.

  • Плотность тока короткого замыкания.

Мы поставляем следующие решения: 

  • Системы измерения квантовой эффективности солнечных батарей.

  • Системы калибровки спектральной чувствительности фотоэлектрических устройств.

  • Прибор для тестирования спектральной чувствительности микро-наноустройств.
  • Системы LBIC (измерение тока, наведенного лазерным излучением).

Специалисты компании «Специальные Системы. Фотоника» будут рады предоставить Вам любую дополнительную информацию о решениях для тестирования солнечных элементов и фотоэлектрических устройств подобрать оптимальное решение под Ваш бюджет. Для составления заказа или получения консультации обратитесь к менеджерам нашей компании.



Мой заказ