BOSA 400 - бриллюэновский анализатор спектра высокого разрешения
- Спектральный диапазон: O (1265-1345 нм), C (1525-1565 нм) или C+L (1525-1615 нм).
- Разрешение длины волны: 0.08 пм.
- Точность определения длины волны: ± 0.5 пм.
- Динамический диапазон > 80 дБ.
- Встроенный перестраиваемый лазер.
BOSA 400 – один из наиболее современных и продвинутых анализаторов оптического спектра на рынке. Основной принцип работы прибора – спектроскопия вынужденного бриллюэновского рассеяния, запатентованная технология, позволяющая проводить спектральные измерения с разрешением (0,08 пм / 10 МГц) и феноменальным динамическим диапазоном без паразитных эффектов (более 80 дБ) в любом спектральном интервале (O, C или C+L) с высокой скоростью.
Прибор воплощает собой прорыв в области анализа спектра. Его разрешение превышает на три порядка разрешение стандартных спектроскопических приборов. С помощью BOSA 400 теперь возможно изучать детали ранее недоступные детали спектра. Это позволяет проводить прямое измерение рабочих характеристик и динамических эффектов, например в:
- В системах с сложными форматами модуляции (Найквист WDM, OFDM, 100G, 400G);
- Комбинированных/ импульсных источниках излучения.
BOSA 400 – наиболее подходящий прибор для научных сотрудников и инженеров, занятых в исследованиях и разработке новых устройств в области фотоники и оптических схем. Прибор позволит проводить быстрые и точные измерения, а благодаря высокой степени автоматизации он легко встраивается в уже существующую лабораторную инфраструктуру.
BOSA 400 оснащается внутренним перестраиваемым лазерным источником. Таким образом, прибор является полностью самодостаточным и позволяет начинать проведение измерений сразу после включения.
Особенности:
- Оптическое разрешение 10 МГц (0,08 пм)
- Динамический диапазон более 80 дБ
- O, C или C+L диапазоны длин волн
- Быстрая скорость сканирования
- Лучшая точность на рынке - 0,5 пм
- Широкий набор возможности автоматизации измерений
- Option 401: Переключает BOSA 400 в анализатор спектра высокого разрешения для C+L диапазона.
- Option 410: Отдельный волоконный вывод для перестраиваемого лазера (бесплатно).
- Option 420: Анализатор пассивных волоконных компонентов. Измерение IL, RL, а также PDL (при включении Option 430).
- Option 430: Функции поляриметра. Измерение состояния поляризации.
- Option 440: Измерение фазы в оптическом C-диапазоне. Непрерывная диаграмма частоты 88 - 1450 МГц.
- Option 441: Добавление опции измерения фазы в L-диапазон. Опции 401 и 440 должны быть активированы.
| Параметр | Параметр | Ед. Измерения | ||
|---|---|---|---|---|
| Диапазон С | Диапазон С+L | Диапазон O | ||
| Разрешение | 0,08 (10 МГц на 1550 нм) | 0,08 (10 МГц на 1310 нм) | пм | |
| Спектральный диапазон | 1525 - 1565 | 1525 - 1615 | 1265 - 1345 | нм |
| Точность |
±0,5 |
пм | ||
| Динамический диапазон без паразитных эффектов | > 80 | дБ | ||
| Ближний динамический диапазон | > 40 дБ на ±0,2 пм | пм | ||
| > 60 дБ на ±0,4 пм | пм | |||
| > 80 дБ на ±4.0 | пм | |||
| Входная мощность | от +13 до -70 | дБм | ||
| Максимальная входная мощность | +20 | дБм | ||
| Чувствительность | -70 дБм / 0,1 | пм | ||
| Точность измерения мощности сигнала | ±0,5 | дБ | ||
| Измерение поляризации | Два ортогональных поляризационных канала | - | ||
| Время измерения | 1 с на 20 нм интервал | - | ||
| Встроенный калибратор длин волн | С12HCN | C12HCN+C12 CO+C13CO | HF | - |
Механические характеристики
| Параметр | Значение | Ед. измерения |
|---|---|---|
| Диапазон рабочих температур | от +15 до +35 | °C |
| Требования к питанию, 50/60 Гц | 110 / 220 | В |
| Энергопотребление | до 150 | Вт |
| Размеры | 430 x 230 x 470 | мм |
| Вес |
18 |
кг |
| Оптический коннектор | FC/APC | - |
| Интерфейсы | Ethernet, USB, GPIB | - |
- Измерение спектральных параметров 100G/400G приёмо-передающих модулей
- Измерение спектральных параметров лазеров с волоконным выводом
- Анализ спектра излучения систем с сложным форматом модуляции
- Проведение фазовых измерений (исследование чирпа сигнала, построение глазковой диаграммы)
- Измерение значения отношения сигнал/шум
- Тестирование пассивных компонентов (IL, RL, PDL)
- Спектральная поляриметрия
- Измерения параметров излучения в интегральной фотонике
