PVE300 - система для измерения внешней и внутренней эффективности фотовольтаических элементов

Система измерения квантовой эффективности PVE300 является важным инструментом в научных исследованиях фотовольтаики и в задачах контроля качества производственных линий, используемых для точного определения спектрального отклика, внешней квантовой эффективности (EQE / IPCE) и внутренней квантовой эффективности (IQE) солнечных элементов.
  • Спектральный диапазон: от 300 до 2500 нм.
  • Источники дополнительного светового смещения в комплекте.
  • USB интерфейс, удобное программное обеспечение для Windows.

Производитель:  BENTHAM INSTRUMENTS

Система PVE300 от Bentham Instruments предназначена для измерения спектральных характеристик различных фотоэлектрических устройств и материалов, включая соединения c:Si, mc:Si, a:Si, µ:Si, CdTe, CIGS, CIS, Gc:Si, mc:Si, a:Si, µ:Si, CdTe, CIGS, CIS, Ge, сенсибилизированные красителем солнечные элементы, органические солнечные ячейки и многопереходные СЭ.

Ключевые преимущества системы:

  • Измерение всех типов материалов с любой конфигурацией, включая многопереходные элементы;
  • Измерение внешней и внутренней квантовой эффективности на уровнях устройства и материала;
  • Оптические компоненты высочайшего качества обеспечивают стабильную работу системы;
  • Позволяет проводить фотоэлектрические исследования.

Особенности системы:

  • Оптимизированный перестраиваемый источник света на основе двойного источника с ксеноновой и вольфрам-галогенной лампами и монохроматора.
  • Широкий рабочий диапазон 300-2500 нм (или шире: по запросу).
  • Использование отражающей оптики для перемещения луча в плоскость образца.
  • Набор креплений для образцов и детекторной электроники для всех типов устройств и конфигураций.
  • Программное обеспечение под Windows обеспечивает полную автоматизацию измерений через USB 2.0.
  • Прямое измерение спектрального отклика устройства (SR, А Вт-1).
  • Прямое измерение внешней квантовой эффективности устройства (EQE/IPCE, в %).
  • Прямое измерение полного отражения R и коэффициента пропускания T для преобразования EQE во внутреннюю квантовую эффективность (IQE,%).

Список стандартов:

  • IEC 60904-8:2014 - Photovoltaic devices - Part 8: Measurement of spectral responsivity of a photovoltaic (PV) device (ГОСТ 60904-8-2013. Приборы фотоэлектрические. Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрических приборов).
  • IEC 60904-8-1:2017 - Photovoltaic devices - Part 8-1: Measurement of spectral responsivity of multi-junction photovoltaic (PV) devices (IEC 60904-8-1(2017) Приборы фотоэлектрические. Часть 8-1. Измерение спектральной чувствительности многопереходных фотоэлектрических приборов).

Регистрируемые параметры:

  • Внешняя квантовая эффективность (EQE/IPCE),
  • Внутренняя квантовая эффективность (IQE),
  • Плотность тока короткого замыкания,
  • Отражение,
  • Пропускание.

Примеры измерений: измерение спектральной чувствительности


Измерение внешней квантовой эффективности СЭ

Responsivity of high efficiency solar cell materials
Спектральная чувствительность однопереходной солнечной ячейки

Responsivity of 4 Junction solar cell
Измерение спектральной чувствительности для многопереходного элемента

Примеры измерений: измерение внутренней КЭ

Solar cell internal quantum efficiency measurement
Измерение внутренней квантовой эффективности СЭ



Параметр Значения Ед. изм.
Спектральная часть    
Источники света Ксеноновая лампа 75 Вт и кварцевая галогенная лампа 100 Вт
-
Конфигурация монохроматора симметричная, Черни-Тернера, турель на 3 решетки, фокусное расстояние 300 мм -
Разрешение 0,3 (для решетки 1200 штр/мм);
0,6 (для решетки 600 штр/мм)
нм
Дисперсия
2,7 (для решетки 1200 штр/мм);
5,4 (для решетки 600 штр/мм)
нм/мм
Диапазон длин волн 300-1100 (решетка 1200 штр/мм);
1100-2500 (для решетки 600 штр/мм)
нм
Точность длины волны
±0,2 (для решетки 1200 штр/мм);
±0,4 (для решетки 600 штр/мм)
нм
Оптика на базе зеркал, увеличение 1.2x -
Размер зонда до 6 x 6 мм
Вакуумный держатель

Контроль температуры Тепловой насос на основе элемента Пельтье 4x70 Вт, горячая сторона с водяным охлаждением
-
Температурный диапазон от 15 до 65
°C
Обратная связь по температуре
Центрированный датчик, расположенный на 3 мм ниже плоскости образца
-
Стабильность температуры
±1
°C
Смещающее излучение

Доставка изучения пучок волокон -
Интенсивность излучения 0-1,5 солнца
Неоднородность излучения ±1
% на см2
Тип фильтра квадратный 50 мм -
Тип источников Кварцевой галогенный, ксеноновый, класс B AM1.5 -
Интегрирующая сфера    
Диаметр порта 15 (5 и 10 по запросу) мм
Покрытие Ba2SO4
-
Материал детектора Si / Ge/ Si-InGaAs сэндвич -
Напряжение смещения    
Диапазон напряжения от -20 до +20 В
Предельный ток 1 А
Эталонный детектор    
Детектор: диапазон Кремний: 300-1100 нм; германий: 800-1800 нм
Сертификация стандарта PTB, Германия -
Управление    
ПО Benwin+ (Windows)
-
Интерфейс USB -

  • Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрических приборов.
  • Измерение квантовой эффективности солнечных элементов.

Оборудование собирается под заказ под Ваши конкретные требования.

Доступные опции:

  • Вакуумные держатели с регулируемой температурой для подложек, суперстратов или упакованных устройств.
  • Программируемые источники смещающего излучения для одного или нескольких каналов, включая согласованный источник смещения стандарта AM1.5.
  • Смещение напряжения для оценки многопереходных ячеек и некоторых тонкопленочных устройств.
  • Определение отражения / пропускания на базе интегрирующих сфер для измерения внутренней квантовой эффективности (IQE,%).
  • Моторизованный XY столик для измерения однородности устройства.
  • Определение характеристик флуоресцентных материалов со вторым монохроматором.
  • Электрический зонд с заказчными характеристиками.
  • Датчик температуры.
  • Контроль энергетической освещенности зондирующего луча.
  • Высокопроизводительный монохроматический источник света.

Назад к разделу

Мой заказ