ГлавнаяКаталогСпектральные системы и комплексыАнализ параметров солнечных батарей и фотовольтаикиSCS10-Silicon - система измерения квантовой эффективности кремниевых солнечных батарей
SCS10-Silicon - система измерения квантовой эффективности кремниевых солнечных батарей
Система измерения квантовой эффективности для тестирования кремниевых солнечных батарей размером до 156 x 156 мм.
|
Спектральный диапазон |
300 – 1100 нм |
| Точность | ± 0,2 нм |
|
Размер образца |
156 x 156 мм |
| Диаметр пучка | 2 - 10 мм |
Производитель: ZOLIX
Серия представляет собой многофункциональную экспериментальную платформу, основанную на измерении квантовой эффективности. Система дает возможность автоматического измерения квантовой эффективности и отражения. Существуют также модульные и специально разработанные аксессуары для адаптации системы к различным образцам солнечных элементов.
SCS10-Silicon оборудована также системой отображения данных и системой отслеживания интенсивности падающего света.
- Спектральный диапазон 300 – 1100 нм
- Солнечные ячейки с одним или более соединениями
- Измерение спектрального отклика, EQE, IQE, отражения, плотности тока КЗ
- Тест синхронизации EQE, IQE и отражения
- Размер образца 156 x 156 мм
- Быстрое включение
| Параметр | Значение | Ед. изм. |
|---|---|---|
| Спектральный диапазон | 300-1100 | нм |
| Воспроизводимость | <0,6 | % |
| Время одного измерения | <5 | мин |
| Источник излучения |
Ксеноновый |
|
| Диаметр пятна | 2-10 | мм |
| Решетка | Моторизированная тройная, 200-2500 нм | |
| Светофильтр | Моторизированный фильтр | |
| Спектральная ширина линии | <5, настраиваемая | нм |
| Точность длины волны | 0,2 | нм |
| Частота | 4-400 | Гц |
| Шаг сканирования | 5 нм по умолчанию, 0,05-10 нм опционально | |
| Размер образца | 156х156 | мм |
- Спектральная чувствительность
- Внутренняя квантовая эффективность
- Внешняя квантовая эффективность
- Отражательная спокобность
- Коэффициент пропускания
- Плотность тока короткого замыкания
Мой заказ