BeamOn X-E - КМОП-камера для анализа профиля пучка

BeamOn X-E –  компактная камера для анализа профиля пучка начального уровня.
  • Спектральный диапазон: 350 – 1310 нм.
  • Минимальный диаметр пучка: 30 мкм.
  • Динамический диапазон: 60 дБ.
  • Частота кадров: 50 Гц, до 700 Гц в быстром режиме (8 бит, уменьшение ROI).

Производитель:  DUMA OPTRONICS

Профилометр лазерного излучения BeamOn X-E от компании Duma Optronics является бюджетной камерой с кадровым затвором для базового анализа лазерного пучка. Профилометр представляет собой камеру с CMOS-сенсором формата 1/1.8", работающим в широком диапазона длин волн 350-1310 нм, и встроенное 4-позиционное кольцо светофильтров.

Камера размещается на оптическом стержне, но доступна и stand-alone версия. Профилометр идет в комплекте с удобным программным обеспечения для анализа пучка в реальном режиме времени. Для интеграции в сторонние системы доступен комплект SDK.

Камера может работать в режиме высокой частоты кадров до 700 fps с высокой произвоидтельностью.

Особенности:

  • Разрешение 1 микрон.
  • Минимальный диаметр 30 мкм.
  • Встроенное колесо светофильтров.
  • Частота кадров: 50 fps в стандартном режиме, сотни fps в расширенном режиме.
  • Широкий динамический диапазон 60 дБ.
  • Работа с параллельными (коллимированными пучками).
  • Возможность работы во множестве областей (секций) - анализ VCSEL лазеров.
  • Удобное и гибкое программное обеспечение.
  • Вес всего 300 г.
  • Возможность внешней синхронизации по hardware или по software.

Параметр Значение Ед. Измерения
Тип лазера
CW или импульсный
Тип, формат сенсора CMOS, 1/1.8"  
Размер активной области* 7,4 x 5 мм2
Разрешение измерения диаметра лазерного пучка
выше 1 мкм
Пространственное разрешение
3096 x 2080 пикселей
Диаметр пучка
0,03 – 4,5 мм
Спектральный диапазон
350 – 1310 нм
Возможность разделения сенсора на секции
Наличие, до 400 секций
Динамический диапазон
60 дБ
Разрядность АЦП
8 / 10 / 14 бит
Время интегрирования
от 30 мкс до 2 с
Частота кадров до 50 в стандартном режиме,
до 700 в расширенном режиме
к/с
Размер пикселя
2,4 x 2,4
мкм2
Точность измерения диаметра пучка
±2 %
Разрешение позиционирования 1 мкм
Чувствительность 0,5 на 633 нм,
15000 на 1310 нм
нВт/см2
Насыщение* ~1 Вт/см2
Порог пробоя по мощности 50 Вт/см2
Триггер
встроенный программный
Вычитание фона
автоматическое
Список аксессуаров
ИК фильтр, аттенаютор для мощностей до 20 Вт, аксессуар для двухкратного уменьшения лазерного луча, C-Mount фильтр
Номинальная мощность
2 Вт
Размеры (диаметр x глубина)
63 x 51 мм3
Вес
300 г
Механический интерфейс
Монтаж на стойке: отверстие 8-32 UNC глубиной 6 мм
Минимальные требования к ПК CPU i5 1.6 GHz, 4 GB RAM, разрешение от 1366 x 766  
Интерфейс передачи данных
USB 3.0
Встроенные фильтры
NG4. NG9, NG10
* при использовании фильтров

  • Профилирование лазерных пучков в лабораторных задачах.
  • Мониторинг параметров лазерных пучков на производстве.
  • Производство VCSEL лазеров.

Модель Описание
BEAMON-X-E-FW Камера-профилометр для диапазона 350-1310 нм с моторизированным кольцом светофильтров (NG4, NG9, NG10). В комплекте с программным обеспечением для анализа профиля и положения пучка и защитным кейсом.
BEAMON-X-E Камера-профилометр для диапазона 350-1310 нм. В комплекте с программным обеспечением для анализа профиля и положения пучка и защитным кейсом.
Назад к разделу

Мой заказ