Electro 250 IR - источник суперконтинуума ближнего ИК диапазона с частотой повторения 250 кГц и возможностью внешнего запуска
Electro 250 IR - серия источников суперконтинуума инфракрасного диапазона с возможностью внешнего запуска с помощью TTL сигнала. Диапазон длин волн от 900 до 3000 нм. Средняя мощность >1300 мВт.
Производитель: LEUKOS
Источники суперконтинуума Electro IR с уникальным спектральным диапазоном от 900 до 3000 нм обладают возможностью внешнего запуска с помощью простого TTL сигнала с низким джиттером. Для простоты синхронизации источник обладает внешним триггерным выходом. Electro IR прекрасно подходит для задач, требующих высокую мощность излучения в ближнем ИК диапазоне.
Основные преимущества:
- Широкий спектральный диапазон от 900 до 3000 нм;
- Равномерный спектр;
- Одномодовое излучение;
- Средняя мощность >1300 мВт;
- Частота повторения >250 кГц;
- Гибкий волоконный вывод;
- Ахроматическая коллимация излучения (опция);
- Длительность времени жизни.
- Ахроматический коллимированный вывод;
- Волоконный вывод с модулем Pop;
- Перестраиваемые фильтры: акустооптические, монохроматические, нестандартные.
- Внутренний или внешний триггер;
- Кастомизация спектра;
- Затухание оставшегося пика накачки в спектре суперконтинуума.
Параметр | Значение | Ед.измерения |
---|---|---|
Спектральный диапазон | >900 - <3000 | нм |
Средняя мощность
|
>1300 | мВт |
Частота повторения
|
>250 | кГц |
Длительность импульса | <1 | нс |
Временной джиттер
|
<20 | нс |
Стабильность мощности
|
<±1 | % |
Пространственная мода
|
одномодовый | |
Поляризация
|
неполяризованный | |
Лазерный вывод
|
FC/APC (~1 м армированный кабель) | |
Триггер | внешний или внутренний | |
Выход синхронизации | триггерный выход | |
Коннектор блокировки | 2-pin LEMO | |
Управляющий интерфейс
|
передняя панель и USB | |
Рабочая температура
|
+10 - +40 (без конденсации) | °C |
Вес
|
<8 | кг |
Размеры
|
485х250х134 | мм |
Питание
|
100-240 В, 50-60 Гц |
- Визуализация высокого разрешения;
- Проточная цитометрия;
- Оптическая когерентная томография;
- Микроскопия;
- Исследование характеристик оптических компонентов.