XperRAM-C - бюджетный 3D сканирующий конфокальный рамановский микроскоп

Модульная система для трехмерных рамановских конфокальных измерений. Получение PL/EL спектров и рамановский анализ в одной системе. 

Длина волны лазера 532 нм
Спектральное разрешение 3,1 см-1
Диапазон сканирования 400-1000 нм
Производитель:  NANOBASE

XperRAM-С - облегченная конфигурации системы XperRAM для высококачественного рамановского анализа. Система рассчитана на задачи, в которых достаточно использование одного возбуждающего источника, и отличается от других систем Nanobase меньшими размерами и более низкой ценой. Кроме того, детектор спектрографа-монохроматора, входящего в состав системы, имеет большую чувствительность и меньшие шумы по сравнению с камеры, установленными в других системах производителя.

С помощью данной системы можно измерять спектры комбинационного рассеяния, проводить двумерное и трехмерное сканирование, а также записывать спектры фото- и электролюминесценции.

Программное обеспечение NanoSpectrum отображает высококонтрастные изображения и спектры комбинационного рассеяния и фотолюминесценции и поддерживает вывод данных в форматах .csv, .txt, .spm. Опционально доступны вычисления фототока и TRPL спектров.

Ключевые особенности:

  • возможность измерения спектров различного типа в одном приборе;
  • сменные и вращающиеся VPH (объемные голографические дифракционные решетки);
  • быстрое сканирование на большой площади 200 x 200 мм без перемещения образца;
  • возможность трехмерного рамановского анализа;
  • возможность установки до трех лазеров непрерывного излучения. 

Состав системы:

  • Сканирующий модуль,
  • Микроскоп,
  • Рамановский модуль,
  • Спектрометр (монохроматор-спекрограф),
  • ПЗС камера,
  • Лазер,
  • Набор фильтров,
  • Детектор и электроника,
  • Программное обеспечение NanoSpectrum.

Параметр  Значение  Ед. измерения 
Длина волны лазеров и фильтров 532
нм
Количество лазеров 1 -
Увеличение объектива 40x по умолчанию (10x, 20x, 50x, 100x) -
Числовая апертура объектива 0.75 -
Рабочее расстояние объектива 0,63 мм
Диапазон сканирования лазерного сканирующего модуля 400-1000 нм
Размеры области сканирования 200 × 200 мкм2
Разрешение камеры для видеосъемки 15 Мп
Входная апертура спектрометра f/5 -
Диапазон рамановского сдвига
100-8150 см-1   
Спектральное разрешения  3,1 см-1 
Детектор   ПЗС с задней засветкой  
Разрешение детектора 1931 × 1451 пикселей
Размер пикселя  4,54 × 4,54 мкм2
Темновой ток 0,0002 e-/пиксель/с
Квантовая эффективность в диапазоне 400-1000 нм > 55 %
Доступные решетки (плотность штрихов, длина волны блеска) 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм -

  • Анализ наноматериалов, двухмерных материалов (графен, нанотрубки);
  • Электротехническая промышленность (анализ батарей, кристаллических пластин и т.д.);
  • Биомедицина и химическая промышленность (исследование тканей, клеток, раковых образований, результатов применения лекарственных препаратов);
  • Анализ пищевых продуктов.

 
Система серии XperRAM-C собирается под заказ. Для получения коммерческого предложения на систему предлагаем выбрать:
  • Объектив: 40-кратный с рабочим расстоянием 0,63 мм, 40-кратный с увеличенным рабочим расстоянием, 10-кратный, 20-кратный, 50-кратный, 100-кратный.
  • Решетка спектрографа (можно выбрать любое количество): 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм.
  • Опционально: Модуль для вычисления фототока.

Назад к разделу

Мой заказ