XperRAM-S - 3D сканирующий конфокальный рамановский микроскоп

Модульная система для трехмерных рамановских конфокальных измерений. Получение PL/EL спектров и рамановский анализ в одной системе. 

Длина волны лазера 405 / 532 / 633 / 785 нм на выбор
Спектральное разрешение 2,5 см-1
Диапазон сканирования 400-1000 нм
Производитель:  NANOBASE

XperRAM-S - стандартная система  для высококачественного рамановского анализа. С помощью данной многофункциональной системы можно измерять спектры комбинационного рассеяния, флуоресценции, фото- и электролюминесценции.

Программное обеспечение NanoSpectrum отображает высококонтрастные изображения и спектры комбинационного рассеяния и фотолюминесценции и поддерживает вывод данных в форматах .csv, .txt, .spm. Опционально доступны вычисления фототока и TRPL спектров.

Ключевые особенности:

  • возможность измерения спектров различного типа в одном приборе;
  • сменные и вращающиеся VPH (объемные голографические дифракционные решетки);
  • быстрое сканирование на большой площади 200 x 200 мм без перемещения образца;
  • возможность трехмерного рамановского анализа;
  • возможность установки до трех лазеров непрерывного излучения. 

Состав системы:

  • Сканирующий модуль,
  • Микроскоп,
  • Рамановский модуль,
  • Спектрометр (монохроматор-спекрограф),
  • ПЗС камера,
  • Лазер,
  • Набор фильтров,
  • Детектор и электроника,
  • Программное обеспечение NanoSpectrum.

Параметр  Значение  Ед. измерения 
Длина волны лазеров и фильтров 405; 532; 633; 785 (на выбор)
нм
Количество лазеров до 3 -
Увеличение объектива 40x по умолчанию (10x, 20x, 50x, 100x) -
Числовая апертура объектива 0.75 -
Рабочее расстояние объектива 0,63 мм
Диапазон сканирования лазерного сканирующего модуля 400-1000 нм
Размеры области сканирования 200 × 200 мкм2
Разрешение камеры для видеосъемки 15 Мп
Входная апертура спектрометра f/5 -
Диапазон рамановского сдвига
70-5940
см-1   
Спектральное разрешения  2,5 см-1 
Детектор   ПЗС с задней засветкой  
Разрешение детектора  2000 × 256 пикселей
Размер пикселя   15 × 15 мкм2
Темновой ток 0,033 e-/пиксель/с
Квантовая эффективность в диапазоне 400-1000 нм > 40 %
Доступные решетки (плотность штрихов, длина волны блеска) 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм -

  • Анализ наноматериалов, двухмерных материалов (графен, нанотрубки);
  • Электротехническая промышленность (анализ батарей, кристаллических пластин и т.д.);
  • Биомедицина и химическая промышленность (исследование тканей, клеток, раковых образований, результатов применения лекарственных препаратов);
  • Анализ пищевых продуктов.

 
Система серии XperRAM-S собирается под заказ. Для получения коммерческого предложения на систему предлагаем выбрать:
  • Объектив: 40-кратный с рабочим расстоянием 0,63 мм, 40-кратный с увеличенным рабочим расстоянием, 10-кратный, 20-кратный, 50-кратный, 100-кратный.
  • Лазер (можно выбрать до 3 лазеров): free-space 532 нм, free-space 532 нм для низкочастотных измерений, free-space 405 нм, free-space 633 нм, free-space 785 нм, пикосекундный импульсный лазер 405 нм.
  • Оптический фильтр: PL-фильтр 532 нм, PL-фильтр 532 нм для низкочастотных измерений, PL-фильтр 405 нм, PL-фильтр 633 нм, PL-фильтр 785 нм.
  • Решетка спектрографа (можно выбрать любое количество): 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм.
  • Опционально: Модуль для вычисления фототока.

Назад к разделу

Мой заказ