XperRAM-S - 3D сканирующий конфокальный рамановский микроскоп
- Длина волны лазера: 405 / 532 / 633 / 785 / 1064 нм на выбор
- Количество лазеров: до 3.
- Спектральное разрешение: 2,5 см-1
- Решетки на выбор (900 нм, 300 штр/мм; 600 нм, 600 штр/мм; 840 нм, 1200 штр/мм; 532 нм, 1800 штр/мм; 450 нм, 2400 штр/мм)
- Область сканирования: 200 мкм x 200 мкм.
XperRAM-S – модульная система высококачественного рамановского анализа и флуоресцентной корреляционной спектроскопии. С помощью данной многофункциональной системы можно измерять спектры комбинационного рассеяния, производить конфокальное/трехмерное рамановское картирование, измерять фото- и электролюминесценцию. Данные. полученные с помощью системы, могут использоваться в самых разных областях: от биологических исследований до анализа эффективности солнечных элементов.
Программное обеспечение NanoSpectrum отображает высококонтрастные изображения и спектры комбинационного рассеяния и фотолюминесценции и поддерживает вывод данных в форматах .csv, .txt, .spm.
Рамановская система XperRAM-S может быть интегрирована в имеющуюся установку, если в ней уже имеются: лазер, микроскоп, спектрометр, детектор. Система может быть оснащена дополнительными опциями, такими как модуль измерения времени жизни люминисценции, модуль измерения фототока, SERS подложки и т.д.
Сканирование (мэппинг сигнала комбинационного рассеяния)
Ключевые особенности:
- возможность измерения спектров различного типа в одном приборе;
- сменные и вращающиеся VPH (объемные голографические дифракционные решетки);
- быстрое сканирование на большой площади 200 x 200 мм без перемещения образца;
- возможность трехмерного рамановского анализа;
- возможность установки до трех лазеров непрерывного излучения;
- охлаждаемый до -50°C детектор.
Состав системы:
- Сканирующий модуль (может быть заменен модулем точечных измерений).
- Микроскоп: прямой или инвертированный.
- Объективы(40X по умолчанию, 10X, 20X, 50X, 100X, 40x с длинным рабочим расстоянием).
- Платформа системы (основной корпус).
- Спектрометр (монохроматор-спекрограф) со сходной апертурой f/5 и фокусным расстоянием 200 мм, дифракционные решетки на выбор.
- ПЗС детектор 2000*256 пикселей.
- Лазер/лазеры.
- Набор фильтров.
- Электроника.
- Программное обеспечение NanoSpectrum.
- Программное обеспечение NanoViewer.
Преимущество: высокая эффективность
Использование VPH (объемных голографических решеток) в спектрометре системы XperRF (XPE200) позволяет добиться значения максимальной пиковой эффективности 90%. Стандартные отражающие решетки имеют пиковую эффективность около 70%.
Спектрометр XPE200 оснащен высокочувствительным OEM CCD-детектором производства ANDOR, разработанным для обеспечения высокой эффективности. Данный детектор имеет высокое разрешение и низкий темновой ток.
Преимущество: быстрое сканирование в широкой области
Реализация широких возможностей быстрого лазерного сканирования с использованием одного гальвано-зеркала максимизирует эффективность сканирования и помогает пользователю увидеть более широкий спектр данных рамановского сигнала.
Параметр | Значение | Ед. измерения |
---|---|---|
Длина волны лазеров и фильтров |
405; 532; 633; 785 (на выбор) |
нм |
Количество лазеров | до 3 | - |
Увеличение объектива | 40x по умолчанию (10x, 20x, 50x, 100x) | - |
Числовая апертура объектива | 0.75 | - |
Рабочее расстояние объектива | 0,63 | мм |
Диапазон сканирования лазерного сканирующего модуля | 400-1000 | нм |
Размеры области сканирования | 200 × 200 | мкм2 |
Разрешение камеры для видеосъемки | 15 | Мп |
Входная апертура спектрометра | f/5 | - |
Диапазон рамановского сдвига |
70-5940 |
см-1 |
Спектральное разрешения | 2,5 | см-1 |
Детектор | ПЗС с задней засветкой | |
Разрешение детектора | 2000 × 256 | пикселей |
Размер пикселя | 15 × 15 | мкм2 |
Темновой ток | 0,033 | e-/пиксель/с |
Квантовая эффективность в диапазоне 400-1000 нм | > 40 | % |
Доступные решетки (плотность штрихов, длина волны блеска) | 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм | - |
- Анализ наноматериалов, двухмерных материалов (графен, нанотрубки).
- Электротехническая промышленность (анализ батарей, кристаллических пластин и т.д.).
- Биомедицина и химическая промышленность (исследование тканей, клеток, раковых образований, результатов применения лекарственных препаратов).
- Анализ пищевых продуктов.
- Объектив: 40-кратный с рабочим расстоянием 0,63 мм, 40-кратный с увеличенным рабочим расстоянием, 10-кратный, 20-кратный, 50-кратный, 100-кратный.
- Лазер (можно выбрать до 3 лазеров): free-space 532 нм, free-space 532 нм для низкочастотных измерений, free-space 405 нм, free-space 633 нм, free-space 785 нм, импульсный лазер 405 нм, лазер с волоконным выводом 785 нм.
- Оптический фильтр: PL-фильтр 532 нм, PL-фильтр 532 нм для низкочастотных измерений, PL-фильтр 405 нм, PL-фильтр 633 нм, PL-фильтр 785 нм.
- Решетка спектрографа (можно выбрать любое количество): 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм.
- Опционально: Модуль для вычисления фототока.