XperRAM-S - 3D сканирующий конфокальный рамановский микроскоп

Модульная система для комплексного анализа материалов, объединяющая конфокальную рамановскую спектроскопию и флуоресцентный анализ.
  • Длина волны лазера: 405 / 532 / 633 / 785 / 1064 нм на выбор
  • Количество лазеров: до 3.
  • Спектральное разрешение: 2,5 см-1
  • Решетки на выбор (900 нм, 300 штр/мм; 600 нм, 600 штр/мм; 840 нм, 1200 штр/мм; 532 нм, 1800 штр/мм; 450 нм, 2400 штр/мм)
  • Область сканирования: 200 мкм x 200 мкм.
Производитель:  NANOBASE

XperRAM-S – модульная система высококачественного рамановского анализа и флуоресцентной корреляционной спектроскопии. С помощью данной многофункциональной системы можно измерять спектры комбинационного рассеяния, производить конфокальное/трехмерное рамановское картирование, измерять фото- и электролюминесценцию. Данные. полученные с помощью системы, могут использоваться в самых разных областях: от биологических исследований до анализа эффективности солнечных элементов.

Программное обеспечение NanoSpectrum отображает высококонтрастные изображения и спектры комбинационного рассеяния и фотолюминесценции и поддерживает вывод данных в форматах .csv, .txt, .spm. 

Рамановская система XperRAM-S может быть интегрирована в имеющуюся установку, если в ней уже имеются: лазер, микроскоп, спектрометр, детектор. Система может быть оснащена дополнительными опциями, такими как модуль измерения времени жизни люминисценции, модуль измерения фототока, SERS подложки и т.д.

Сканирование (мэппинг сигнала комбинационного рассеяния) 

Ключевые особенности:

  • возможность измерения спектров различного типа в одном приборе;
  • сменные и вращающиеся VPH (объемные голографические дифракционные решетки);
  • быстрое сканирование на большой площади 200 x 200 мм без перемещения образца;
  • возможность трехмерного рамановского анализа;
  • возможность установки до трех лазеров непрерывного излучения;
  • охлаждаемый до -50°C детектор.

Состав системы:

  • Сканирующий модуль (может быть заменен модулем точечных измерений).
  • Микроскоп: прямой или инвертированный.
  • Объективы(40X по умолчанию, 10X, 20X, 50X, 100X, 40x с длинным рабочим расстоянием).
  • Платформа системы (основной корпус).
  • Спектрометр (монохроматор-спекрограф) со сходной апертурой f/5 и фокусным расстоянием 200 мм, дифракционные решетки на выбор.
  • ПЗС детектор 2000*256 пикселей.
  • Лазер/лазеры.
  • Набор фильтров.
  • Электроника.
  • Программное обеспечение NanoSpectrum.
  • Программное обеспечение NanoViewer.

Преимущество: высокая эффективность

Использование VPH (объемных голографических решеток) в спектрометре системы XperRF (XPE200) позволяет добиться значения максимальной пиковой эффективности 90%. Стандартные отражающие решетки имеют пиковую эффективность около 70%.

Grating-Type-Comparison.png


Спектрометр XPE200 оснащен высокочувствительным OEM CCD-детектором производства ANDOR, разработанным для обеспечения высокой эффективности. Данный детектор имеет высокое разрешение и низкий темновой ток.

XPE200-CCD-Features.png

Преимущество: быстрое сканирование в широкой области

Реализация широких возможностей быстрого лазерного сканирования с использованием одного гальвано-зеркала максимизирует эффективность сканирования и помогает пользователю увидеть более широкий спектр данных рамановского сигнала.

Nanobase-Scanning-Module-Structure.png


Параметр  Значение  Ед. измерения 
Длина волны лазеров и фильтров 405; 532; 633; 785 (на выбор)
нм
Количество лазеров до 3 -
Увеличение объектива 40x по умолчанию (10x, 20x, 50x, 100x) -
Числовая апертура объектива 0.75 -
Рабочее расстояние объектива 0,63 мм
Диапазон сканирования лазерного сканирующего модуля 400-1000 нм
Размеры области сканирования 200 × 200 мкм2
Разрешение камеры для видеосъемки 15 Мп
Входная апертура спектрометра f/5 -
Диапазон рамановского сдвига
70-5940
см-1   
Спектральное разрешения  2,5 см-1 
Детектор   ПЗС с задней засветкой  
Разрешение детектора  2000 × 256 пикселей
Размер пикселя   15 × 15 мкм2
Темновой ток 0,033 e-/пиксель/с
Квантовая эффективность в диапазоне 400-1000 нм > 40 %
Доступные решетки (плотность штрихов, длина волны блеска) 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм -

  • Анализ наноматериалов, двухмерных материалов (графен, нанотрубки).
  • Электротехническая промышленность (анализ батарей, кристаллических пластин и т.д.).
  • Биомедицина и химическая промышленность (исследование тканей, клеток, раковых образований, результатов применения лекарственных препаратов).
  • Анализ пищевых продуктов.

 
Система серии XperRAM-S собирается под заказ. Для получения коммерческого предложения на систему предлагаем выбрать:
  • Объектив: 40-кратный с рабочим расстоянием 0,63 мм, 40-кратный с увеличенным рабочим расстоянием, 10-кратный, 20-кратный, 50-кратный, 100-кратный.
  • Лазер (можно выбрать до 3 лазеров): free-space 532 нм, free-space 532 нм для низкочастотных измерений, free-space 405 нм, free-space 633 нм, free-space 785 нм, импульсный лазер 405 нм, лазер с волоконным выводом 785 нм.
  • Оптический фильтр: PL-фильтр 532 нм, PL-фильтр 532 нм для низкочастотных измерений, PL-фильтр 405 нм, PL-фильтр 633 нм, PL-фильтр 785 нм.
  • Решетка спектрографа (можно выбрать любое количество): 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм.
  • Опционально: Модуль для вычисления фототока.

Назад к разделу

Мой заказ