XperRF - 3D сканирующий конфокальный рамановский микроскоп с функцией FLIM

XperRF - модульная система высококачественного рамановского анализа и флуоресцентной корреляционной спектроскопии. С помощью данной многофункциональной системы можно измерять спектры комбинационного рассеяния, время затухания флуоресценции, а также спектры фото- и электролюминесценции. Данные. полученные с помощью системы XperRF, могут использоваться в самых разных областях: от биологических исследований до анализа эффективности солнечных элементов.

Основной особенностью системы является использование совместно с конфокальной рамановской спектроскопией методики TRPL (время-разрешенная фотолюминисценция) для измерения времен жизни носителей заряда в образце. TRPL является общим термином, тогда как FLIM и TCSPC являются специальными методиками измерения времени жизни люминесценции, оба типа данных измерений реализованные в приборе.

FLIM или микроскопия визуализации времени жизни флуоресценции  – это методика, предлагающаяся в виде отдельного модуля, предназначенного для получения изображения на основе различий в скорости экспоненциального затухания флуоресценции флуоресцентного образца. Время жизни флуоресценции в данном случае определяется во временной области с помощью импульсного лазера. Когда популяция флуорофоров возбуждается ультракоротким импульсом света, флуоресценция с временным разрешением затухает экспоненциально. Проводя измерения времени жизни флуоресценции для каждой точки, мы можем проводить мэппинг (сканирование).

Данные TRPL и данные комбинационного рассеяния показывают корреляцию.

Программное обеспечение NanoSpectrum отображает высококонтрастные изображения и спектры комбинационного рассеяния и фотолюминесценции и поддерживает вывод данных в форматах .csv, .txt, .spm. Опционально доступны вычисления фототока и TRPL спектров.

Сканирование (мэппинг сигнала комбинационного рассеяния) 

Ключевые особенности:

• возможность измерения спектров различного типа в одном приборе;
• сменные и вращающиеся VPH (объемные голографические дифракционные решетки);
• быстрое сканирование на большой площади 200 x 200 мм без перемещения образца;
• возможность трехмерного рамановского анализа;
• возможность установки до трех лазеров непрерывного излучения. 

Состав системы:

• Сканирующий модуль (может быть заменен модулем точечных измерений).
• Микроскоп: прямой или инвертированный.
• Объективы(40X по умолчанию, 10X, 20X, 50X, 100X, 40x с длинным рабочим расстяонием).
• Платформа системы (основной корпус).
• Спектрометр (монохроматор-спекрограф) со сходной апертурой f/5 и фокусным расстяонием 200 мм, дифракционные решетки на выбор.
• ПЗС детектор 2000*256 пикселей.
• Лазер/лазеры.
• Набор фильтров.
• Электроника.
• Модуль TCSPC, включающий в себя пикосекундный импульсный лазер с управляющим блоком, лавинный детектор, синхронизирующую электронику и ВЧ платформу.
• Программное обеспечение NanoSpectrum.
  
• Программное обеспечение NanoViewer.

Преимущество: высокая эффективность

Использование VPH (объемных голографических решеток) в спектрометре системы XperRF (XPE200) позволяет добиться значения максимальной пиковой эффективности 90%. Стандартные отражающие решетки имеют пиковую эффективность около 70%.

Спектрометр XPE200 оснащен высокочувствительным OEM CCD-детектором производства ANDOR, разработанным для обеспечения высокой эффективности. Данный детектор имеет высокое разрешение и низкий темновой ток.

Преимущество: быстрое сканирование в широкой области

Реализация широких возможностей быстрого лазерного сканирования с использованием одного гальвано-зеркала максимизирует эффективность сканирования и помогает пользователю увидеть более широкий спектр данных рамановского сигнала.