XperRF - 3D сканирующий конфокальный рамановский микроскоп с функцией FLIM

Модульная система для комплексного анализа материалов, объединяющая конфокальную рамановскую спектроскопию, флуоресцентный анализ и модуль измерения TRPL.

  • Длина волны лазера: 405 / 532 / 633 / 785 / 1064 нм на выбор
  • Количество лазеров: до 3
  • Спектральное разрешение: 2,5 см-1
  • Диапазон сканирования: 400-1000 нм
  • Диапазон рамановского сдвига: 70-5940 см-1

Производитель:  NANOBASE

XperRF - модульная система высококачественного рамановского анализа и флуоресцентной корреляционной спектроскопии. С помощью данной многофункциональной системы можно измерять спектры комбинационного рассеяния, время затухания флуоресценции, а также спектры фото- и электролюминесценции. Данные. полученные с помощью системы XperRF, могут использоваться в самых разных областях: от биологических исследований до анализа эффективности солнечных элементов.

Основной особенностью системы является использование совместно с конфокальной рамановской спектроскопией методики TRPL (время-разрешенная фотолюминисценция) для измерения времен жизни носителей заряда в образце. TRPL является общим термином, тогда как FLIM и TCSPC являются специальными методиками измерения времени жизни люминесценции, оба типа данных измерений реализованные в приборе.

FLIM или микроскопия визуализации времени жизни флуоресценции  – это методика, предлагающаяся в виде отдельного модуля, предназначенного для получения изображения на основе различий в скорости экспоненциального затухания флуоресценции флуоресцентного образца. Время жизни флуоресценции в данном случае определяется во временной области с помощью импульсного лазера. Когда популяция флуорофоров возбуждается ультракоротким импульсом света, флуоресценция с временным разрешением затухает экспоненциально. Проводя измерения времени жизни флуоресценции для каждой точки, мы можем проводить мэппинг (сканирование).

Данные TRPL и данные комбинационного рассеяния показывают корреляцию.

Data-Comparison-TRPL-Raman.png

Программное обеспечение NanoSpectrum отображает высококонтрастные изображения и спектры комбинационного рассеяния и фотолюминесценции и поддерживает вывод данных в форматах .csv, .txt, .spm. Опционально доступны вычисления фототока и TRPL спектров.

Сканирование (мэппинг сигнала комбинационного рассеяния) 

Ключевые особенности:

  • возможность измерения спектров различного типа в одном приборе;
  • сменные и вращающиеся VPH (объемные голографические дифракционные решетки);
  • быстрое сканирование на большой площади 200 x 200 мм без перемещения образца;
  • возможность трехмерного рамановского анализа;
  • возможность установки до трех лазеров непрерывного излучения. 

Состав системы:

  • Сканирующий модуль (может быть заменен модулем точечных измерений).
  • Микроскоп: прямой или инвертированный.
  • Объективы(40X по умолчанию, 10X, 20X, 50X, 100X, 40x с длинным рабочим расстяонием).
  • Платформа системы (основной корпус).
  • Спектрометр (монохроматор-спекрограф) со сходной апертурой f/5 и фокусным расстяонием 200 мм, дифракционные решетки на выбор.
  • ПЗС детектор 2000*256 пикселей.
  • Лазер/лазеры.
  • Набор фильтров.
  • Электроника.
  • Модуль TCSPC, включающий в себя пикосекундный импульсный лазер с управляющим блоком, лавинный детектор, синхронизирующую электронику и ВЧ платформу.
  • Программное обеспечение NanoSpectrum.
  • Программное обеспечение NanoViewer.

Преимущество: высокая эффективность

Использование VPH (объемных голографических решеток) в спектрометре системы XperRF (XPE200) позволяет добиться значения максимальной пиковой эффективности 90%. Стандартные отражающие решетки имеют пиковую эффективность около 70%.

Grating-Type-Comparison.png


Спектрометр XPE200 оснащен высокочувствительным OEM CCD-детектором производства ANDOR, разработанным для обеспечения высокой эффективности. Данный детектор имеет высокое разрешение и низкий темновой ток.

XPE200-CCD-Features.png

Преимущество: быстрое сканирование в широкой области

Реализация широких возможностей быстрого лазерного сканирования с использованием одного гальвано-зеркала максимизирует эффективность сканирования и помогает пользователю увидеть более широкий спектр данных рамановского сигнала.

Nanobase-Scanning-Module-Structure.png


Параметр  Значение  Ед. измерения 
Длина волны лазеров и фильтров 405; 532; 633; 785; 1064 (на выбор)
нм
Количество лазеров до 3 -
Увеличение объектива 40x по умолчанию (10x, 20x, 50x, 100x) -
Числовая апертура объектива 0.75 -
Рабочее расстояние объектива 0,63 мм
Диапазон сканирования лазерного сканирующего модуля 400-1000 нм
Размеры области сканирования 200 × 200 мкм2
Разрешение камеры для видеосъемки 15 Мп
Входная апертура спектрометра f/5 -
Диапазон рамановского сдвига
70-5940
см-1   
Спектральное разрешения  2,5 см-1 
Детектор   ПЗС с задней засветкой  
Разрешение детектора  2000 × 256 пикселей
Размер пикселя   15 × 15 мкм2
Темновой ток 0,033 e-/пиксель/с
Квантовая эффективность в диапазоне 400-1000 нм > 40 %
Доступные решетки (плотность штрихов, длина волны блеска) 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм -

  • Анализ наноматериалов, двухмерных материалов (графен, нанотрубки);
  • Электротехническая промышленность (анализ батарей, кристаллических пластин и т.д.);
  • Биомедицина и химическая промышленность (исследование тканей, клеток, раковых образований, результатов применения лекарственных препаратов);
  • Анализ пищевых продуктов.

 
Система серии XperRF собирается под заказ. Для получения коммерческого предложения на систему предлагаем выбрать:
  • Объектив: 40-кратный с рабочим расстоянием 0,63 мм, 40-кратный с увеличенным рабочим расстоянием, 10-кратный, 20-кратный, 50-кратный, 100-кратный.
  • Лазер (можно выбрать до 3 лазеров): free-space 532 нм, free-space 532 нм для низкочастотных измерений, free-space 405 нм, free-space 633 нм, free-space 785 нм, пикосекундный импульсный лазер 405 нм.
  • Оптический фильтр: PL-фильтр 532 нм, PL-фильтр 532 нм для низкочастотных измерений, PL-фильтр 405 нм, PL-фильтр 633 нм, PL-фильтр 785 нм.
  • Решетка спектрографа (можно выбрать любое количество): 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм.
  • Опционально: TCSPC плата с РЧ платформой и временным переключением, счетчик одиночных фотонов.


Мой заказ