Luna 6415 - OFDR анализатор световодных компонентов
Luna 6415 - это быстрый и простой в использовании анализатор для пассивных световодных оптических компонентов и модулей с использованием технологий OFDR-рефлектометрии.
Luna 6415 измеряет и анализирует распределение вносимых потерь (IL) и обратных потерь (RL), а также длину световода, работая в режиме отражения или передачи.
Luna 6415 измеряет и анализирует распределение вносимых потерь (IL) и обратных потерь (RL), а также длину световода, работая в режиме отражения или передачи.
- Пространственное разрешение 20 мкм.
- Дистанция измерения 20 м (на отражение) и 40 м (на пропускание).
- Динамический диапазон (RL) 70 дБ.
- Чувствительность -135 дБ.
- Диапазон длин волн 1525 - 1565 нм (C-диапазон).
- Скорость измерений 6 Гц.
Производитель: LUNA
Luna 6415 использует технологию оптической рефлектометрии в частотной области (OFDR) для измерения уровня обратного рассеянного или переданного оптического сигнала в зависимости от расстояния. Luna 6415 снижает стоимость и сложность тестирования, одновременно увеличивая скорость измерений, измеряя RL, IL и длину в отражении или в передаче с помощью одного прибора.
Основные особенности:
- Анализ обратных потерь (RL) и вносимых потерь (IL).
- Трассировка распределенных по длине оптического пути обратных потерь (RL).
- Спектральный анализ обратных потерь (RL) и вносимых потерь (IL).
- Обнаружение отражающих событий и точное измерение длины световода.
- Скорость, разрешение и точность для оптимизации тестирования на производстве:
- пространственное разрешение 20 мкм;
- дистанция измерения 20 (40) м;
- частота сканирования / измерения 6 Гц.
Параметр | Значение | Ед. измерения | |
---|---|---|---|
Измерение | |||
Пространственное разршение1 |
20 | мкм | |
Точность время-пролетной задержки2 |
± 0,0034 | % | |
Максимальная длина световода | В режиме на отражение | 20 | м |
В режиме на пропускание | 40 | м | |
Диапазон длин волн | 40 | нм | |
Точность длины волны2 |
1,5 | пм | |
Центральная длина волны | 1546,69 | нм | |
Скорость измерения | 6 | Гц | |
Максимальная оптическая мощность | 5 | мВт | |
Параметры измерения обратных потерь (Режим на отражение) | |||
Динамический диапазон RL3 |
70 | дБ | |
Полный диапазон4 |
от 0 до -130 | дБ | |
Чувствительность4 |
-135 | дБ | |
Разрешение5 |
± 0,1 | дБ | |
Точность5 |
± 0,5 | дБ | |
Параметры измерения вносимых потерь (Режим на пропускание) | |||
Динамический диапазон IL в режиме на пропускание | 70 | дБ | |
Динамический диапазон IL в режиме на отражение6 |
15 | дБ | |
Разрешение7 |
± 0,1 | дБ | |
Точность7 |
± 0,2 | дБ | |
Физические характеристики прибора | |||
Тип оптического коннектора | FC/APC | - | |
Максимальная потребляемая мощность | 50 | Вт | |
Вес прибора (без учета ПК) | 6 | кг |
Комментарии:
- Дистанция между двумя точками вдоль оси длины в SMF-28.
- Точность поддерживается внутренней NIST-сертифицированной газовой ячейкой HCN.
- Диапазон между самым сильным отражением (больше -60 дБ) и уровнем шума.
- Уровень шума на половине максимальной длины.
- Измеряется с шириной интегрирования 1 см.
- Двусторонние потери до обратного рассеяния достигает минимального уровня шума и IL.
- Измеряется с шириной интегрирования 10 см.
Анализатор Luna 6415 для исследований и разработок в области интегральной фотоники
Luna 6415 обеспечивает комплексное и высокоскоростное тестирование, необходимое для современной кремниевой фотоники и фотонных интегральных схем (ФИС) на основе других материалов:
- Измерение на передачу и отражение.
- Спектральный анализ потерь на передачу и обратных потерь (RL).
- Анализ распределенных обратных потерь (RL) в зависимости от длины - легко измерить рассеяние в световоде.
- Высокое пространственное разрешение (20 мкм).
Производительность технологии OFDR от Luna для производства оптических компонентов
Совмещая в одном приборе измерение световода на отражение и передачу, Luna 6415 обеспечивает максимальное детальное тестирование Вашего компонента. Luna 6415 упрощает Ваши производственные испытания благодаря встроенному перестраиваемому лазерному источнику, автоматизированным расчетам IL и RL, самокалибровке и высокой скорости сканирования для повышения скорости испытаний.Области применения:
- Пространственный анализ обратных потерь (RL).
- Автоматизированное тестирование и анализ вносимых потерь (IL).
- Измерения с пикосекундным временным разрешением.
- Тестирование световодных (фотонных) компонентов и устройств: PLC, AWG, ROADM и пр.
- Тестирование волоконно-оптических компонентов и устройств: разветвители, переключатели, ВБР и пр.