EasyCheck Dual Magnification - система проверки торцевой поверхности оптического волокна с двумя значениями увеличения

EasyCheck Dual Magnification - система для анализа торцов оптического волокна с двумя значениями увеличения.
  • Система анализа торцов оптического волокна с двойным увеличением. 
  • Одновременное отображение на двух экранах. 
  • Высокая стабильность. 
  • Увеличение 400X/200X, 200X/80Х.
  • Поддержка SD-карт, внешних накопителей USB и передачи данных по сети.
Производитель:  DIMENSION

EasyCheck Dual Magnification - система для анализа торцов оптического волокна, предназначенная для быстрого и эффективного контроля качества торцевых поверхностей волокна с двумя типами увеличения. Изображение одновременно отображается на двух экранах, что делает проверку торцевых поверхностей волокна более быстрой, а также повышает эффективность проверки.

Особенности:
  • Два значения увеличения. Сфокусировавшись один раз может отображать поверхность с увеличением 200Х и 80Х или 400Х и 200Х. Настройка увеличения может регулироваться с помощью кнопки, либо с помощью ножного переключателя (опционально).
  • Отличное качество изображения. Система использует цифровую визуализацию, чтобы улучшить разрешение изображения и уменьшить шум, это позволяет получить более четкое изображение и высокий контраст дефектов на торцах волокна.
  • Огромное количество адаптеров для проверки различных оптоволоконных разъемов, приемопередатчиков, TOSA/ROSA и др.
  • Высокая четкость изображения.
  • Поддержка SD-карт, внешних накопителей USB и передачи данных по сети. 

Параметр Значение Ед.измерения

EC400/200KC EC200/80KML
Увеличение 400Х/200Х 200Х/80Х
Регулировка по осям XY да
Метод фокусировки ручной
Вывод изображения цифровой AV
Дисплей 8”TFT 800x600 пикс
Интерфейсы 3xUSB, 1xSD, 1xEthernet -
Мощность 3 Вт
Рабочая температура -10..+40
Температура хранения -20..+55
Источник питания 12 В
Вес 1,6 кг
Размер 270х245х155 мм

  • Анализ оптоволоконных коннекторов, трансиверов, TOSA/ROSA и др.

Модель Описание
EC200/80KML Cистема проверки торцевой поверхности волокна с двумя значениями увеличения. Увеличение 200X/80Х. Анализ коннекторов, трансиверов, TOSA/ROSA и др.
EC400/200KC Cистема проверки торцевой поверхности волокна с двумя значениями увеличения. Увеличение 400X/200Х. Анализ коннекторов.
Назад к разделу

Мой заказ