Зондовые станции для интегральной фотоники и оптоэлектроники

 
NanoTest - зондовая станция для тестирования интегрально-оптических схем
NanoTest - зондовая станция для тестирования интегрально-оптических схем Тестирование параметров ИОС на пластине или в рамках отдельного чипа. включает в себя различные модули для работы в волоконно-оптическими элементами, решающие различные задачи. Осуществляет комбинацию различных этапов процесса. Имеет возможность реконфигурации.
Заказать
SD100 - зондовая станция для тестирования интегрально-оптических схем
SD100 - зондовая станция для тестирования интегрально-оптических схем Тестирование большого количества ИОС на одном чипе. Автоматическое позиционирование. Позиционирование волокна с большой величиной перемещения. Совместимость с различным измерительным оборудованием. Интуитивно понятный интерфейс. 
Заказать
MD100 - зондовая станция для тестирования интегрально-оптических схем
MD100 - зондовая станция для тестирования интегрально-оптических схем Тестирование большого количества ИОС на нескольких чипах. Автоматическое позиционирование. Позиционирование волокна с большой величиной перемещения. Совместимость с различным измерительным оборудованием. Интуитивно понятный интерфейс. 
Заказать
Зондовые станции nanosystec (Германия) и Maple Leaf Photonics (США) позволяют автоматические выполнять тест интегрально-оптических схем и устройств, произведённых на пластинах с диаметром до 12 дюймов. Автоматический анализ включает сканирование, выполнение вертикального (через дифракционную решётку) и торцевого ввода/вывода оптического излучения и, при необходимости, использование зонда для подвода электрического сигнала.
Назад к разделу
Фильтр
Производитель

Мой заказ