ZURICH INSTRUMENTS

Zurich Instruments (Швейцария) – компания, которая производит передовые инструменты для ученых и технологов, работающих в передовых лабораториях и увлечены явлениями, которые трудно измерить. Zurich Instruments была основана в апреле 2008 года доктором Садиком Хафизовичем, доктором Флавио Хиером и Бит Хофштеттером в качестве дочернего предприятия Швейцарского Федерального Технологического Института (ETH Zurich).

Основной принцип построения приборов Zurich Instruments - интеграция современной аналоговой электроники, высокоточной цифровой обработки сигналов, инновационного программного обеспечения и интуитивно понятных пользовательских интерфейсов в линейку продуктов. Измерительные системы Zurich Instruments используются в широком диапазоне требовательных применений по всему миру, вдохновленных лидерами в области научных и промышленных исследований и разработок.


Основная линейка продукции Zurich Instruments:

  • Цифровые синхронные усилители электрического сигнала с частотой до 600 МГц,
  • Цифровые анализаторы импеданса и прецизионные измерители иммитанса, охватывающие диапазон измерений от 1 мОм до 1 ТОм,
  • Генераторы сигнала произвольной формы с частотой до 600 МГц,
  • Системы высокоточной фазовой автоподстройки частоты,
  • Системы высокоскоростной синхронной оцифровки сигналов,
  • Системы обеспечения квантовых вычислений: квантовые анализаторы и контроллеры.


Применения для оптики и фотоники:

  • Спектроскопия комбинационного рассеивания (Raman),
  • Измерения с оптическими прерывателями (optical choppers),
  • Системы фазовой автоподстройки частоты,
  • Спектроскопия методом накачки-зондирования (pump-probe),
  • Фотолюминисценция,
  • ТГц время-разрешенная спектроскопия,
  • Спектроскопия насыщения с использованием перестраиваемых лазерных диодов.


Применения для современных квантовых технологий:

  • Квантовые вычисления с сверхпроводящими кубитами,
  • Квантовые вычисления с ионными ловушками,
  • Квантовые вычисления с использование спинов.


Применения для сканирующей зондовой микроскопии:

  • Беcконтактная атомно-силовая микроскопия (NC-AFM),
  • Многочастотная атомно-силовая микроскопия,
  • Террагерцовая ближнепольная сканирующая микроскопия (SNOM),
  • Двухчастотная резонансная сканирующая атомно-силовая микроскопия (DFRT),
  • Время-разрешенная сканирующая зондовая микроскопия.


Применения для измерения импеданса:

  • Релаксационная спектроскопия дефектов в полупроводниках (DLTS),
  • Детектирование и сортировка одиночных клеток в мирокопотоках (microfluidics).


Применения для нанотехнологий и материаловедения:

  • Измерения эффекта Холла,
  • Исследование электронного парамагнитного резонанса (EPR),
  • Измерение переменной магнитной восприимчивости,
  • Измерение подвижности носителей заряда,
  • Идентификация одиночных молекул.
 

Применения для полупроводников и инженерных разработок:

  • Лазерное электрическое зондирование (LVP) и лазерная электрическая визуализация (LVI) тестируемых полупроводников,
  • Тестирование сенисибилизированных красителем солнечных батарей (DSC),
  • Тестирование и характеризация полупроводниковых чипов.

Компания «Специальные Системы. Фотоника» является партнером компании Zurich Instruments и оказывает техническую поддержку по всей линейке продукции Zurich Instruments на территории России и Таможенного Союза.

Вы можете получить любую дополнительную информацию о продукции и технологиях Zurich Instruments, обратившись к специалистам нашей компании.


Возврат к списку
Мой заказ