JumperRun - cистема тестирования оптических коннекторов с возможностью измерения прямых и обратных потерь

  • Разрешение 0,29 мкм.
  • Время измерения до 7 с.
  • Совместимость с различными оптическими коннекторами.
  • Беспроблемное интегрирование с системами автоматизированного тестирования.
  • Полностью автоматизированное тестирование для IL, RL, 3D интерферометрии.


Производитель:  DIMENSION

Система JumperRun дает возможность пользователю быстро обнаруживать и автоматически анализировать дефекты поверхности оптических коннекторов. Более того, система предлагает автоматическое тестирование 3D интерферометрии, а также вносимых (IL) и обратных потерь (RL). Объединяя эти возможности, JumperRun оптимизирует процесс тестирования, делая его быстрее, удобнее и эффективнее.

 Особенности:

  • Анализ 3D профиля торцевых поверхностей.
  • Высокая скорость измерения.
  • Надежная передача данных.
Основные преимущества:
  • Поддержка высокоскоростного тестирования различных типов оптических патчкордов, включая типы А-А и A-B.
  • 2D+3D визуальный контроль торцевых поверхностей и измерение потерь.
  • Возможность выполнять несколько одновременных тестирований, что сокращает общее время тестирования и улучшает производственную эффективность.
  • Проведение различных тестирований без необходимости переключать тестируемый коннектор в другой разъем.
  • Система JumperRun имеет удобную функцию сохранения отчетов, что позволяет максимально автоматизировать процесс тестирования.


Основные параметры:

Параметр Значение  Ед.измерения 
Тестирование Endface, 3D, IL, RL -
Разрешение 0,29 мкм 
Погрешность <1 мкм 
Время тестирования 7 с

Основные параметры моделей IRL1112A-1FA и IRL5156A-1FP:

Параметр Значение    Ед.измерения   
Модель IRL1112A-1FA IRL5156A-1FP -
Тип волокна SM 9/125 MM 50/125 или 62,5/125 -
Длина волны 1310/1550 850/1300 нм
Тип источника Лазер Лазер -
Стандарт                      -                    IEC-61280-4-1 -
Стабильность мощности IL ±0,02 (<0,5H)
±0,03 (<8H)
дБ
Точность измерения IL 0~1: ±0,02
1~5: ±0,1
5~45: ±0,2
0~1: ±0,02
1~5: ±0,1
5~25: ±0,5
дБ
Повторяемость IL ±0,02 дБ
Диапазон измерения RL -30 ~ -80 -15 ~ -60  дБ
Точность измерения RL -30 ~ -70: ±1,0
-70 ~ -75: ±2,0
-15 ~ -50: ±1,0
-50 ~ -55: ±2,0   
дБ
Минимальная длина волокна Отражение от обоих концов >50 дБ: 0,6 м
Отражение от обоих концов <50 дБ: 1,5 м
Время тестирования Быстрый режим: 0,8
Нормальный режим: 1,4
с
Разрешение 0,01 дБ
Питание AC90 ~ 260В/50Гц -
Время на разогрев (в зависимости от температуры
хранения)
30 мин
Время работы до рекалибровки 2 год
Рабочий диапазон температур 10 ~ 40 °С
Диапазон температур хранения -40 ~ 70 °С
Размеры Платформа ALPHA: 359x274x115,
Платформа OMEGA: 462x374x171,
 Модуль: 285x133x71
мм

  • Тестирование оптических коннекторов.

Модель Описание
IRL5156A-1FP Система тестирования, тип волокна MM 50/125, тип детектора InGaAs 3мм, 850 нм - 1300 нм, RL тест - Mandrel Free, 1 канал, FC/PC
IRL1112A-1FA Система тестирования, тип волокна SM 9/125, тип детектора InGaAs 3мм, 1310 нм - 1550 нм, RL тест - Mandrel Free, 1 канал, FC/PC
IRLX1XXX-XXX Система тестирования. Требуется уточнить параметры.
Назад к разделу

Мой заказ