Flex One - фотолюминесцентный микроскоп-спектрометр
| Cпектральный диапазон | 300 – 2200 нм |
| Спектральное разрешение | 0,1 нм |
| Пространственное разрешение | < 100 мкм |
Прибор Flex One, новейший из микроспектрометров, является полностью интегрированным, гибким, и экономичным микроспектрометром, в котором используется головка микроскопа, напрямую соединенная с высокоэффективным видео-спектрометром с тройной решёткой.
Фотолюминесценцией (PL) обычно называют видимое, или близкое к инфракрасному излучение материала, который подвергается возбуждению под воздействием ультрафиолетовых лучей. При люминесцентном определении свойств полупроводников, образец (например, GaN, ZnO, GaAs, и т.д.) обычно возбуждается излучением лазера (с длиной волны 325 нм, 532 нм, 785 нм, и т.д.). Спектр фотолюминесценции исследуемого образца (PL- спектр) измеряется для анализа оптико-физических свойств, таких как ширина запрещённой зоны и т.п. Фотолюминесценция является высокочувствительным, неразрушающим методом анализа, который может предоставить информацию о структуре, составе образца, и окружающем расположении атомов. По этим причинам, метод широко используется в физике, материаловедении, химии, молекулярной биологии, и в других смежных областях.
Особенности:
- Сверхширокий спектральный диапазон (от 300 до 2200 нм)
- Встроенная оптическая схема
- Видеоконтроль траектории луча
- Конструкция с двойным прохождением светового луча
Эксплуатационные характеристики
- Встроенная оптическая схема – регулировка всех оптических компонентов требуется только при первоначальном монтаже, что обеспечивает эффективность и простоту в использовании
- Конструкция с двойным прохождением светового луча – легко переключается для горизонтального и вертикального прохождения светового луча, для исследования всех возможных типов строения образца
- Сверхширокий спектральный диапазон – от 300 до 2200 нм
- Видеоконтроль траектории луча – для точной регулировки точки отбора образца
- Уникальная функция коррекции спектра испускания – для повышения точности и сравнимости измерений спектра
- Различные длины волн возбуждения (опция) – 325 нм, 405 нм, 442 нм, 473 нм, 532 нм, 633 нм, 785 нм, и т.д.
- Автоматическая функция отображения (опция) – диапазон измерения 50 мм × 50 мм, или специальные характеристики по требованию заказчика
- Функция электролюминесценции (EL) (опция) – расширенные опции
- Микроскопические измерения рамановского рассеяния (опция) – расширенные опции
- Принадлежности для измерений при сверхнизких температурах (опция) – обеспечивают измерения при сверхнизких температурах ниже 10K
Характеристики системы
- Подсистема источника возбуждения: лазеры с различными длинами волн, от ультрафиолетового, до близкого к инфракрасному диапазону
- Подсистема микроскопа прохождения луча: специальная микроскопия прохождения оптимизированной конструкции
- Подсистема сбора данных спектра: откалиброванная схема визуальной информации о спектре, высокочувствительная высококлассная ПЗС-матрица или одноточечный детектор, и блок сбора данных
- Держатель образцов: регулируемый по осям XYZ пространственный держатель образцов (ручной или автоматический), стол для образцов,находящихся при сверхнизкой температуре
Технические характеристики
| Параметр |
Значение |
Ед. измерения |
|---|---|---|
| Диапазон спектра | 300 – 2200 | нм |
| Спектральное разрешение | 0,1 | нм |
| Варианты длин волн возбуждения | 325, 405, 442, 473, 532, 633, 785 и т.д. | нм |
| Пространственное разрешение | < 100 | мкм |
| Тип детектора | Диапазон спектра | Ед. измерения |
|---|---|---|
| Охлаждаемый ПЗС (2000 × 256) | 300 – 1000 | нм |
| Охлаждаемый InGaAs (512 × 1) | 800 – 1700 | нм |
| Охлаждаемый InGaAs (512 × 1) | 800 – 2200 | нм |
- Фотолюминесцентное (PL) измерение спектра
Пики фотолюминесценции GaN/InGaN составляют 365 нм и 475 нм
- Измерение спектра электролюминесценции (EL)
Подсоедините электроды образца к плюсу и минусу источника постоянного тока; приведённая ниже (красная кривая) является кривой электролюминесценции EL; на графике наблюдается наличие излучения синего цвета при напряжении 2,5 В, и расположение пика около 475 нм.
