ГлавнаяНовостиИзмерительная система с высокой скоростью сканирования для оптических компонент от Santec (Япония)

Измерительная система с высокой скоростью сканирования для оптических компонент от Santec (Япония)

24.11.2021

Измерительная система была разработана компанией Santec (Япония) для оптимизации тестирования компонент фотоники и представляет собой комплексное решение, в котором высокоскоростной анализ, высокое разрешение и точность являются ключевыми факторами. Комбинация одного из перестраиваемых лазеров Santec (TSL-770, TSL-570) с оптическим измерителем мощности Santec (MPM-210), а также с блоком управления поляризацией (PCU-110 или PCU-100) и специальным программным обеспечением, оптимизирует измерения WDL и PDL для использования как в научных, так и в производственных средах. Система работает в режиме реального времени, одновременно получая выходную мощность от перестраиваемого лазера и передавая оптическую мощность через DUT, и обеспечивает высокую точность для WDL и PDL-измерений с использованием метода матриц Мюллера. Алгоритмы выборки и масштабирования используются для максимизации результативности тестирования при сохранении целостности измерений.

Santec (Япония) - компания основана в 1979 году и производит инновационные продукты с проверенным качеством и надежностью. Производитель владеет ключевыми производственными процессами для создания лазеров, инструментов и компонентов, которые отвечают строгим требованиям. Компания является первым коммерческим производителем перестраиваемых лазеров с внешним резонатором. Их первый продукт был выпущен в 1987 году. В настоящем, изделия от Santec имеют чрезвычайно высокую производительность с широким диапазоном настройки, высокой длиной волны, высокой мощностью и низким уровнем шума.

MPM-210 


Конфигурации

  • Измерения IL/PDL при использовании перестраиваемого источника (TSL-570 или TSL-770), контроллера поляризации PCU-110 и измерителя мощности MPM-210H.


  • Измерения WDL при использовании перестраиваемого источника (TSL-570 или TSL-770) и измерителя мощности MPM-210H.


  • Измерения WDL при использовании других измерителей мощности c перестраиваемым источником (TSL-570 или TSL-770) и блока обработки SPU-100.

Многоканальные измерения. TSL, PCU и MBU будут действовать как сервер, который разделяет сигнал запуска и излучение на разные каналы. Каждая станция будет состоять из ПК и измерителя мощности. Во время работы TSL будет непрерывно сканировать, позволяя каждому каналу работать независимо и одновременно с другими каналами. Таким образом, конфигурация измерений с несколькими каналами может повысить эффективность измерений для высокоточного определения характеристик и анализа.


Особенности системы

  • Высокоточное измерение WDL / PDL параметров.
  • Воспроизводимость мощности <± 0,02 дБ.
  • Воспроизводимость PDL ± 0,01 дБ.
  • Высокий динамический диапазон 80 дБ и более.
  • Разрешение по длине волны < 0,1 пм.
  • Высокое разрешение и точность по длине волны +/- 3 пм.
  • Быстрое время измерения.
  • Доступно многоканальное измерение.
  • Поддержка графического пользовательского интерфейса и библиотек DLL (Visual Studio).
  • Удобная настройка параметров измерения.


 


Высокоскоростная измерительная система находит свое применение в следующих областях
  • Тестирование кремниевых компонент фотоники, включая микрополосковые кольцевые резонаторы.
  • Оптическая спектроскопия.
  • Тестирование оптических компонент и модулей: 1) Перестраиваемые фильтры, коммутаторы, волоконные брэгговские решетки (ВБР), сплиттеры, разветвители, изоляторы, переключатели; 2) WSS, блокаторы длины волны; 3) Компоненты DWDM.



Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором компании Santec и оказывает техническую поддержку по всей линейке продукции Santec на территории России и ЕАЭС.

Вы можете получить любую дополнительную информацию о продукции и технологиях Santec, обратившись к специалистам нашей компании.


Возврат к списку


Мой заказ