Эллипсометры: высокоточные и высокоскоростные исследования ультратонких пленок

22.01.2025

Пополнение онлайн-каталога: спектроскопический и лазерный эллипсометры, позволяющие исследовать физические и оптические параметры ультратонких однослойных и многослойных пленок. Узнайте в нашей статье о ключевых особенностях и применениях этих устройств!

Эллипсометрия — это метод поляризационно-оптического анализа, который используется для исследования поверхностей различных образцов. Принцип его работы заключается в том, что на поверхность исследуемого объекта направляется поляризованное излучение, которое, взаимодействуя с поверхностью, меняет своё состояние поляризации. Измеряя эти изменения, можно получить разнообразные оптические параметры образца. Устройство, использующее этот метод, называется эллипсометром.

Одним из таких приборов является спектроскопический эллипсометр ES01. Это устройство предназначено для измерения толщины однослойных и многослойных пленок, а также их характеристик, таких как показатель преломления, коэффициент поглощения и диэлектрические функции.

Эллипсометр ES01 отличается высокой скоростью измерений, точностью и широким спектральным диапазоном, который охватывает ультрафиолетовый, видимый и инфракрасный диапазоны длин волн. Ниже представлена таблица с ключевыми параметрами модели ES01.

Работа эллипсометра основана на использовании высокочувствительного детектора и мощного программного обеспечения, которое имеет обширную базу данных различных материалов. Это позволяет проводить гибкие исследования под разными углами и осуществлять глубокий анализ сложных материалов.

Программное обеспечение поддерживает функции моделирования, симуляции и подгонки, а также может выводить полученные данные в различных форматах, что значительно расширяет возможности работы с эллипсометром.

Ознакомиться более подробное со спектроскопическим эллипсометром ES01>>>

Еще одна модель – лазерный эллипсометр EMPro. Его отличительной чертой является использование гелий-неонового лазера с длиной волны 632,8 нм в качестве источника излучения. Этот лазер обеспечивает высокую стабильность и точность измерений.

С помощью EMPro можно исследовать как однослойные, так и многослойные пленки (от 1 до 3 слоев), а также изучать свойства основного материала подложки. Благодаря своей стабильности, чувствительности и низкому уровню шума, EMPro позволяет исследовать даже не идеально гладкие, шероховатые поверхности.

Эллипсометр EMPro управляется с помощью современного и оптимизированного программного обеспечения. Оно обеспечивает точные измерения с низким уровнем шума и высокоточным выравниванием образца. Кроме того, прибор оснащён множеством предустановленных сценариев, которые идеально подходят для различных задач.

Узнать больше о лазерном эллипсометре EMPro и сделать заказ>>>

Преимущества эллипсометров ES01 и EMPro:

Области применения: 

Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором представленных решений и оказывает техническую поддержку на территории России и ЕАЭС.

Для получения дополнительной информацией и оформления заказа вы можете связаться с нашими специалистами, которые помогут подобрать оптимальное решение под ваши задачи.

Возврат к списку