NANOVIEW: Новый уровень детализации в наномире с атомно-силовым микроскопом

05.06.2025

Мы с радостью сообщаем о новинке онлайн-каталога! NANOVIEW – это сканирующий атомно-силовой микроскоп (АСМ), сочетающий в себе высокую точность, простоту эксплуатации и доступную стоимость. Прибор предназначен для исследований поверхности материалов на наноуровне и идеально подходит для промышленного контроля, анализа покрытий, изучения наноструктур и образовательных задач.

Принцип работы NANOVIEW заключается в сканировании поверхности материала тонким зондом, закрепленным на микроскопической консоли (кантилевере). Процесс начинается с перемещения образца или зонда в горизонтальной плоскости (XY) пьезоэлектрическим сканером, обеспечивающим высокую точность. Система обратной связи непрерывно отслеживает изменения в поведении зонда и управляет пьезоэлектрическим сканером в Z-направлении, поддерживая заданный уровень взаимодействия. На основе этих данных компьютер строит трехмерное изображение поверхности, отображая ее топографию и другие свойства, такие как электрические потенциалы или магнитные поля, обеспечивая исследователям и инженерам детальный анализ материалов и наноструктур.

В отличие от микроскопов других производителей, NANOVIEW разработан с особым вниманием к потребностям промышленного применения. В то время как многие конкурирующие решения ориентированы преимущественно на научные исследования, NANOVIEW особенно востребован в:

Контроле качества покрытий и тонких пленок. Анализе шероховатости прецизионных деталей. Исследовании композитных материалов. Биотехнологиях и фармацевтических исследованиях. Биологические исследования. Нанотехнологии. Материаловедение.

При этом прибор сохраняет все ключевые функции исследовательского оборудования, позволяя проводить комплексный анализ поверхности.

1. STM (Scanning Tunneling Microscopy) – Сканирующая туннельная микроскопия. Использует квантовый туннельный эффект для получения изображений поверхности проводящих или полупроводящих материалов. Между острым зондом и образцом прикладывается небольшое напряжение, и если расстояние между ними достаточно мало (порядка нескольких ангстрем), электроны могут туннелировать через потенциальный барьер.
2. MFM (Magnetic Force Microscopy) – Магнитно-силовая микроскопия. Позволяет визуализировать распределение магнитных полей на поверхности магнитных материалов, изучать магнитные домены и другие магнитные структуры.
3. KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy) – Микроскопия Кельвина. Позволяет изучать распределение электрических потенциалов на поверхности, измерять работу выхода электронов, определять наличие поверхностных зарядов и дефектов. 
4. AFM (Atomic Force Microscopy) – Атомно-силовая микроскопия. Метод основан на измерении силы взаимодействия между острым зондом, расположенным на конце кантилевера, и поверхностью образца. Зонд сканирует поверхность, и система обратной связи поддерживает постоянное значение силы взаимодействия, регулируя высоту зонда. Доступны два основных режима: контактный (постоянной силы) и колебательный (амплитудно-модулированный).

При выборе оборудования для измерения шероховатости и топографии поверхности часто возникает вопрос: что предпочесть – АСМ или профилометр? Оба метода имеют свои преимущества.

Оптические профилометры идеальны для: Быстрого контроля шероховатости на больших площадях. Измерений с высокой вертикальной точностью. Промышленного применения в условиях серийного производства. Работы с образцами сложной формы (большие углы наклона). NANOVIEW незаменим для: Исследования наноструктур с атомарным разрешением (до 0,2 нм в XY). Комплексного анализа физико-химических свойств поверхности. Работы с биологическими образцами и мягкими материалами. Многофункциональных исследований (электрических, магнитных свойств).

Таким образом, для задач, где требуется быстрое измерение шероховатости на относительно больших площадях (от десятков микрометров), действительно лучше подходят профилометры. Однако, когда речь идет о наноразмерных структурах, тонких пленках или комплексном анализе свойств поверхности, NANOVIEW не имеет альтернатив.

Основные характеристики атомно-силового микроскопа NANOVIEW

Подробнее о NANOVIEW>>

Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором представленной продукции и оказывает техническую поддержку на территории России и ЕАЭС.

Наши специалисты будут рады проконсультировать вас по интересующим вопросам и подобрать оптимальное решение под ваши задачи. Для оформления заказа или получения консультации, пожалуйста, обратитесь к специалистам нашей компании.

Возврат к списку