ГлавнаяНовостиЗондовые станции: от ручных для лабораторий до автоматических для производственных задач

Зондовые станции: от ручных для лабораторий до автоматических для производственных задач

25.11.2025

Мы рады сообщить о новом разделе в нашем онлайн-каталоге – «Системы тестирования электрических параметров полупроводников». В этом разделе вы найдете профессиональное оборудование для контроля и анализа полупроводниковых пластин и микроэлектронных компонентов. Раздел включает в себя зондовые станции, предназначенные для проведения измерений в широком диапазоне условий – от научных исследований до серийного производства.

Принцип работы станций основан на трехэтапном цикле. На этапе позиционирования образец фиксируется на платформе, а с помощью микроскопа и манипуляторов зонды с субмикронной точностью подводятся к контактным площадкам кристалла, формируя надежное электрическое соединение. На этапе измерения через зонды на тестируемое устройство подаются управляющие сигналы (напряжение, ток, СВЧ-излучение), а его отклик регистрируется внешними измерительными приборами; станция при этом обеспечивает стабильность контакта и минимальный уровень шумов. Завершающий этап включает анализ полученных данных, отвод зондов и перемещение столика к следующей точке измерений, причем весь цикл может выполняться как в ручном, так и в автоматическом режиме с программным управлением.

Ключевым преимуществом зондовых станций является возможность неразрушающего контроля отдельных кристаллов на пластине. Оборудование обеспечивает высокую точность и повторяемость измерений за счет микронного позиционирования, а универсальность систем позволяет адаптировать их для тестирования различных материалов – от кремния до широкозонных полупроводников (GaN, SiC) – и проведения разнообразных измерений (I-V, C-V, RF-характеризации) путем смены зондовых наконечников и измерительных модулей. Кроме того, станции могут быть дополнены высокоточными позиционерами для работы с фотонными интегральными схемами.

В разделе представлены следующие модели зондовых станций:

Зондовая станция серии M – базовая модель для учебных лабораторий и первичной диагностики пластин. Позволяет тестировать чипы, оптоэлектронные компоненты и проводить IV/CV-характеризацию с контактными площадками от 50 мкм.
  • Тип автоматизации: ручной.
  • Рабочая среда: открытая конфигурация.
  • Перемещение образца до 200x200 мм.
  • Механическая точность перемещения платформы 10 мкм.
  • Угловая юстировка образца с точностью 0,01°.
  • Опция HD-видеомодуля и поворотный микроскоп.
  • Виброизоляция.

Зондовые станции серии E

Зондовая станция серии E – эргономичная станция с компактной конструкцией и адаптивной системой виброзащиты. Подходит для работы с пластинами до 12 дюймов и установки до 12 манипуляторов, применяется в тестировании интегральных схем и солнечных элементов.

  • Тип автоматизации: ручной.
  • Рабочая среда: открытая конфигурация.
  • Вертикальный подъем платформы на 5 мм с точностью 10 мкм.
  • Поддержка пластин диаметром 4", 6", 8" и 12".
  • Перемещение образца до 12"x12".
  • Быстрая смена объективов и держателей зондов.
  • Конфигурация для тестирования до 300 ГГц.
  • Возможность 360° вращения образца.
                            

Зондовые станции серии H

Зондовая станция серии H – модульная ручная станция с пневматическим перемещением рабочей платформы и механизмами точной подстройки без обратного люфта. Конструкция позволяет модернизировать систему, добавляя лазерный модуль или термостолик, для сложных НИОКР-задач.

  • Тип автоматизации: ручной.
  • Рабочая среда: открытая конфигурация.
  • Пневматическое перемещение платформы.
  • Поддержка пластин диаметром 6", 8" и 12"
  • Трехуровневый подъем платформы.
  • Разрешение перемещения платформы 1 мкм.
  • Поддержка измерений до 300 ГГц.

Зондовые станции серии FA

Зондовая станция серии FA создана для лабораторий анализа отказов. Имеет лазерный модуль для обработки структур и стабильную конструкцию, совместима с микроскопами для задач модификации и диагностики чипов.
  • Тип автоматизации: ручной.
  • Рабочая среда: открытая конфигурация.
  • Разрешение перемещения 1 мкм.
  • Лазерная система с перестраиваемой длиной волны: 1064/532/355/266 нм.
  • Минимальный размер обработки 1×1 мкм.
  • Опциональноя термоплатформа от -80°C до +200°C.
  • Диаметр пластины до 8".
  • Увеличение до 4000X.
                                                  

Зондовые станции серии C

Зондовая станция серии C оснащена отличной механической системой и эргономичным управлением. Конструкция станции включает герметичную измерительную камеру с системой термостатирования, обеспечивающую рабочий диапазон температур от -100°C до +300°C.

  • Тип автоматизации: ручной.
  • Рабочая среда: открытая конфигурация.
  • Температурный диапазон: от -100°C до +300°C.
  • Высокая температурная стабильность: ±0,1°C/час.
  • Трехуровневая платформа.
  • Измерительная камера.
  • Пневматическое перемещение.
  • Система охлаждения: жидкостный азот или компрессорное охлаждение.

Зондовые станции серии CG

Зондовая станция серии CG – модель с полностью вакуумным исполнением и системой охлаждения. Обеспечивает стабильные измерения слабых сигналов в условиях глубокого вакуума и криотемператур.

  • Тип автоматизации: ручной.
  • Рабочая среда: вакуум, высокая и низкая температуры.
  • Сверхвысокий вакуум: до 10⁻⁴ Па.
  • Высокая температурная стабильность: ±0,1K при 473K.
  • Система охлаждения: жидкий азот/гелий.
  • Виброзащитная платформа.
  • Оптическая система: увеличение 16X-1000X.
                     

Зондовые станции серии CGX

Зондовая станция серии CGX – полуавтоматическая станция для работы с температурами от 10K. Использует жидкий гелий для охлаждения и поддерживает высокоточные измерения для исследований и производства в области микроэлектроники и оптоэлектроники.

  • Тип автоматизации: полуавтоматическая.
  • Рабочая среда: вакуум, высокая и низкая температуры.
  • Температурный диапазон: 10K-450K.
  • Глубокий вакуум: до 5×10⁻⁴ Па.
  • Воздушная демпфирующая система.
  • Полуавтоматическое управление с ПО для калибровки, картирования и анализа.
  • Высокоскоростное позиционирование 40 мм/с с точностью ±1 мкм.

Зондовые станции серии V

Зондовая станция серии V работает как в полностью автоматическом (с системой загрузки пластин), так и в полуавтоматическом режиме. При вдвое меньших габаритах, чем у серии X, она обеспечивает высокоскоростное групповое тестирование пластин до 12 дюймов.

  • Тип автоматизации: автоматическая / полуавтоматическая.
  • Рабочая среда: открытая конфигурация.
  • Полная автоматизация с роботизированной загрузкой образцов.
  • Высокая скорость позиционирования до 70 мм/с по осям XY.
  • Эффективное ЭМЭ-экранирование >30 дБ (3-20 ГГц).
  • Интерфейсы связи RS232, TCP/IP, GPIB.
  • Компактные габариты.
                                        

Зондовые станции серии X

Зондовая станция серии X - полуавтоматическая платформа для испытаний широкозонных полупроводников (SiC, GaN). Работает в диапазоне от -60°C до +300°C и поддерживает анализ I-V, C-V, RF и оптических сигналов.
  • Тип автоматизации: полуавтоматическая.
  • Рабочая среда: открытая конфигурация.
  • Температурный диапазон: от -60°C до +300°C.
  • Высокая скорость позиционирования по осям XY: ≥70 мм/с.
  • О-образная платформа: размещение до 12 микроманипуляторов.
  • Низкий уровень шума: ток утечки 100 фА/В (с экранированием).
  • Система виброзащиты.

Зондовые станции серии A

Зондовая станция серии A - автоматическая станция для производственных линий. Выполняет автоцентровку, распознавание ID пластины и непрерывное тестирование с контролем размера кристалла, включая анализ RF-характеристик и шумов.
  • Тип автоматизации: автоматическая.
  • Рабочая среда: открытая конфигурация.
  • Высокоскоростное позиционирование до 500 мм/с.
  • Полностью автоматический цикл тестирования.
  • Широкий температурный диапазон от -45°C до +250°C.
  • Совместимость с пластинами 6, 8 и 12 дюймов.
  • Высокоточная 4-осевая платформа WXR.

Подробнее о Системах тестирования электрических параметров полупроводников >>>


Сопутствующее Оборудование:

Радиоизмерительное оборудование

Тестирование и измерение параметров волоконных компонентов и ФИС

Сварка и обработка волокна

Измерение параметров лазеров, оптики и оптоэлектроники


Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором представленных решений и оказывает техническую поддержку на территории России и ЕАЭС.

Для получения дополнительной информацией и оформления заказа вы можете связаться с нашими специалистами, которые помогут подобрать оптимальное решение под ваши задачи.

Возврат к списку


Мой заказ