ГлавнаяНовостиСистема TLS-AT: точное IL/PDL-тестирование и измерение параметров волоконно-оптических компонентов

Система TLS-AT: точное IL/PDL-тестирование и измерение параметров волоконно-оптических компонентов

17.03.2026

Измерительная система для тестирования оптических компонентов TLS-AT предназначена для спектральной характеризации волоконно-оптических компонентов в задачах кремниевой фотоники, магистральных DWDM-сетей и лабораториях. Комплекс обеспечивает непрерывное сканирование по длине волны с одновременным измерением IL (вносимые потери) и PDL (поляризационно-зависимые потери) для многоканальных устройств (таких как AWG и WSS).

Применение TLS-AT:

  • Приёмосдаточные испытания пассивных оптических компонентов.
  • Разработку и верификацию оптических схем кремниевой фотоники.
  • Производство AWG/WSS в лабораториях.

Принцип функционирования и ключевые особенности

TLS-AT использует синхронизированное сканирование перестраиваемого лазера с многоканальным измерителем мощности. Модуль поляризации 85210H генерирует набор состояний поляризации, а измеренные интенсивности формируют переопределённую систему уравнений матрицы Мюллера для DUT.


Основные преимущества системы:

  • Высокое спектральное разрешение.
  • Производительность.
  • Масштабируемость.
  • Удобное ПО для анализа и записи результатов измерений.
  • Измерение IL и PDL за один проход.

Комплектация системы TLS-AT (настраивается под задачу)

Компонент Модель Характеристики
Лазер
6317A 1480–1680 нм
Лазер
6317B 1240–1380 нм
Платформа измерителя мощности
6337F 5 слотов
Измерительные модули
74600B-4137/A аналоговый выход
Модуль поляризации
85210H для PDL измерений
Делитель
74200A/B для измерений с опорным каналом

Пример использования

Измерение IL (вносимые потери). Стандартное подключение

Измерение PDL/ILavg. Стандартное подключение


Технические характеристики

Параметр Значение Ед. измерения
Диапазон длин волн 1240 - 1680
(в зависимости от модели лазера)
нм
Абсолютная точность длины волны ≤ 3
пм
Повторяемость длины волны ≤ 2,5
пм
Скорость сканирования 0,1 - 240 нм/с
Разрешение по длине волны 0,1 пм
Динамический диапазон IL 70 дБ
Повторяемость IL  ± 0,02 дБ
Разрешение IL 0,001 дБ
Динамический диапазон PDL 25 дБ
Повторяемость PDL ± 0,01 дБ
Разрешение PDL 0,001 дБ
Интерфейс связи Ethernet

Подробнее об Измерительной системе для тестирования оптических компонентов >>>

Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором представленных решений и оказывает техническую поддержку на территории России и ЕАЭС.

Наши специалисты будут рады предоставить вам любую дополнительную информацию и подобрать оптимальное решение под ваши задачи. Для оформления заказа или получения консультации, пожалуйста, свяжитесь с нами.

 

Возврат к списку


Мой заказ