ГлавнаяНовостиХарактеризация пассивных оптических компонентов: методы измерений IL, RL, PDL и приборные решения

Характеризация пассивных оптических компонентов: методы измерений IL, RL, PDL и приборные решения

21.04.2026

В волоконно-оптических линиях связи и фотонных системах пассивные компоненты (WDM-фильтры, модули ROADM, разветвители, аттенюаторы, интерферометры и др.) требуют контроля ключевых параметров на этапах разработки, производства и входного контроля. Мы подготовили новое решение, в котором разобрали, как выбрать метод измерений и измерительную схему для оценки вносимых потерь (IL), обратных потерь (RL) и поляризационно-зависимых потерь (PDL) — как на фиксированной длине волны, так и в спектральном виде.

1.png

В материале рассмотрены три практических подхода:

  • анализатор оптического спектра (OSA) + широкополосный источник — быстрый экспресс-контроль IL;
  • перестраиваемый лазер (пошаговый режим) — измерения IL/RL/PDL, включая многоканальные DUT;
  • перестраиваемый лазер (непрерывное сканирование) — высокоскоростная характеризация с пикометровым разрешением для задач DWDM и производственного тестирования.

В конце приведена сводная таблица методов и описаны готовые приборные сборки под задачи входного контроля, лабораторных измерений и серийного производства.

Читать полный текст решения >>

Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором представленных решений и оказывает техническую поддержку на территории России и ЕАЭС.

Если у Вас остались вопросы, наши специалисты будут рады предоставить любую дополнительную информацию и подобрать оптимальное решение под ваш запрос. Для составления заказа или получения консультации, пожалуйста, свяжитесь с нами.


Возврат к списку


Мой заказ