ГлавнаяМероприятияКонференция «Механика в новых материалах, конструкциях и технологиях»

Конференция «Механика в новых материалах, конструкциях и технологиях»

25 Марта 2026

Рады сообщить, что компания «Специальные Системы. Фотоника» примет участие в конференции «Механика в новых материалах, конструкциях и технологиях», посвященной 100-летию со дня рождения члена-корреспондента АН СССР Александра Александровича Поздеева.

Мероприятие состоится в Перми с 25 по 27 марта 2026 года в Институте механики сплошных сред УрО РАН, ул. Академика Королева, 1.

О мероприятии >>

Программа мероприятия >>   

Представители компании "Специальные Системы. Фотоника" будут рады видеть вас на мероприятии. Приглашаем Вас и ваших коллег:
  • Посетить нашу демозону, ознакомиться с новинками в области оптоэлектроники и фотоники;
  • Узнать об инновационных решениях от ведущих китайских производителей;
  • Обсудить ваши проекты и получить ответы на вопросы от наших технических специалистов.

 Компания «Специальные Системы. Фотоника» проконсультирует по работе и функциональным возможностям следующего оборудования:

Система измерения скорости методом доплеровского сдвига
оптического излучения PDV

  • Длина волны лазерного источника: 1550 нм.
  • Мощность лазера от 100 мВт до 4 Вт.
  • Конфигурация "Лазер" или "Лазер+EDFA усилитель".
  • Диапазон измеряемых скоростей: от 1 м/с до 12 км/с.
  • Совместимость с широким спектром осциллографов (Keysight, Tektronix, Rigol, Siglent и др.).
  • Применение в ударно-волновой физике, исследованиях детонационных процессов, динамических испытаниях материалов, лазерном нагружении и других сферах.
Одночастотные волоконные лазеры и усилители 193-4200 нм, электроника для стабилизации частоты от Fex-laser
  • Волоконные лазеры с преобразованием частоты, 193 - 1030 нм.
  • Непрерывные иттербиевые лазеры, 976 - 1120 нм.
  • Непрерывные рамановские лазеры, 1120 - 1750 нм.
  • Непрерывные эрбиевые лазеры, 1530 - 1598 нм.
  • Непрерывные тулиевые и DFG лазеры, 1700 - 4000 нм.
  • Контроллеры лазерной стабилизации, частоты или фазы.
  • Одноканальные DFB лазеры и модули, 1018 - 2051 нм.
  • Импульсные волоконные лазеры УФ диапазона, 266 - 355 нм.
  • Импульсные волоконные лазеры ИК диапазона, 775 - 1080 нм.
  • Одночастотные ИК полупроводниковые лазеры с внешним резонатором.
  • Волоконные одночастотные усилители научного класса.

Источники суперконтинуума
  • Источники суперконтинуума 6 пс мощностью от 3,5 до 7 Вт.
  • Источники суперконтинуума 100 пс мощностью от 800 мВт до 15 Вт.
  • Источники суперконтинуума 1 - 8 нс мощностью от 4 до 7 Вт.
  • Фильтры для управления спектром излучения.
Импульсные лазеры
  • Наносекундные Nd:YAG и Nd:YLF лазеры с диодной накачкой, 213 - 1064 и 1570 нм.
  • Наносекундные Nd:YAG лазеры с ламповой накачкой, 213 - 1064 нм.
  • Nd:YAG и Nd:YLF лазерные системы с двойным импульсом, 527 - 1064 нм.
  • Импульсные твердотельные лазеры с высокой энергией, 266 - 1064 нм.
  • Пикосекундные импульсные лазеры.
  • Фемтосекундные импульсные лазеры.

Высокостабильные лазерные источники RealLight
  • Диодные непрерывные лазеры RealStable, 638 - 1064 нм.
  • Микрочиповые лазеры RealSubns, 213 - 1319 нм.
  • Микрочиповые эрбиевые лазеры RealSubns, 1535 нм.
  • Твердотельные лазеры высокой энергии RealShock, 266 - 1064 нм.
Системы время-разрешенной ТГц спектроскопии с волоконными выводами
  • Широкий диапазон спектра: 0,1-5,5 ТГц.
  • Измерения в реальном режиме времени: 500 Гц - 2 кГц.
  • Интеллектуальная система распознавания спектров: формирование отчетов за 1 секунду.
  • Возможность использования множества зондов для удвоения скорости измерений.
  • Спектроскопия пропускания, спектроскопия отражения и ближнепольная визуализация в одной системе.
  • Спектральное разрешение до 2,5 ГГц.

Высокоточный спектрограф с CCD камерой Omni-DFieldN
Высокочувствительный монохроматор, программно и физически интегрированный с TE-охлаждаемой камерой разрешением 2000 × 256 пикс.
  • Превосходная спектральная калибровка изображения.
  • Квантовая эффективность до 95%.
  • Эффективное подавление рассеянного света.
  • Шум считывания детектора 3 e-.
  • USB3.0 интерфейс.
3D оптические профилометры
  • LED источник белого света (технология WLI: PSI, VSI).
  • Съемка высокочувствительной КМОП камерой 5 Мп.
  • Высокоскоростной пьезосканер с широким диапазоном сканирования.
  • Разрешение по вертикальной оси: 0,001 нм.
  • Среднеквадратичная повторяемость, определяемая для измерения кремниевой пластины по ИСО-25178-2-2014 в лабораторных условиях: 0,002 нм.

     

Оптическое измерительное оборудование
  • Измерительное оборудование для волоконной и интегральной оптики.
  • Источники излучения для оптических измерений.
  • Измерители оптической мощности лазерного излучения.
  • Анализаторы профиля лазерного пучка.
  • Измерение, анализ и управление поляризацией в волокне.
  • Системы для анализа поверхностей.

Мы будем благодарны Вам за предоставление информации о дате и времени встречи на мероприятии с целью планирования рабочего графика наших специалистов.


До встречи на Конференции!

 

Возврат к списку


Мой заказ