ГлавнаяКаталогСпектральные системы и комплексыИзмерение спектральной чувствительности и квантовой эффективностиDSR300 - микроскопическая система измерения спектральной чувствительности детекторов
DSR300 - микроскопическая система измерения спектральной чувствительности детекторов
DSR300 – комплексная система измерения спектрального отклика различных детекторов размером до 100 мкм.
- Измерение спектральной чувствительности, внешней квантовой эффективности, кривых IT при смещающем напряжении, картирование LBIC, тестирование линейности отклика.
- Выбор источника: ксеноновая лампа, CW лазер, импульсный лазер, источник суперконтинуума.
- Выбор объективов: 10x, 50x, 50x УФ, 40x отражающий.
- Криостат 190-600 ℃.
Производитель: EV
Система калибровки спектральной чувствительности детектора DSR300 объединяет опыт внедрения системы спектральной чувствительности во многие научно-исследовательских установок, и использует микроскоп для тестирования спектральных характеристик миниатюрных детекторов.
Система DSR300 используется для анализа материалов малого форм-фактора и предоставляет высокоточное спектральное сканирование и сканирование фототока. Пучок размером 40 мкм позволяет тестировать образцы размером от 100 мкм. Система отличается высокой стабильностью и высокой точностью измерений, а также оснащена дружественным интерфейсом.
Измеряемые параметры:
-
Спектральная чувствительность.
- Зависимость тока от времени при смещении.
- Внешняя квантовая эффективность.
- LBIC.
- Линейность спектрального отклика.
Примеры получаемых данных:
|
|
|
Параметр
|
Значение | Ед. измерения | |
---|---|---|---|
Источник света | |||
Ксеноновый источник света
|
|
|
|
Спектральный диапазон
|
250 – 1800 |
нм | |
Нестабильность мощности
|
< 1 | % | |
Источник суперконтинуума
|
|
|
|
Спектральный диапазон
|
400 – 2400 |
нм | |
Частота повторения импульсов
|
0,01-200 | МГц | |
Длительность импульсов
|
100 | пс | |
CW лазер
|
|||
Центральная длина волны
|
405 / 532 / 633 / 808 / 980 |
нм | |
Нестабильность мощности
|
< 1 |
% | |
Импульсный лазер
|
|||
Центральная длина волны
|
375 / 405 / 488 / 785 / 976 |
нм | |
Частота повторения импульсов
|
1-20 | МГц | |
Длительность импульсов
|
100 | пс | |
Монохроматор
|
|||
Спектральное разрешение
|
0,1 | нм | |
Точность установки длины волны
|
±0,2 |
нм | |
Воспроизводимость установки длины волны
|
±0,1 |
нм | |
Шаг сканирования
|
0,005 | нм | |
Спектральный диапазон
|
200 – 2000 |
нм | |
Ширина щели
|
от 0,2 до 3 | мм | |
Уровень рассеянного света
|
10-5 | ||
Колесо светофильтров
|
автоматизированное, с 5 фильтрами | ||
Объективы
|
|||
Объектив 10x
|
Рабочее расстояние > 17 мм, NA 0.42, диапазон 350-800 нм |
|
|
Объектив 50x
|
Рабочее расстояние > 17 мм, NA 0.42, диапазон 480-1800 нм |
|
|
Объектив 50x УФ
|
Рабочее расстояние > 12 мм, NA 0.42, диапазон 240-500 нм |
||
Объектив 40x отражающий
|
Рабочее расстояние > 7,8 мм, NA 0.5, диапазон 200 нм - 20 мкм |
|
|
Модуль обработки данных
|
|||
Синхронный усилитель DCS
|
Частота 20 Гц - 1 кГц; Сдвиг < 0,11°/°C ниже 10 кГц; Режим ток/напряжение; Чувствительность от 1 нВ до 1 В (полная шкала); Усиление тока 106 или 108 В/А; Динамический диапазон > 100 дБ; Отображаемые величины X,Y, R, θ |
||
Keithley 2612B
|
Диапазон тока 100 нА / 1 А; Минимальный сигнал 1 нА; Шум 100 пА; Разрешение 100 фА; Число каналов 2 |
|
|
Keithley 2636B
|
Диапазон тока 100 нА / 1 А; Минимальный сигнал 10 пА; Шум 1 пА; Разрешение 10 фА; Число каналов 2 |
|
|
Криостат
|
|||
Температурный диапазон
|
от -196 до 600 |
°C |
|
Разрешение по температуре
|
0,1 |
°C |
|
Диаметр отверстия
|
24 | мм | |
Размер образца
|
22 | мм | |
Рабочее расстояние
|
4,5 - 12,5 | мм | |
Особенности
|
Герметичная камера для зондов, может быть заполнена защитным газом, независимый контроль температуры. |
|
|
Зондовая станция
|
|||
Тип зондов
|
микронные наконечники |
|
|
Количество зондов
|
4 | м | |
Ток утечки
|
1 | пА | |
Тип держателя
|
с вакуумной абсорбцией | ||
Диапазон перемещения платформы XYZ
|
12 | мм | |
Разрешение перемещения
|
0,75 | мкм | |
LBIC сканирование
|
|||
Диапазон по XY
|
50 | мм | |
Разрешение
|
5 | мкм | |
Пространственное разрешение
|
1 | мкм |
- Анализ фотодетекторов.
- Мониторинг солнечных батарей.
- Анализ широкозонных полупроводников.
- Измерение квантовой эффективности и чувствительности детекторов УФ, глубокого УФ и видимого диапазонов.
Система производится под заказ. Для подбора системы требуется выбрать ее компоненты и уточнить список необходимых аксессуаров.