6362D - анализаторы оптического спектра
- Рабочий диапазон длин волн: 600 - 1700 нм.
- Минимальное спектральное разрешение: 20 пм.
- Динамический диапазон: 76 дБ.
- Чувствительность: -90 дБм.
- Поддержка пространственного ввода оптического излучения.
- Встроенный источник оптического излучения.
Высокопроизводительные анализаторы оптического спектра серии 6362D предназначены для работы в диапазоне от 600 до 1700 нм. Устройства обладают высоким разрешением, широким динамическим диапазоном и высокой скоростью проведения измерений.
Спектроанализаторы 6362D подходят для тестирования DWDM компонентов и оптических усилителей, а также широко используются для анализа активных и пассивных оптических компонентов, таких как LED, FP-LD, DFB-LD, оптических передатчиков и ВБР.
Особенности:
- Широкий диапазон длин волн: 600 - 1700 нм.
- Минимальное спектральное разрешение: 20 пм.
- Широкий динамический диапазон: 76 дБ.
- Максимальная чувствительность: -90 дБм.
- Поддержка одномодового, многомодового и волокна с большим диаметром сердцевины, а также пространственного ввода излучения.
- Встроенный источник оптического излучения.
- Многофункциональное ПО для эффективного анализа оптического спектра.
- 12,1-дюймовый сенсорный дисплей с удобным интерфейсом.
Спектральное разрешение
Анализатор спектра 6362D поддерживает различные настройки разрешения с гибкой перестройкой. Минимальное спектральное разрешение составляет 20 пм.
Функция поиска пика
Анализатор спектра 6362D использует точный адаптивный алгоритм поиска пиков. Удобство и адаптивность позволяют быстро проводить необходимый анализ и определять параметры пиков с высокой точностью и надежностью.
Анализ спектральных характеристик одиночной продольной моды лазера
6362D поддерживает различные функции определения параметров оптического спектра. Для лазерных источников оптического излучения с единичной продольной модой, таких как DFB-LD, инструмент позволяет использовать два метода порогового анализа и вычисление коэффициента подавления боковых гармоник. Эти методы позволяют эффективно и точно оценивать значение центральной длины волны, ширину оптического спектра и коэффициент подавления боковых гармоник источников излучения.
Анализ спектральных характеристик лазерных источников излучения с большим количеством продольных мод
Для задач, связанных с анализом спектра излучения таких источников, как FP-LD, устройства позволяют использовать три метода: анализ потерь nдБ, анализ огибающей и среднеквадратичный анализ. Эти методы позволяют точно оценить центральную длину волны и ширину оптического спектра источников излучения с большим количеством продольных мод.
Анализ характеристик спектра излучения FP-LD методом nдБ потерь.
Анализ характеристик спектра излучения FP-LD методом огибающей.
Анализ характеристик спектра излучения FP-LD среднеквадратичным методом.
Функции анализа характеристики оптоэлектронных устройств
Спектроанализаторы способны проводить тестирование лазерных модулей различных типов, таких как LED, FP-LD, DFB-LD и LD.
В дополнение к измерению характеристик полупроводниковых источников оптического излучения, прибор включает в себя функции измерения поляризационной модовой дисперсии оптических волокон, параметров WDM компонентов (таких как фильтры), волоконных усилителей и др. Изображение ниже демонстрирует стандартное применение в WDM анализе.
Параметр | Значение | Ед. измерения | ||
---|---|---|---|---|
Спектральный диапазон
|
600 - 1700 | нм | ||
Диапазон сканирования
|
0,2 - 1100 (весь диапазон), 0 | нм | ||
Точность определения длины волны
|
1520 - 1620 нм | ±0,02 | нм | |
1450 - 1520 нм | ±0,04 | |||
весь диапазон | ±0,10 | |||
Линейность определения длины волны
|
1520 - 1580 нм | ±0,01 | нм | |
Повторяемость
|
±0,005 (2 минуты) | нм | ||
Настройка разрешения по длине волны
|
0,02 / 0,05 / 0,1 / 0,2 / 0,5 / 1 / 2 |
нм | ||
Минимальное разрешение выборки
|
0,001 | нм | ||
Количество точек выборки
|
101 - 50001, AUTO |
- | ||
Настройка чувствительности по мощности
|
NORMAL, MID, HIGH1, HIGH2 и HIGH3 | - | ||
Чувствительность по мощности (чувствительность: HIGH3)
|
1300 - 1620 нм | -90 | дБм | |
1000 - 1300 нм | -85 | |||
600 - 1000 нм | -60 | |||
Максимальный уровень мощности вводимого оптического излучения
|
+20 (на каждом канале, весь диапазон) | дБм | ||
Максимальный безопасный уровень мощности вводимого оптического излучения
|
+25 (полная входная мощность) | дБм | ||
Точность определения мощности оптического излучения
|
±0,4 (1310/1550 нм, входная мощность: -20 дБм, чувствительность: MID) |
дБ | ||
Линейность определения мощности
|
±0,05 (входная мощность: от -50 до +10 дБм) |
дБ | ||
Равномерность мощности
|
1520 - 1580 нм | ±0,1 | дБ | |
1450 - 1520 нм | ±0,2 | |||
1580 - 1620 нм | ±0,2 | |||
Поляризационная зависимость
|
1550 нм |
±0,05 |
дБ | |
1310 нм |
±0,08 |
|||
Динамический диапазон
|
Разрешение 0,02 нм |
63 (пик ±0,2 нм, тип. 66) 46 (пик ±0,1 нм, тип. 50) |
дБ | |
Разрешение 0,05 нм |
73 (пик ±1,0 нм, тип. 76) 70 (пик ±0,4 нм, тип. 73) 63 (пик ±0,2 нм, тип. 66) |
|||
Разрешение 0,1 нм |
67 (пик ±0,4 нм, тип. 70) 57 (пик ±0,2 нм, тип. 60) |
|||
Подавление рассеянного излучения
|
76 |
дБ | ||
Оптические обратные потери
|
35 (при использовании разъема APC) | дБ | ||
Применимый тип ОВ
|
SM (9,5/125 мкм), GI (50/125 мкм), GI (62,5/125 мкм), ОВ с большим диаметром сердцевины (до 200 мкм) |
- | ||
Варианты оптического вывода |
DFB источник излучения (С-диапазон) DFB/FP источник излучения (1550 нм / другие) SLED (различные диапазоны) SLED + C2H2 (газовая ячейка) Возможность использования других источников излучения |
- | ||
Дисплей | 12,1-дюймовый сенсорный дисплей | - | ||
Объем памяти |
128 | Гб | ||
Интерфейс |
USB / Ethernet / GPIB / HDMI / DP |
- | ||
Рабочие условия окружающей среды |
Рабочая температура: 0°C - 40°C Влажность: ≤80% Температура гарантированной производительности: 18°C - 28°C |
- | ||
Размеры | 426x221x450 | мм | ||
Масса | 19 | кг | ||
Источник питания |
100 - 240 В перем. тока, 50\60 Гц |
|||
Максимальная потребляемая мощность | 100 | Вт |
- Разработка оптоэлектронных устройств.
- Интегральная фотоника.
- Производство оптических усилителей.
- Анализ спектра пропускания компонентов.
- Проведение научных исследований.