ГлавнаяКаталогАнализ параметров лазерного излученияАнализ профиля лазерного пучкаПЗС (ССD) анализаторы профиля лазерного пучка
ПЗС (ССD) анализаторы профиля лазерного пучка
CCD-1201 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм
Спектральный диапазон 400 – 1150 нм.
Разрешение 1,4 Мпикс.
Размер пикселя 4,65*4,65 мкм.
Динамический диапазон 60 дБ.
CCD-2301 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм
Спектральный диапазон 400 – 1150 нм.
Разрешение 1,4 Мпикс.
Размер пикселя 6,45*6,45 мкм.
Динамический диапазон: 67 дБ.
CCD-2302 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм
Спектральный диапазон 400 – 1150 нм.
Разрешение 5 Мпикс.
Размер пикселя 3,45*3,45 мкм.
Динамический диапазон 54 дБ.
CCD-3501 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм
Спектральный диапазон 400 – 1150 нм.
Разрешение 15,7 Мпикс.
Размер пикселя 7,4*7,4 мкм.
Динамический диапазон 59 дБ.
Камеры CinCam CCD, построенные на базе традиционных ПЗС-матриц, оптимизированы для работы в УФ, видимом и ближнем ИК спектральных диапазонах. Благодаря высокому разрешению и малому размеру пикселя камеры отличаются высокой производительностью и могут эффективно использоваться для анализа пучков излучения лазеров, работающих в непрерывном и импульсном режиме.
Камеры обеспечивают анализ пучка с высокой точностью в диапазоне от 150 до 1150 нм с лучшим отношением цена/качество. Благодаря высокому динамическому диапазону возможен анализ мод высшего порядка с сохранением высокого разрешения. Пассивное охлаждение матрицы и отсутствие защитного стекла обеспечивают защиту от нежелательной интерференции.
Камеры обеспечивают анализ пучка с высокой точностью в диапазоне от 150 до 1150 нм с лучшим отношением цена/качество. Благодаря высокому динамическому диапазону возможен анализ мод высшего порядка с сохранением высокого разрешения. Пассивное охлаждение матрицы и отсутствие защитного стекла обеспечивают защиту от нежелательной интерференции.
Применение:
- Анализ пучка непрервных и импульсных лазеров.
- Контроль мод лазера и юстировка лазеров.
- Быстрое тестирование оборудования.
- Анализ ближнепольных и дальнепольных характеристик лазеров, светодиодов и других лабораторных источников.
Фильтр
Мой заказ