ПЗС (ССD) анализаторы профиля лазерного пучка

 
CCD-1201 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм
CCD-1201 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм Спектральный диапазон 400 – 1150 нм. Разрешение 1,4 Мпикс. Размер пикселя 4,65*4,65 мкм. Динамический диапазон 60 дБ.
Заказать
CCD-2301 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм
CCD-2301 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм Спектральный диапазон 400 – 1150 нм. Разрешение 1,4 Мпикс. Размер пикселя 6,45*6,45 мкм. Динамический диапазон: 67 дБ.
Заказать
CCD-2302 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм
CCD-2302 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм Спектральный диапазон 400 – 1150 нм. Разрешение 5 Мпикс. Размер пикселя 3,45*3,45 мкм. Динамический диапазон 54 дБ.
Заказать
CCD-3501 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм
CCD-3501 - ПЗС камера для анализа профиля пучка в спектральной области 400 – 1150 нм Спектральный диапазон 400 – 1150 нм. Разрешение 15,7 Мпикс. Размер пикселя 7,4*7,4 мкм. Динамический диапазон 59 дБ.
Заказать
Камеры CinCam CCD, построенные на базе традиционных ПЗС-матриц, оптимизированы для работы в УФ, видимом и ближнем ИК спектральных диапазонах. Благодаря высокому разрешению и малому размеру пикселя камеры отличаются высокой производительностью и могут эффективно использоваться для анализа пучков излучения лазеров, работающих в непрерывном и импульсном режиме.

Камеры обеспечивают анализ пучка с высокой точностью в диапазоне от 150 до 1150 нм с лучшим отношением цена/качество. Благодаря высокому динамическому диапазону возможен анализ мод высшего порядка с сохранением высокого разрешения. Пассивное охлаждение матрицы и отсутствие защитного стекла обеспечивают защиту от нежелательной интерференции.

CinCam-CCD-CMOS-InGaAs-sensitivity-range.jpg     CinCam CCD Family.jpg

Применение:

  • Анализ пучка непрервных и импульсных лазеров.
  • Контроль мод лазера и юстировка лазеров.
  • Быстрое тестирование оборудования.
  • Анализ ближнепольных и дальнепольных характеристик лазеров, светодиодов и других лабораторных источников.

Назад к разделу
Фильтр
Производитель

Мой заказ