Атомно-силовые микроскопы (АСМ / AFM)

 
NANOVIEW - сканирующий атомно-силовой микроскоп
NANOVIEW - сканирующий атомно-силовой микроскоп Режим работы: контактный и колебательный. Разрешение сканирования XY: 0,2 нм. Разрешение сканирования Z: 0,05 нм. Диапазон сканирования по Z: 2 до мкм. Диапазон сканирования XY: до 20 мкм. Угол сканирования: 0° - 360°. Оптическое увеличение: 4Х.
Заказать

Компания «Специальные Системы. Фотоника» представляет атомно-силовые микроскопы (АСМ/AFM), предназначенные для широкого спектра исследований в области материаловедения, нанотехнологий, биологии и смежных областей. Данное оборудование обеспечивает визуализацию и количественный анализ свойств материалов на нанометровом и атомном разрешении, предоставляя возможность детального изучения структуры и характеристик поверхности.

Принцип действия

Атомно-силовая микроскопия – это метод сканирования поверхности с помощью острого зонда, закреплённого на микрокантилевере. Для перемещения зонда или образца используется высокоточный пьезоэлектрический сканер, обеспечивающий субнанометровую точность позиционирования в трёх измерениях (X, Y, Z). В процессе сканирования система обратной связи поддерживает заданный уровень взаимодействия между зондом и поверхностью, контролируя либо силу взаимодействия (контактный режим), либо амплитуду колебаний кантилевера (колебательный режим).

  • Контактный режим: поддержание постоянной силы взаимодействия между зондом и поверхностью. Рекомендуется для анализа твердых и стабильных образцов.
  • Режим колебаний: контроль амплитуды колебаний кантилевера, возбуждаемых на резонансной частоте. Предназначен для исследования мягких, хрупких и адгезивных материалов, минимизируя механическое воздействие на образец.

Помимо формирования трехмерных изображений поверхности с высоким разрешением, АСМ-системы позволяют проводить количественную оценку физико-химических свойств материалов, в том числе:

  • Механические свойства: измерение модуля упругости, твердости и др.
  • Адгезионные свойства: определение сил адгезии между зондом и поверхностью, характеризующих взаимодействие между материалами.
  • Электрические свойства: визуализация и количественная оценка распределения электрического потенциала на поверхности образца.
  • Магнитные свойства: исследование магнитных доменов и других магнитных структур с высоким пространственным разрешением.

Преимущества:

  • Высокое разрешение.
  • Высокая устойчивость к внешним воздействиям.
  • Интуитивно понятное программное обеспечение.
  • Гибкость управления: возможность ручного или автоматического управления серводвигателями для адаптации к различным задачам.
  • Точное позиционирование.
  • Наблюдение в реальном времени.
  • Автоматизация процедур.

Области применения:

  • Исследование наноструктур.
  • Контроль качества тонких пленок и покрытий.
  • Материаловедение.
  • Микроэлектроника и полупроводниковая промышленность.
  • Биология и медицина.
  • Химия и катализ.
  • Полимерные материалы и покрытия.

Cпециалисты компании «Специальные Системы. Фотоника» будут рады предоставить Вам любую дополнительную информацию и подобрать оптимальное решение для Ваших задач. Для составления заказа или получения консультации обратитесь к менеджерам нашей компании.


Мой заказ