ГлавнаяКаталогИзмерение параметров лазеров, оптики и оптоэлектроникиИзмерительное оборудование для оптики и полупроводниковых пластинАтомно-силовые микроскопы (АСМ / AFM)
Атомно-силовые микроскопы (АСМ / AFM)
NANOVIEW - сканирующий атомно-силовой микроскоп
Режим работы: контактный и колебательный. Диапазон сканирования по Z: 2 до мкм. Диапазон сканирования XY: до 20 мкм. Частота сканирования: 0,6 Гц - 4,34 Гц. Угол сканирования: 0° - 360°. Оптическое увеличение: 4Х.
Фильтр
Мой заказ