ГлавнаяКаталогИзмерение параметров лазеров, оптики и оптоэлектроникиИзмерительное оборудование для оптики и полупроводниковых пластинАтомно-силовые микроскопы (АСМ / AFM)NANOVIEW - сканирующий атомно-силовой микроскоп
NANOVIEW - сканирующий атомно-силовой микроскоп
NANOVIEW - это сканирующий атомно-силовой микроскоп. Прибор предназначен для высокоточного исследования поверхности материалов на наноуровне с широким набором функций и режимов работы.
- Интегрированная система сканирующего зонда и образцовой платформы.
- Частота сканирования: 0,6 - 4,34 Гц.
- Диапазон сканирования XY: до 20 мкм.
- Диапазон сканирования Z: до 2 мкм.
- Точное позиционирование зонда перпендикулярно образцу.
- Прецизионный держатель зонда для работы с газами и жидкостями.
Для сканирования поверхности используется пьезоэлектрический сканер, способный перемещать либо образец, либо зонд с субнанометровой точностью в трех направлениях. В процессе сканирования система обратной связи постоянно регулирует расстояние между зондом и образцом, поддерживая заданный уровень взаимодействия. В контактном режиме поддерживается постоянная сила прижатия зонда, в то время как в колебательном режиме контролируется амплитуда колебаний кантилевера, возбуждаемого на резонансной частоте.
Образцы исследований
Получаемая информация о перемещениях зонда обрабатывается компьютером и преобразуется в трехмерное изображение поверхности с атомарным разрешением. Благодаря такой конструкции NANOVIEW позволяет не только визуализировать наноструктуру, но и изучать различные физико-химические свойства поверхности, включая механические характеристики, адгезию, распределение электрических потенциалов и магнитных полей.Особенности:
- Высокая устойчивость к помехам.
- Простота настройки и удобство эксплуатации.
- Ручное или автоматическое управление серводвигателем.
- Точное позиционирование области сканирования.
- Наблюдение в реальном времени.
| Параметр | Значение | Ед. измерения | |
|---|---|---|---|
|
Режим работы
|
контактный, колебательный |
|
|
|
Размер образца
|
≤ 90х20 | мм | |
|
Диапазон сканирования XY
|
до 20 | мкм | |
|
Диапазон сканирования Z
|
до 2 | мкм | |
|
Разрешение сканирования XY
|
0,2 | нм | |
|
Разрешение сканирования Z
|
0,05 | нм | |
|
Диапазон движения образца
|
± 6,5 | мм | |
| Оптическое увеличение | 4Х |
|
|
| Оптическое разрешение | 2,5 | мкм | |
| Длительность импульса шагового двигателя | 10 ± 2 | мс | |
| Частота сканирования | 0,6 - 4,34 | Гц | |
|
Угол сканирования
|
0 - 360 | ° | |
|
Управление сканированием
|
18-битный ЦАП в направлении XY, 16-битный ЦАП в направлении Z. |
|
|
|
Сбор данных
|
14-битный АЦП, двойной 16-битный АЦП, многоканальный синхронный сбор. | ||
|
Обратная связь
|
Цифровая обратная связь DSP | ||
|
Интерфейс связи
|
USB 2.0 / 3.0 | ||
|
Операционная система
|
Windows XP/7/8/10 | ||
|
Габариты
|
430х380х710 | мм | |
|
Вес
|
30 | кг | |
- Топография поверхности.
- Измерение размеров частиц на поверхности.
- Биологические исследования.
- Нанотехнологии.
- Материаловедение.
Мой заказ