ГлавнаяКаталогИзмерение параметров лазеров, оптики и оптоэлектроникиАнализаторы профиля лазерного пучкаКамеры для анализа профиля лазерного пучкаSSP-MP-BP - камеры для анализа лазерного пучка высокой мощности
SSP-MP-BP - камеры для анализа лазерного пучка высокой мощности
SSP-MP-BP - серия камер для анализа лазерного пучка высокой мощности. Программный интерфейс отображает 2D и 3D распределения энергии, а также характеристики профиля лазерного луча, такие как диаметр пятна, расходимость и эллиптичность.
- Спектральный диапазон: 340 - 1100 нм.
- Максимальная мощность: 500 Вт.
- Диаметр пучка: 32 мкм - 9,8 мм.
- Высокое разрешение до 3,45 мкм.
Камеры для анализа лазерного пучка высокой мощности SSP-MP-BP являются оптимальным решением для работы с лазерными пучками высокой мощности, максимально допустимая мощность до 500 Вт.. Устройства этой серии отличаются широким спектральным диапазоном от 340 до 1100 нм, простотой эксплуатации и высокой точностью измерений. Минимальный размер пучка 32 / 50 мкм.
При использовании камеры пользователь перемещает прибор или источник излучения для нахождения оптимального положения. Затем с помощью встроенного программного обеспечения анализатор автоматически производит измерение и анализ различных параметров оптического излучения.Программный интерфейс выводит данные в виде двумерных или трехмерных графиков распределения энергии, а также характеристики профиля лазерного луча, такие как диаметр пятна, угол расхождения и эллиптичность.
Результат обработки данных, полученных с помощью анализатора серии SSP-MP-BP
.
Параметр | Значение | Ед. Измерения |
---|---|---|
Спектральный диапазон |
340 – 1100 | нм |
Минимальный диаметр пучка
|
32 / 50 | мкм |
Разрешение | 3,2 / 3,45 | мкм |
Максимальная мощность излучения
|
500 / 100 | Вт |
Фоточувствительная область
|
5,7 x 4,3 | мм2 |
Интерфейс передачи данных
|
USB 3.0 |
|
Рабочая температура
|
15~25 | °С |
Вес
|
< 1,5 | кг |
- Профилирование лазерных пучков высокой мощности в лабораторных условиях.
- Мониторинг параметров лазерных пучков высокой мощности на производстве.
- Анализ профиля пучка непрерывного излучения.