BG - отражательные рельефно-фазовые решетки
- Материал: силикатное стекло.
- Диапазон длин волн: 300 - 1500 нм.
- Дифракционная эффективность: 60~80%.
- Покрытие: алюминиевая пленка (без защиты).
- Период решетки: 300 - 1200 штр/мм.
- Угол блеска: 2,58 - 36,86°.
Решетки серии BG относятся к виду отражательных рельефно-фазовых решеток, которые используются для достижения максимальной эффективности в определенном порядке дифракции. Они широко используются в областях, связанных со спектроскопией.
Проблема классических дифракционных решеток заключается в том, что большая часть мощности излучения уходит в нулевой порядок, который не подвергается дифракции и не несет никакой информации о длине волны света. Для практических применений наиболее эффективной является решетка, способная концентрировать дифрагированное излучение в спектре одного порядка, ослабляя остальные, в том числе и спектр нулевого порядка. Этого можно достичь с помощью особого ступенчатого рельефа, обеспечивающего дополнительную разность хода.
Схема дифракции на отражательной рельефно-фазовой решетке
Ключевым параметром рельефно-фазовых решеток является угол блеска, равный углу наклона "ступенек" относительно поверхности. Этот параметр позволяет регулировать угол отражения и эффективность дифракции. Такая конструкция обеспечивает оптимальную работу устройства на расчетной длине волны, называемой длиной волны блеска, для которой наблюдается максимальная интенсивность спектра.
| Параметр | Значение | Ед.измерения | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
Материал
|
Силикатное стекло |
|
||||||
| Размеры |
25 × 25
|
мм | ||||||
| Допуск на размеры |
± 0,1
|
мм | ||||||
|
Толщина |
6 | мм | ||||||
|
Допуск на толщину
|
± 0,1
|
мм | ||||||
| Покрытие |
Алюминиевая пленка (без защитного слоя)
|
|
||||||
| Длина волны блеска | 300 - 1500 | нм | ||||||
|
Угол блеска |
2,58 - 36,86 |
° |
||||||
| Период решетки | 300 - 1200 |
штр/мм |
||||||
- Спектроскопические исследования.
- Оптические измерительные системы.
- Устройства управления спектральными характеристиками излучения.
- Научные исследования.
- Системы мониторинга технологических процессов.
