LIV - интегрированная тестовая система
LIV - модульное комбинированное решение, которое настраивается в соответствии с потребностями заказчика для тестирования устройств на основе оптической подсборки OSA (Optical Sub-Assembly).
- Поддержка тестирования внутренних перекрестных помех.
- Полный комплект креплений для установки различных типов гибких и штыревых корпусов.
- Максимальная скорость тестирования 25G.
Комплексный тестер LIV предназначен для контроля температуры, построения характеристик LIV, PV и тестирования параметров LD (лазерных диодов), TO-CAN (корпусов типа TO), TOSA (оптических передающих модулей), DML, EML (лазеров прямой и электроабсорбционной модуляцией), SOA-EML (EML, интегрированных с полупроводниковым оптическим усилителем) и дисковых устройств с термоэлектрическим сопротивлением (TEC) в оптической отрасли связи, а также для тестирования спектральных характеристик (требуется внешний спектрометр). Система объединяет в себе такие функции, как регулятор температуры, источник тока, источник напряжения, амперметр, вольтметр и измеритель оптической мощности.
Особенности:- Возможность тестирования устройств VECSEL/FP/DFB/DML/EML/SOA-EML/DBR в любых корпусах.
- Режим импульсного тестирования.
- Возможность тестирования обратных токов утечки лазерных диодов (LD) и напряжения Vbr.
- Опция тестирования темнового тока MPD.
- Поддержка развёртки LIV с любой конфигурацией времени шага от 2 мс до 6 с.
- Возможность тестирования PV-кривых (EA) и DC-ER, тестирования обратного напряжения Vbr.
- Опция контроля температуры термоэлектрического датчика (TEC).
- Полный набор аксессуаров (PD большой площади/интегрирующая сфера/оснастка TO).
- Интеграция полного набора алгоритмов, продуманная конструкция, выраженные особенности для обеспечения точности и повторяемости результатов тестирования.
| Параметр | Значение | Ед. измерения |
|---|---|---|
| Тип корпуса | VECSEL/FP/DFB/DML/EML/SOA-EML, любой тип корпуса | - |
| Выходной ток возбуждения ЛД | 0 ~ 500 | мА |
| Тест прямого напряжения на ЛД | 0 ~ 5,0 | В |
| Выходное обратное напряжение на ЛД | 0 ~ 30,0 | В |
| Тест тока обратной утечки ЛД | 0 ~ 1000 | мкА |
| Выходной обратный ток ЛД | 0 ~ 1000 | мкА |
| Тест обратного пробойного напряжения Vbr ЛД | 0 ~ 30,0 | В |
| Выходное обратное напряжение контрольного ФД (MPD) | 0 ~ 5,0 | В |
| Тест темнового тока MPD | 0 ~ 300 | нА |
| Тест тока засветки MPD | 0 ~ 3000 | мкА |
| Расширенный выходной ток (4 канала) |
0 ~ 250, возможно расширение до 0~500 по индивидуальному заказу |
мА |
| ест падения напряжения на расширенном токе (4 канала) | 0 ~ 5,0 | В |
| Детектирование оптической мощности | 0 ~ 10, опционально внешний PIN-фотодиод или интегрирующая сфера для большей мощности | мВт |
| Рабочая длина волны |
800 ~ 1700 (с поддержкой тестирования VCSEL устройств на 850 нм) |
нм |
| Выходное напряжение электроабсорбционного модулятора | -5,0 ~ +5,0 | В |
| Тест темнового тока электроабсорбционного модулятора | 0 ~ 1 | мА |
| Тест тока электроабсорбционного модулятора | -200 ~ +200 | мА |
| Ток TEC | -1 ~ +1 | А |
| Напряжение TEC | -1,6 ~ +1,6 | В |
| Термистор | NTC, 10 кОм при 25°C | |
| Управление температурой | -40 ~ +100, скорость: типичное значение 5 с (от 25°C до 45°C) | °C |
| Коммуникационный порт | RS232 | |
| Питание | AC 100~240 В, 50/60 Гц | |
| Размеры | 360 × 300 × 110 | мм |
- Комплексное тестирование устройств OSA.
LIV - интегрированная тестовая система 413.57(Kб)
Мой заказ