VDL-SVS-XX - регулируемая оптическая линия задержки на 537 пс
- Оптическая задержка до 537 пс.
- Рабочая длина волны 1064/1310/1550 нм.
- Вносимые потери < 2 дБ.
- Обратные потери 55 дБ.
Линия задержки VDL-SVS-XX - это электроуправляемая высокоскоростная волоконно-оптическая линия задержки с отражательным элементом, подходящая для высокочувствительных волоконно-оптических интерферометров и других применений. Компонент обладает высокой прочностью, высокой скоростью перестройки (540 пс/с) и точностью регулировки (минимальный размер шага - 3 мкм). Уникальная технология регулировки оптического пути может обеспечить низкие вносимые потери и их малое изменение. Высокопрочная усиленная конструкция позволяет использовать оптическую линию задержки для научных исследований. Для проведения экспериментов и исследований предусмотрена возможность изменения конструкции на заказ, оптические и электрические детали могут быть изменены в соответствии с требованиями заказчика.
- Контроль задержки с высоким разрешением.
- Контроль скорости перестройки.
- Низкие вносимые потери.
- Широкий диапазон рабочих температур.
| Параметр | Значение | Ед. измерения | |||
|---|---|---|---|---|---|
|
Длина волны
|
1064/1310/1550 | нм | |||
|
Величина оптической задержки
|
537 | пс | |||
|
Разрешение задержки
|
3,3 | фс | |||
|
Скорость
|
540 | пс/с | |||
|
Вносимые потери
|
≤ 2 | дБ | |||
|
Отклонения вносимых потерь
|
± 0,5 | дБ | |||
|
PDL (потери, зависящие от поляризации)
|
0,1 | дБ | |||
|
Обратные потери
|
55 | дБ | |||
|
Коэффициент экстинкции
|
18 | дБ | |||
|
Мощность разрушения оптического материала
|
≤ 300 | мВт | |||
|
Источник питания постоянного тока
|
DC + 12 V / GND DC | ||||
|
Потребляемая мощность
|
200 | мА | |||
|
Режим управления
|
RS232 | ||||
|
Размеры (Д × Ш × В)
|
(зависит от длины волны) | ||||
|
Рабочая температура
|
-40..+65 | ℃ | |||
|
Температура хранения
|
-65..+85 | ℃ | |||
|
Тип волокна
|
SMF28e | ||||
|
Длина волокна
|
1 | м | |||
|
Электрический разъем
|
J30J-15-TJW | ||||
- Оптическая когерентная томография (OCT).
- Оптический анализ спектра Фурье.
- Оптоволоконные интерферометры.
- Оптическое мультиплексирование по времени (OTDM).
- Генерация и измерение оптической фазовой задержки.
