3D-OP-8000 - 3D оптические профилометры для анализа больших образцов

3D-OP-8000 - измерительные станции на базе оптического 3D профилометра для анализа больших образцов.
  • Аналог сканирующего электронного микроскопа.
  • Измерение шероховатости и 3D топографии с субнанометровой точностью.
  • Диапазон перемещения столика до 300 мм x 300мм, вес образца до 5 кг.
  • Высокая скорость сканирования до 120 мм/с.
  • Широкий выбор объективов под различные задачи: от 1x до 115x.

Принцип работы прибора основан на интерференции света двух когерентных источников излучения с одинаковой частотой, одинаковым направлением колебаний и постоянной разностью фаз.

Интерферометр с фазовым сдвигом использует источник излучения в определенном диапазоне длин волн для подтверждения интерференции света между отраженным от целевой и отраженным от эталонной поверхности светом. Разница между пиками яркости интерференционных полос представляет собой разницу высот.

Преимущества модели

1. Получение микроскопической трехмерной морфологии со сверхвысокой точностью. Профилометр серии ER230 может использоваться для получения трехмерной морфологии поверхности с субнанометровой точностью. При использовании специализированного ПО, оснащенного алгоритмом извлечения слабоинтенсивного света, для обработки и анализа структуры, максимальная среднеквадратичная повторяемость может достигать 0,005 нм.

2. Сверхвысокая скорость, значительно повышающая эффективность измерений. Серия ER230 оснащена широким спектром высокоскоростных нанопьезоэлектрических керамических сканеров с максимальной скоростью сканирования 400 мкм/с и частотой 3200 Гц. Это позволяет использовать прибор на автоматизированных производственных линиях.

3. Алгоритм SST+GAT. Благодаря разработанному в рамках отраслевой инициативы алгоритму SST+GAT, серия профилометров ER230 может мгновенно завершить сбор данных по 2,3 миллионам точек.

4. Большой угол обзора и высокая точность. Интерференция белого света обеспечивает измерение через фазу оптической интерференции. Точность обнаружения может составлять <1 нм при любом увеличении.

5. Широкий выбор измерительных инструментов, доступных для различных промышленных применений. Оснащение прибора включает в себя измерительные инструменты международного стандарта для эффективного и простого анализа 3D-данных.

6. Встроенный механизм воздушного буфера - можно не опасаться случайных касаний.

7. Инновационная технология с заниженным центром тяжести существенно снижают вибрационные воздействия.

8. Устойчивость к вибрациям увеличена в 2,7 раза по сравнению с моделью EX230. На частотах более 5 Гц горизонтальная и вертикальная изоляция более 90%:

9. Многофункциональный пульт управления позволяет вполовину сократить время выполнения операций.


Принципы интерферометрии

1. Интерференция происходит при наложении двух когерентных однонаправленных волн с равной частотой и разностью фаз.

2. Разница между максимальной и минимальной яркостью точек А и В интерференционной картины соответствует разности высоты точек поверхности.

3. Измерения с помощью PSI – Phase Shifting Interferometry, фазосдвигающей интерферометрии – основаны на регистрации интерферограмм, формируемых в интерферометре пучками света, отражёнными эталонной и измеряемой поверхностями. Для определения высоты рельефа поверхности используются несколько интерферограмм с известным фазовым сдвигом и значение длины волны источника излучения.

4. Метод VSI – Vertical Scanning Interferometry – основан на фиксации интерференционных картин в белом свете в процессе движения образца по вертикали. Когда длина оптического пути становится равной длине оптического пути до эталонной поверхности, яркость интерференционных полос достигает максимума. Расстояние по оси Z, на котором была достигнута максимальная яркость, фиксируется при помощи сенсора CCD, далее строится 3D-профиль поверхности или устанавливается разность высот.


Отличие 3D-OP-8000 от других моделей

1. Малое среднее время сканирования.

Увеличена эффективность сканирования (число сканирований в секунду).


Анализ шероховатости поверхности

1. Стандарт шероховатости линии Ra/Rz по ISO-4287.

Ra – это среднее арифметическое абсолютного смещения линии.

Rz – это параметр, равный сумме самой высокой вершины контура Rp и самой низкой точки контура Rv.

2. Стандарт шероховатости поверхности Sa/Sz по ISO-2517.

Прежним моделям профилометров были свойственны некоторые недостатки при измерении шероховатости поверхностей:

1) Проблемы интерферометрии слишком больших перепадов высот;
2) Царапины на поверхности;
3) Ограничения по жесткости измеряемой поверхности.

Возможности модели 3D-OP-8000 позволяют избежать перечисленных недостатков:

  • Доступна опция измерения шероховатости как для линий, так и для поверхностей;
  • Отлично подходит для микроскопических структур;
  • Измерение поверхностей любой степени мягкости;
  • Неразрушающие измерения.


Измерение поперечного сечения и линейных размеров в любом положении

Профилометр модели 3D-OP-8000 способен измерять высоту, плоскостность, ширину, угол, радиус и др. параметры. Для их измерения устройству достаточно одного сканирования.


Измерение поперечного сечения и линейных размеров в любом положении


Измерение контрастности контура

Любое измерение – в один клик!

Поддержка различных мод сшивки

Поддерживает различные настройки мод сшивки и позволяет напрямую вводить значения диапазона сшивки, что делает процесс измерения более удобным и эффективным.

  • Форма квадрата.

             

  • Форма квадратной рамки.

   

  • Форма круглой рамки.

      

Общие технические параметры

Параметр
Значение Ед. измерения
 Измерительный блок
Эффективное разрешение камеры 5 / 2,3 мегапикселя
Количество точек 1920x1200 точек
Режимы сканирования  PSI,VSI  
Материал сканирующего модуля Пьезоэлектрическая керамика  
Платформа    
Площадь сканирования 210x110 300x300 мм
Размер платформы 320x220 390x390 мм
Тип управления Моторизованное Моторизованное  
Разрешение 0,05 0,01 мкм
Повторяемость ±1 <1 мкм
Точность позиционирования ±2 ±3 мкм
Максимальная скорость движения 80 120 мм/с
Максимальная нагрузка 7,5 5 кг
Регулируемый угол ±10 °
Регулировка уровня Автоматическая моторизованная  
Вращательная платформа Доступна по запросу  
Дополнительные объективы    
Увеличение 1X, 2.5X, 5X, 5XL, 10X, 10XL, 20X, 23X, 50X, 100X, 115X  
Сканирование по оси Z    
Диапазон сканирования 150
или 219/233/350 (опционально)
мм
Тип управления Моторизованное  
Режим фокусировки Автоматическая моторизованная фокусировка  
Функции программного обеспечения    
Сшивание изображений  
Контроллер  
Сравнение формы  
Циклические измерения  
Расчёт конической постоянной К  
Пакетный экспорт отчётов  
Кривая фокусировки  
Выделение/исключение области интереса  
Относительное/абсолютное перемещение платформы  
Автоматическая яркость  
Многоточечные измерения  
Автоподстройка под ход камеры  
Защита источника света в режиме ожидания  
Установка Напольная  
Виброизоляция Включена  

Требования к среде эксплуатации

Параметр
Значение Ед. измерения
Оптимальная рабочая температура
18 - 22 °C
Допустимая рабочая температура
10 - 35 °C
Температура хранения
0 - 45 °C
Относительная влажность
20 - 80 %
Источник питания
AC 100-240V, 50~60 Гц, ~1A

Параметры объектива

Параметр
    Значение    Ед. измерения
Увеличение объектива L-5Х L-10Х 23Х
Рабочее расстояние 0,003 0,08 0,3 0,6 мм
Угол обзора (FOV)  2,3 Мп 18 x 11 3,7 x 2,3 1,83 x 1,13 0,8 x 0,5 мм2
 5 Мп 8,5x 7,1 1,7 x 1,4 0,85 x 0,71 0,37 x 0,31
Размер пикселя  2,3 Мп 9,5 1,9 0,96 0,42 мкм
 5 Мп 3,5 0,7 0,35 0,15
Размер пикселя 0,2 4,6 17,5 36,9 мкм

Параметр Значение Ед. измерения
Увеличение объектива 2,5Х 10Х 20Х 50Х 100Х 115Х
Рабочее расстояние 10,3 9,3 7,4 4,7 3,4 2 0,7 мм
Угол обзора (FOV)  2,3 Мп 7,3 x 4,6 3,7 x 2,3 1,8 x 1,2 0,91 x 0,58 0,37 x 0,23 0,18 x 0,12 0,16 x 0,1 мм2
 5 Мп 3,4 x 2,8 1,7 x 1,4 0,85 x 0,71 0,43 x 0,36 0,17 x 0,14 0,09 x 0,07 0,075 x 0,06
Размер пикселя  2,3 Мп 3,8 1,9 0,96 0,48 0,19+ 0,1 0,08 мкм
 5 Мп 1,4 0,7 0,35 0,175 0,07 0,035 0,03
Размер пикселя 4,3 7,4 17,5 23,6 33,4 44,4 53,1 мкм

Совместимые объективы.

1. Прецизионная оптика.
   
  • Микролинзы.
 
  • Шероховатость поверхностей.
 
  • Измерение кривизны поверхностей.



   
 
       
         
2. Физика полупроводников.
   
  • Измерение шероховатости подложек.
 
  • Миниатюризация электронных устройств.
 
  • Керамические подложки.
     
 
       
         
3. Электроника.          
  • Рамы смартфонов.
 
  • Оптико-электронный перископ.
 
  • Клавиши мобильных телефонов.
        


 
       
         
4. Медицинское оборудование.        
  • Микрофлюидистика и микрогидродинамика.
 
  • Имплантология.
 
  • Внутриглазные линзы.
   
 
       
         
5. Микро- и нано-технологии.    
  • МЭМС.
 
  • Лазерная обработка материалов.
 
  • Наноимпринт.
   
 
       
         
6. Hовые источники энергии.
   
  • Медная/алюминиевая фольга.
 
  • Перовскиты.
 
  • Фотовольтаика.
   
         
         
         
         

Модель Описание
3D-OP-8000-2 3D оптический профилометр для анализа больших образцов. Эффективное расширение камеры 2,3 Мп. Диапазон сканирования по Z 150 - 350 мм. Максимальная скорость сканирования 400 мкм/с.
3D-OP-8000-5 3D оптический профилометр для анализа больших образцов. Эффективное расширение камеры 5 Мп. Диапазон сканирования по Z 150 - 350 мм. Максимальная скорость сканирования 400 мкм/с.
Назад к разделу

Мой заказ