WLI-AT-R - оптический профилометр поверхности

WLI-AT-R - оптический 3D профилометр. Прибор служит для измерения шероховатости с нанометровой точностью и отличается высокой скоростью работы.
  • Измерение шероховатости, высоты ступеньки (step-height), областей, контуров, плоскостности.
  • Поддержка стандартов ISO 4287, ISO 16610-21, ISO25178, ISO11562 и др.
  • Интерферометр белого света (WLI): PSI, VSI.
  • Диапазон сканирования по Z: 5000 мкм.
  • Центральная длина волны: 520 нм.
  • Максимальная скорость сканирования: 400 мкм/с.
  • Погрешность измерений 1σ: 0,5%.

Принцип работы профилометра WLI-AT-R основан на интерференции света двух когерентных источников излучения с одинаковой частотой, одинаковым направлением колебаний и постоянной разностью фаз.

Интерферометр с фазовым сдвигом использует источник излучения в определенном диапазоне длин волн для подтверждения интерференции света между отраженным от целевой и отраженным от эталонной поверхности светом. Разница между пиками яркости интерференционных полос представляет собой разницу высот.

Измерения с помощью PSI – Phase Shifting Interferometry, фазосдвигающей интерферометрии – основаны на регистрации интерферограмм, формируемых в интерферометре пучками света, отражёнными эталонной и измеряемой поверхностями. Для определения высоты рельефа поверхности используются несколько интерферограмм с известным фазовым сдвигом и значение длины волны источника излучения.

Метод VSI – Vertical Scanning Interferometry – основан на фиксации интерференционных картин в белом свете в процессе движения образца по вертикали. Когда длина оптического пути становится равной длине оптического пути до эталонной поверхности, яркость интерференционных полос достигает максимума. Расстояние по оси Z, на котором была достигнута максимальная яркость, фиксируется при помощи сенсора CCD, далее строится 3D-профиль поверхности или устанавливается разность высот.

Модель реализует измерения профиля поверхности пери помощи обеих технологий интерферометрии.

Преимущества:

1. Получение микроскопической трехмерной морфологии со сверхвысокой точностью. Профилометр серии WLI-AT-R может использоваться для получения трехмерной морфологии поверхности с субнанометровой точностью. При использовании специализированного ПО, оснащенного алгоритмом извлечения слабоинтенсивного света, для обработки и анализа структуры, максимальная среднеквадратичная повторяемость может достигать 0,005 нм.

  • Уникальный источник белого света на светодиодах со специальной модуляцией. Центральная длина волны серии в зеленой полосе 520 нм.

  • Высокочувствительный высокоскоростной датчик с алгоритмом обнаружения слабого света.

  • Максимальный угол на гладкой поверхности составляет 53°, а локальный угол наклона профиля может достигать 90°.

  • Многолинзовая система проходит строгий контроль и калибровку перед поставкой.

2. Сверхвысокая скорость, значительно повышающая эффективность измерений. Серия WLI-AT-R оснащена широким спектром высокоскоростных нанопьезоэлектрических керамических сканеров с максимальной скоростью сканирования 400 мкм/с и частотой 3200 Гц. Это позволяет использовать прибор на автоматизированных производственных линиях.

  • Быстрый сбор данных. CMOS-камера 2,3 Мп (5 Мп по запросу) с высоким уровнем светочувствительности. Частота сканирования 169-3200 Гц. Наноразмерная пьезокерамика.

3. Алгоритм SST+GAT. Благодаря разработанному в рамках отраслевой инициативы алгоритму SST+GAT, серия профилометров WLI-AT-R может мгновенно завершить сбор данных по 2,3 миллионам точек.

Схема процесса обработки данных WLI-AT-R

Схема процесса обработки данных других аналогичных устройств

4. Большой угол обзора и высокая точность. Интерференция белого света обеспечивает измерение через фазу оптической интерференции. Точность обнаружения может составлять <1 нм при любом увеличении.

5. Широкий выбор измерительных инструментов, доступных для различных промышленных применений. Оснащение прибора включает в себя измерительные инструменты международного стандарта для эффективного и простого анализа 3D-данных.

  • Измерение размеров поперечного сечения и плоскостности в любом положении. Профилометр модели WLI-AT-R способен измерять высоту, плоскостность, ширину, угол, радиус и др. параметры. Для их измерения устройству достаточно одного сканирования.


  • Измерение объёма и площади в любой пространственной конфигурации.

  • Измерение контрастности контура.


Модель выгодно отличается от предложения конкурентов по целому ряду параметров:

Модель конкурентов WLI-AT-R
 
Число пикселей 1,9 Мп 2,3 Мп
Максимальная скорость сканирования 171 мкм/с 400 мкм/с
Диапазон коэффициента отражения 0,05% - 100% 0,02% - 100%
RMS повторяемость 0,008 нм 0,005 нм
1-σ повторяемость 0,1% 0,09%
1-σ точность 0,3% 0,5%
Сроки поставки 7-8 месяцев 1-1,5 месяца
Сервис       ❌Экспортный контроль
❌Отсутствие техподдержки
❌Отсутствие кастомизации
            ✅Отсутствие экспортных рисков
✅Возможности кастомизации программного обеспечения
✅Качественная техподдержка (в том числе от производителя)



Общие технические параметры

Параметр
Значение Ед. измерения
Количество пикселей
2,3 млн.
Принцип сканирования
интерференция белого света
Сканирующий привод
пьезоэлектрическая керамика
Диапазон сканирования по Z
5000 мкм
Максимальная скорость сканирования
400 мкм/с
Отражательная способность исследуемого объекта
0,02 - 100 %
Центральная длина волны
520 нм
Масса
2 кг
Разрешение КМОП-матрицы
0,001 нм
Среднеквадратичная воспроизводимость
0,005 нм
Воспроизводимость шага
0,09 %
Точность
0,5 %

Требования к среде эксплуатации

Параметр
Значение Ед. измерения
Оптимальная рабочая температура
18 - 22 °C
Допустимая рабочая температура
10 - 35 °C
Температура хранения
0 - 45 °C
Относительная влажность
20 - 85 %
Источник питания
AC 100-240V, 50~60 Гц, ~1A

Параметры объектива

Параметр Значение Ед. измерения
Увеличение объектива 2,5Х 10Х 20Х 50Х 100Х 115Х
Рабочее расстояние 10,3 9,3 7,4 4,7 3,4 2 0,7 мм
Угол обзора 7,3 x 4,6 3,7 x 2,3 1,8 x 1,2 0,91 x 0,58 0,37 x 0,23 0,18 x 0,12 0,16 x 0,1 мм2
Угол обзора 4,3 7,4 17,5 23,6 33,4 44,4 53,1 °
Размер пикселя 3,8 1,9 0,96 0,48 0,19 0,1 0,08 мкм
Точность сканирования XY 2 1 0,5 0,25 0,13 0,06 0,04 мкм
Количество точек сканирования 1920 x 1200
Скорость сканирования 169 - 3200 Гц

Параметры предметного столика

Параметр Значение Ед. измерения
Максимальный диапазон перемещения 100 x 70 100 x 100 мм
Режим перемещения Ручной Электрический
Разрешение перемещения 1000 0,01 мкм
Точность перемещения - <0,2 мкм
Точность позиционирования - 3 мкм
Максимальная нагрузка 3 2 кг
Максимальная нагрузка 3 2 кг
Максимальная скорость перемещения - 60 мм/с
Регулировка угла наклона ±5 ±5 °

 
  • Новые источники энергии.

Медная фольга

           
 
  • Прецизионная оптика.


Линза субмикрометрового размера

                               
 
  • Прецизионная обработка. 


Металлическая фольга

 
 
  • Контроль качества ЖК-дисплеев.


LED

 
 
  • Аэрокосмическое приборостроение.


Повреждение поверхности материала

 
 
  • Изучение свойств полимерных материалов.


Поверхность полимера

 
 
  • Измерительные инструменты 3D-данных.
 


Печатная плата

 

Состав системы:

  • Основной модуль системы - профилометр.
  • Платформа (ручное перемещение, электрическое, кастом).
  • Контроллер (в т.ч. мышь, монитор и клавиатура).
  • ПО (измерительная программа устройства и метрологическое ПО MountainsMap).
  • Объектив.
  • Система активной виброизоляции.
  • Блок горизонтальной регулировки в защитном кейсе.
  • Руководство пользователя.
  • Сертификат качества продукции.

Модель Описание
WLI-AT-R Оптический профилометр поверхности. Принцип сканирования: интерференция белого света. Диапазон сканирования по Z: 5000 мкм. Центральная длина волны: 520 нм. Максимальная скорость сканирования: 400 мкм/с. Разрешение измерений (среднеквадратичная повторяемость): 0,005 нм. Погрешность измерений 1σ: 0,5%. Контроллер. ПО для визуализации. ПО для анализа. Система активной виброизоляции.
2.5x Линза для объектива. Увеличение 2.5х. Поле зрения 7,3 x 4,6 мм2. Рабочее расстояние 10,3 мм.
5x Линза для объектива. Увеличение 5х. Поле зрения 3,7 x 2,3 мм2. Рабочее расстояние 9,3 мм.
10x Линза для объектива. Увеличение 10х. Поле зрения 1,8 x 1,2 мм2. Рабочее расстояние 7,4 мм.
20x Линза для объектива. Увеличение 20х. Поле зрения 0,91 x 0.58 мм2. Рабочее расстояние 4,7 мм.
50x Линза для объектива. Увеличение 50х. Поле зрения 0,37 x 0,23 мм2. Рабочее расстояние 3,4 мм.
100x Линза для объектива. Увеличение 100х. Поле зрения 0,09 x 0,07 мм2. Рабочее расстояние 2 мм.
115x Линза для объектива. Увеличение 115х. Поле зрения 0,16 x 0,1 мм2. Рабочее расстояние 0,7 мм.
Назад к разделу

Мой заказ