Оптические 3D профилометры (интерферометры белого света)

 
ER230 - оптический профилометр поверхности
ER230 - оптический профилометр поверхности Принцип сканирования: интерференция белого света. Источник излучения: белый свет. Центральная длина волны: 520 нм. Диапазон сканирования по Z: 5000 мкм. Отражательная способность исследуемого объекта: 0,02 - 100%. Частота сканирования: 169 - 3200 Гц.
Заказать
EX230 - оптический профилометр поверхности
EX230 - оптический профилометр поверхности Принцип сканирования: интерференция белого света. Источник излучения: белый свет. Центральная длина волны: 520 нм. Диапазон сканирования по Z: 400 мкм. Отражательная способность исследуемого объекта: 0,02 - 100%. Частота сканирования: 169 - 3200 Гц.
Заказать
NA500 - оптический профилометр поверхности
NA500 - оптический профилометр поверхности Принцип сканирования: интерференция белого света. Источник излучения: белый свет. Центральная длина волны: 465 нм. Диапазон сканирования по Z: 100 мкм. Отражательная способность исследуемого объекта: 0,02 - 100%. Частота сканирования: 77 - 20000 Гц.
Заказать
FTMD-T001 - измерители толщин тонких пленок
FTMD-T001 - измерители толщин тонких пленок Диапазон длин волн 190-1100 нм. Толщина измерения 1 нм – 100 мкм. Разрешение 0,01 нм. Количество слоев до 10.
Заказать
FTMD-T010 - измерители толщин тонких пленок
FTMD-T010 - измерители толщин тонких пленок Диапазон длин волн 250-1050 нм. Толщина измерения 10 нм – 100 мкм. Разрешение 0,01 нм. Количество слоев до 10.
Заказать
FTMD-T050 - измерители толщин тонких пленок
FTMD-T050 - измерители толщин тонких пленок Диапазон длин волн 400-850 нм. Толщина измерения 50 нм – 100 мкм. Разрешение 0,01 нм. Количество слоев до 10.
Заказать
FTMD-T100 - измерители толщин тонких пленок
FTMD-T100 - измерители толщин тонких пленок Диапазон длин волн 900-1700 нм. Толщина измерения 100 нм – 250 мкм. Разрешение 0,01 нм. Количество слоев до 10.
Заказать
FTMD-X010 - измерители толщин тонких пленок
FTMD-X010 - измерители толщин тонких пленок Диапазон длин волн 250-1700 нм. Толщина измерения 10 нм – 250 мкм. Разрешение 0,01 нм. Количество слоев до 10.
Заказать
FTMDS - конфокальные датчики смещения
FTMDS - конфокальные датчики смещения Разрешение до 2 нм. Возможность измерения наклона до ±48°. Минимальный диаметр измерительного зонда 8 мм.
Заказать
SSP-ELL-G1 - эллипсометр для анализа решеток
SSP-ELL-G1 - эллипсометр для анализа решеток Диапазон длин волн 245-1000 нм. Диапазон измерения толщины 0,5 мкм – 20 мкм. Воспроизводимость измерения толщины образца 0,01 мкм.
Заказать
ES01 - спектроскопические эллипсометры
ES01 - спектроскопические эллипсометры Диапазон длин волн 193 – 2500 нм. Воспроизводимость измерения толщины 0,01 нм. Воспроизводимость измерения показателя преломления 0,0005. Время измерения 5 – 10 с.
Заказать
EMPro - лазерный эллипсометр
EMPro - лазерный эллипсометр
Длина волны (He-Ne лазер) 632,8 нм. Точность определения толщины пленки 0,01 нм. Точность определения показателя преломления 5×10-4. Время измерения 0,8 с.

Заказать
EGS01 - спектроскопические эллипсометры общего назначения
EGS01 - спектроскопические эллипсометры общего назначения Диапазон длин волн 193 – 2500 нм. Воспроизводимость измерения толщины 0,01 нм. Воспроизводимость измерения показателя преломления 0,0005. Время измерения полного спектра 10 с.
Заказать


Компания «Специальные Системы. Фотоника» предлагает оптическое измерительное оборудование для системного анализа поверхностей. Приборы всех серий обладают точностью субнанометрового уровня и оперативным обнаружением за 1 секунду. При использовании специализированного прилагаемого программного обеспечения для обработки и анализа трехмерной морфологии поверхности, максимальная среднеквадратичная повторяемость может достигать 0,002 нм.

В основе работы прибора лежит интерференция света двух когерентных источников излучения с одинаковой частотой, одинаковым направлением колебаний и постоянной разностью фаз. Центральная длина волны в приборах серии ER230 и EX230 составляет 520 нм (зеленый диапазон), серии NA500 - 465 нм (синий диапазон). 

Преимущества

Преимуществами оптических профилометров данных серий являются:

  1. Высокочувствительные КМОП-матрицы (2,3 и 5 млн пикселей).
  2. Специализированный объектив с увеличением до 115Х, с высокой светоотражающей способностью (0,02 - 100%).
  3. Пьезоэлектрический керамический блок с большим диапазоном сканирования (до 5000 мкм по Z), высокой точностью (до 0,2%) и быстродействием (400 мкм/с, 3,2 кГц).
  4. Максимальный угол обзора на гладкой поверхности составляет 53°, а угол наклона локального профиля может достигать 90°. 

Комплектация

Оптический профилометр поверхности - это сложная система. Для обеспечения высокой точности и качества проводимых измерений, система включает как аппаратную часть, так и прогрммную. Компания «Специальные Системы. Фотоника» также заботится о качественном использовании оборудования, обеспечивая конечного пользователя оригинальной инструкцией по эксплуатации (на английском или русском языке).

В состав системы входят:

  • Основной модуль системы - профилометр.
  • Платформа (ручное перемещение, электрическое, по индивидуальному запросу).
  • Контроллер (в т.ч. мышь, монитор и клавиатура).
  • Программное обеспечение (в т.ч. анализатор).
  • Объектив.
  • Блок горизонтальной регулировки в защитном кейсе.
  • Руководство пользователя.
  • Сертификат качества продукции.

Для получения дополнительной информации или оформления заказа, свяжитесь с нами любым удобным для Вас способом.


Мой заказ