ГлавнаяКаталогИзмерение параметров лазеров, оптики и оптоэлектроникиСистемы тестирования для оптоэлектроникиСистемы тестирования электрических параметров полупроводников
Системы тестирования электрических параметров полупроводников
M - зондовые станции
Ручная зондовая станция M-серии предназначена для исследования и разработки сложных высокоскоростных устройств, тестирование чипов и LD/LED/PD, испытания PCB/корпусных компонентов и др.
E - зондовые станции
Зондовая станция E-серии предназначена для проведения испытаний в полупроводниковой и оптоэлектронной отраслях, включая тестирование интегральных схем, LED/LD/PD компонентов, измерение световых параметров, ВАХ/СВХ характеристик, а также ВЧ-тестирование до 300 ГГц.
H - зондовые станции
Зондовая станция H-серии представляет собой решение для анализа наноразмерных структур. Оборудование оснащено системой пневматического перемещения платформы на воздушных подшипниках и трехуровневым подъемом платформы с зондами.
FA - зондовые станции
Зондовая станция FA-серии разработана для лабораторий анализа отказов. Станция обеспечивает проведение электрических измерений, лазерной модификации структур и анализа дефектов на кристальном уровне в широком температурном диапазоне.
C - зондовые станции
Зондовая станция C-серии – это решение для проведения измерений в широком температурном диапазоне от -100°C до +300°C. Оборудование оснащено герметичной измерительной камерой с системой подачи азота, что исключает обледенение образца при криогенных температурах.
CG - зондовые станции
Зондовая станция CG-серии представляет собой разработку для высокотемпературных и низкотемпературных измерений в условиях вакуума. Оборудование сочетает технологии сверхвысокого вакуума, автоматического управления и лазерной симуляции.
CGX - зондовые станции
Полуавтоматическая вакуумная зондовая станция CGX-серии предназначена для тестирования полупроводниковых пластин, MEMS-устройств и оптоэлектронных компонентов в условиях глубокого вакуума и экстремальных температур от 10K до 450K.
V - зондовые станции
Зондовая станция V-серии представляет собой новое поколение высокопроизводительного оборудования для полностью автоматизированного тестирования полупроводниковых пластин и компонентов.
X - зондовые станции
Полуавтоматическая зондовая станция X-серии предназначена для комплексного тестирования полупроводниковых устройств. Оборудование обеспечивает исследования в температурном диапазоне от -60°C до +300°C с поддержкой материалов SiC/GaN.
Фильтр
Мой заказ