Системы тестирования электрических параметров полупроводников

 
M - зондовые станции
M - зондовые станции Ручная зондовая станция M-серии предназначена для исследования и разработки сложных высокоскоростных устройств, тестирование чипов и LD/LED/PD, испытания PCB/корпусных компонентов и др.
Заказать
E - зондовые станции
E - зондовые станции Зондовая станция E-серии предназначена для проведения испытаний в полупроводниковой и оптоэлектронной отраслях, включая тестирование интегральных схем, LED/LD/PD компонентов, измерение световых параметров, ВАХ/СВХ характеристик, а также ВЧ-тестирование до 300 ГГц.
Заказать
H - зондовые станции
H - зондовые станции Зондовая станция H-серии представляет собой решение для анализа наноразмерных структур. Оборудование оснащено системой пневматического перемещения платформы на воздушных подшипниках и трехуровневым подъемом платформы с зондами.
Заказать
FA - зондовые станции
FA - зондовые станции Зондовая станция FA-серии разработана для лабораторий анализа отказов. Станция обеспечивает проведение электрических измерений, лазерной модификации структур и анализа дефектов на кристальном уровне в широком температурном диапазоне.
Заказать
C - зондовые  станции
C - зондовые станции Зондовая станция C-серии – это решение для проведения измерений в широком температурном диапазоне от -100°C до +300°C. Оборудование оснащено герметичной измерительной камерой с системой подачи азота, что исключает обледенение образца при криогенных температурах.
Заказать
CG - зондовые станции
CG - зондовые станции Зондовая станция CG-серии представляет собой разработку для высокотемпературных и низкотемпературных измерений в условиях вакуума. Оборудование сочетает технологии сверхвысокого вакуума, автоматического управления и лазерной симуляции.
Заказать
CGX - зондовые станции
CGX - зондовые станции Полуавтоматическая вакуумная зондовая станция CGX-серии предназначена для тестирования полупроводниковых пластин, MEMS-устройств и оптоэлектронных компонентов в условиях глубокого вакуума и экстремальных температур от 10K до 450K.
Заказать
V - зондовые станции
V - зондовые станции Зондовая станция V-серии представляет собой новое поколение высокопроизводительного оборудования для полностью автоматизированного тестирования полупроводниковых пластин и компонентов.
Заказать
X - зондовые станции
X - зондовые станции Полуавтоматическая зондовая станция X-серии предназначена для комплексного тестирования полупроводниковых устройств. Оборудование обеспечивает исследования в температурном диапазоне от -60°C до +300°C с поддержкой материалов SiC/GaN.
Заказать
A - зондовые станции
A - зондовые станции Полностью автоматическая зондовая станция A-серии предназначена для высокоскоростного тестирования полупроводниковых пластин, включая анализ ВАХ, СВЧ-характеристик, оптических сигналов, шумовых параметров и многое другое.
Заказать

Зондовые станции представляют собой специализированное оборудование, предназначенное для неразрушающего контактного тестирования полупроводниковых устройств и микроэлектронных компонентов. Данное оборудование обеспечивает точное позиционирование зондов на тестовых структурах с субмикронной точностью, что позволяет проводить электрические, оптические и термомеханические измерения на различных этапах производства и исследований. Современные зондовые станции интегрируют механические прецизионные системы, средства автоматизации и другое оборудование, обеспечивая воспроизводимость результатов в широком диапазоне условий окружающей среды.

Ключевые особенности:

  • Рабочая среда: стандартные условия, высокие и низкие температуры, вакуум.
  • Размер пластин: 2, 4, 6, 8, 12 дюймов.
  • Тип автоматизации: ручной, автоматический, полуавтоматический.

Области применения:

  • Электрофизические измерения.
  • Высокочастотные испытания.
  • Температурные испытания.
  • Оптоэлектронная характеризация.
  • Надежность и отказоустойчивость.
  • Контроль качества производства.
  • Научные исследования.
  • Интегральная фотоника.
  • Микроэлектроника.

Конструктивные особенности зондовых станций варьируются в зависимости от решаемых задач: от ручных конфигураций для лабораторных исследований до полностью автоматизированных систем для промышленного контроля. Критически важными параметрами являются виброустойчивость, температурная стабильность, точность позиционирования и совместимость с различными типами измерительного оборудования. Особое значение имеют станции, работающие в экстремальных условиях – при криогенных температурах, в вакууме или при повышенных температурах, что требует применения специализированных инженерных решений и материалов.

В разделе представлены следующие зондовые станции:

  • M – ручная станция для исследования сложных высокоскоростных устройств, контроль чипов и LD/LED/PD компонентов.
  • E – оборудование для испытаний в полупроводниковой и оптоэлектронной отраслях с поддержкой ВЧ-тестирования до 300 ГГц.
  • H – решение для анализа наноразмерных структур с системой пневматического перемещения на воздушных подшипниках.
  • FA – станция для лабораторий анализа отказов с возможностью лазерной модификации структур.
  • C – система для измерений в температурном диапазоне от -100°C до +300°C с герметичной измерительной камерой.
  • CG – станция для высокотемпературных и низкотемпературных измерений в условиях вакуума.
  • CGX – полуавтоматическая вакуумная станция для испытаний в условиях глубокого вакуума и экстремальных температур.
  • V – высокопроизводительное оборудование для полностью автоматизированного тестирования полупроводниковых пластин.
  • X – полуавтоматическая станция для комплексного контроля с поддержкой материалов SiC/GaN.
  • A – полностью автоматическая зондовая станция для тестирования полупроводниковых пластин и компонентов.

Специалисты компании «Специальные Системы. Фотоника» будут рады предоставить Вам любую дополнительную информацию и подобрать оптимальное решение под Ваш запрос. Для составления заказа или получения консультации обратитесь к менеджерам нашей компании.

Назад к разделу
Фильтр
Рабочая среда
Размер пластины, "
Тип автоматизации
Применение

Мой заказ