C - зондовые станции

C-серия – это высокотемпературная зондовая станция с ручным управлением, предназначенная для оценки электрофизических параметров материалов и устройств в экстремальных температурных условиях.
  • Температурный диапазон: от -100°C до +300°C.
  • Высокая температурная стабильность: ±0,1°C/час.
  • Система охлаждения: жидкостный азот или компрессорное охлаждение.
  • Трехуровневая платформа.
  • Измерительная камера.
  • Пневматическое перемещение.

Зондовая станция C-серии – это оборудование для проведения электрических измерений в экстремальных температурных условиях. Конструкция станции включает герметичную измерительную камеру с системой термостатирования, обеспечивающую рабочий диапазон температур от -100°C до +300°C. Терморегулирование реализовано на основе жидкостного азотного охлаждения или компрессорной системы, с точностью поддержания температуры ±0,1°C/час и разрешением 0,01°C. Уникальная система продувки камеры сухим азотом предотвращает конденсацию влаги и обледенение образца при криогенных температурах, что обеспечивает стабильность измерительных условий.

Оптическая система станции оснащена трехступенчатым микроскопом с коэффициентом увеличения 11:1, позволяющим одновременно наблюдать области с низким и средним увеличением. Встроенные цифровые камеры с разрешением до 5 Мп обеспечивают документирование результатов измерений. Пневматический механизм подъема микроскопа на 50 мм облегчает смену объективов, а платформа микроманипуляторов обеспечивает точное позиционирование зондов с механическим разрешением до 0,1 мкм.

Электрические измерения поддерживаются триаксиальными интерфейсами с чувствительностью до 100 фА при температуре 25°C, что позволяет характеризовать высокоомные структуры и элементы памяти. Экранированная конструкция измерительной камеры обеспечивает уровень шума, необходимый для низкоуровневых измерений. Станция совместима с различными типами разъемов, включая коаксиальные, триаксиальные и SMA-коннекторы.

Температурный модуль станции обеспечивает быстрое изменение температуры с сохранением высокой стабильности, что важно для исследований температурной зависимости параметров полупроводниковых приборов. Конструкция включает механизм быстрой смены образцов и систему вакуумной фиксации с независимым управлением каналами. Совместимость с дополнительными опциями, такими как интегрирующая сфера для оптических измерений и оснастка для тестирования корпусных компонентов, делает C-серию универсальным решением для научно-исследовательских и производственных лабораторий.

Опциональные аксессуары и системы:
  • Держатель зонда.
  • ВЧ-измерительные аксессуары.
  • Комплект для измерений высокого напряжения/тока.
  • Экранирующий бокс.
  • Адаптер.
  • Виброизолирующая платформа.
  • Рабочая платформа с золотым покрытием.
  • Измеритель интенсивности/спектра/длины волны света.
  • Комплект для измерения малых токов/емкости.
  • Модуль с интегрирующей сферой.
  • Оснастка для тестирования корпусных микросхем.
  • Оснастка для тестирования печатных плат.
  • Специальное исполнение по индивидуальному заказу.

Параметр Значение
 Ед. измерения
Модель C6 C8 C12  
Габариты (Д×Ш×В) 860×850×700 880×860×750 1400×920×920 мм
Вес (прибл.) 150 170 250  кг
Электроснабжение 220 В, 50~60 Гц  
Рабочая платформа
Размер 6 8 12 "
Угол поворота 360 °
X-Y диапазон перемещений 6х6 8х8 12х12 "
Разрешение перемещения 1 мкм   
Замена образца Механизм быстрого съема рабочей платформы для смены образца  
Фиксация образца Вакуумная адсорбция
 
Платформа и микроскоп
Тип платформы U-образная
 
Количество микроманипуляторов 8 10 12 шт.
Температурный диапазон - 100 ~ 300 - 80 ~ 300 - 60 ~ 300
Ход микроскопа (X-Y) 2х2
"
Ход микроскопа (Z) 50,8 мм   
Увеличение 16~100X / 20~4000X
 
Объективы Окуляр: 10X; Объективы: 5X, 10X, 20X, 50X, 100X (опц.)
 
Разрешение CCD-камеры 50W / 200W / 500W

Микроманипуляторы
Диапазон перемещений X-Y-Z 12-12-12 / 8-8-8
мм
Механическое разрешение 10 / 2 / 0,7 / 0,1
мкм
Коннекторы Banana  / "Крокодил" / Коаксиальный / Триаксиальный / SMA / K  

  • Температурные испытания оптоэлектронных компонентов.
  • Анализ печатных плат (PCB) и корпусных микросхем.
  • Измерение ВАХ/СВХ характеристик.
  • Тестирование внутренних цепей и контактных площадок (PAD).
  • ВЧ-измерения.
  • Температурный анализ интегральных схем.

Модель Описание
C6 Зондовая станция. Габариты 860х850х700 мм. Размер рабочей поверхности 6". Ход по осям X-Y 6"х6".
C8 Зондовая станция. Габариты 880х860х750 мм. Размер рабочей поверхности 8". Ход по осям X-Y 8"х8".
C12 Зондовая станция. Габариты 1400х920х920 мм. Размер рабочей поверхности 12". Ход по осям X-Y 12"х12".
Назад к разделу

Мой заказ