NST-MAN - ручные измерители толщин тонких пленок

Серия NST-MAN — это ручная система для измерения и анализа толщины пленок. При этом она отличается компактной и легкой конструкцией, не жертвуя точностью и стабильностью. Она обладает всеми алгоритмическими функциями программного обеспечения серии NanoSense, предлагая отличное соотношение цены и качества.

  • Диапазон длин волн 190-1700 нм.
  • Толщина измерения 1 нм – 250 мкм.
  • Диаметр пятна 0,8 ~ 1мм.
  • Галогенная/дейтериевая лампа.

Серия NST-MAN — это система для ручного измерения и анализа толщины пленок. Она отличается компактной и легкой конструкцией, не жертвуя точностью и стабильностью. Она обладает всеми алгоритмическими функциями программного обеспечения серии NanoSense, предлагая отличное соотношение цены и качества. Представлена в трёх вариантах для УФ, видимого и ИК диапазона.

Принцип работы

Принцип работы толщиномера основан на применении метода быстрого Фурье-преобразования. Он заключается в анализе интерференционной картины, возникающей при отражении широкополосного светового излучения от структуры с прозрачными или полупрозрачными слоями. Измерения проводятся в два этапа: сначала регистрируется сигнал от калибровочного образца (подложки с известным коэффициентом отражения), затем — от исследуемого образца. После вычисляется абсолютный коэффициент отражения R(λ) в зависимости от длины волны.

При отражении света от многослойной структуры в спектре коэффициента отражения возникают интерференционные осцилляции (пики и провалы), период которых обратно пропорционален оптической толщине слоев. Для толстых пленок, когда в рабочем диапазоне длин волн укладывается множество интерференционных периодов, применяется алгоритм быстрого преобразования Фурье (БПФ).

Физика процесса и математическая обработка реализуются в следующей последовательности:

1. Регистрация интерференционных осцилляций

При освещении двухслойной пленки широкополосным (белым) светом, на каждой границе раздела сред (подложка/слой 1, слой 1/слой 2, слой 2/воздух) возникает отражение. Из-за разности оптических путей эти отраженные лучи интерферируют друг с другом. В результате на регистрируемом спектре коэффициента отражения (в зависимости от длины волны) возникают характерные периодические осцилляции — интерференционные полосы. Частота этих осцилляций напрямую пропорциональна оптической толщине проходимых слоев.

2. Переход в область толщин (FFT-анализ)

Алгоритм быстрого преобразования Фурье (БПФ / FFT) выполняет математическую свертку полученного спектра. Он переводит сигнал из спектральной области (где по оси X отложены длины волн, нм) в область пространственных частот (где по оси X отложены оптические толщины, мкм). В этой новой координатной системе периодические интерференционные осцилляции трансформируются в четко выраженные частотные пики.

3. Декодирование многослойной структуры
Для двухслойной пленки на Фурье-спектрограмме (в домене толщин) автоматически формируется характерная картина из трех пиков:

Пик 1: Соответствует оптической толщине нижнего Слоя 1 (например, 3 мкм).
Пик 2: Соответствует оптической толщине верхнего Слоя 2 (например, 10 мкм).
Пик 3: Соответствует суммарной оптической толщине всей структуры — Слой 1 + Слой 2 (около 13 мкм). Этот пик возникает за счет интерференции лучей, отразившихся от нижней границы первого слоя и верхней границы второго слоя.

Ключевая особенность FFT-метода заключается в математическом разделении слоев. Алгоритм аппаратно-независимо извлекает информацию о каждом слое без необходимости физического препарирования (скалывания, шлифовки) образца или применения разрушающих методов анализа. Это обеспечивает высокую скорость измерения, что делает технологию идеальным инструментом для автоматизированного неразрушающего контроля (NDT) и входного/операционного контроля качества покрытий в промышленных масштабах.

Параметр
NST-20UV NST-20VIS NST-20NIR Ед. измерения
Диапазон длин волн
190 – 1100 380 – 1050 950 – 1700 нм
Толщина измерения 1 нм – 40 мкм 15 нм – 80 мкм 150 нм – 250 мкм
Точность 7 нм или 0,2% 2 нм или 0,2% 3 нм или 0,4%  
Повторяемость 0,02 0,02 0,1 нм
Стабильность 0,05 0,05 0,12 нм
Диаметр пятна 1,5 мм
Скорость измерения
< 1 с (однократное измерение),
10 мс для алгоритма F1

Источник света Галогенная + дейтериевая лампа Галогенная лампа Галогенная лампа
Размер образца
Диаметр от 1 до 300 мм и более
Источник питания 110 - 240VAC, 50 – 60 Гц, 0.3 – 0.1 A  
Интерфейс передачи данных USB  
Операционная система Windows 11  

  • Полупроводники.
  • Презиционная оптика.
  • ЖК-дисплеи.
  • Новая энергия / Фотоэлектричество.
  • Медицина.
  • Фрезы.
  • Технологические пленки.
  • Полимеры.
  • ITO.
  • Перовскит.
  • Квантовые точки.
  • Диоксид кремния.
  • Склеивание стекла.
  • Микрофлюидика.
  • Фоторезист.
  • PI пленки.

Модель Описание
NST-MAN-UV Измеритель толщин тонких пленок для ручных измерений. Диапазон длин волн 190 – 1100 нм. Толщина измерения 1 нм – 40 мкм.
NST-MAN-VIS Измеритель толщин тонких пленок для ручных измерений. Диапазон длин волн 380 – 1050 нм. Толщина измерения 15 нм – 80 мкм.
NST-MAN-NIR Измеритель толщин тонких пленок для ручных измерений. Диапазон длин волн 950 – 1700 нм. Толщина измерения 150 нм – 250 мкм.
Назад к разделу

Мой заказ