ГлавнаяКаталогУчебные и образовательные наборы по фотоникеУчебные наборы по спектроскопииSSP-Ref-ES - система измерения спектров отражения
SSP-Ref-ES - система измерения спектров отражения
SSP-Ref-ES - учебная система, предназначенная для измерения спектров отражения в спектральном диапазоне от 200 до 1100 нм.
- Простой и быстрый процесс измерения.
- Отображение значения коэффициента отражения в режиме реального времени.
- Простая интеграция и вторичная разработка.
Производитель: YIXIST
SSP-Ref-ES - учебная система, предназначенная для измерения спектров отражения с помощью оптического волокна Y-типа, как правило, с использованием оптического волокна 7-в-1, средняя сердцевина является выводом для получения спектра отражения, окружающие 6 сердцевин являются выводами излучения источника света.
Особенности:
- Простой и быстрый процесс измерения.
- Отображение значения коэффициента отражения в режиме реального времени.
- Простая интеграция и вторичная разработка.
Пример измерения спектральной отражательной способности бумаги разного цвета:
| Параметр | Значение | Ед. измерение | |
|---|---|---|---|
|
Длина волны
|
УФ - Видимый | Видимый - БИК | - |
|
Спектрометр
|
YSM-8101-02-01 |
YSM-8101-02-13 |
- |
|
Длина волны спектрометра
|
200 - 900 | 400 - 1100 | нм |
|
Разрешение спектрометра
|
1 | 1 | нм |
|
Источник излучения
|
Дейтерий-вольфрамовый источник света 230 - 2500 нм |
- | |
|
Тип волокна
|
Кварцевое волокно Y-типа |
- | |
|
Платформа
|
Платформа двухточечного отражения |
- | |
|
Калибровочные образцы
|
Калибровочный образец зеркального отражения / калибровочный образец диффузного отражения |
- | |
|
Программное обеспечение
|
Программное обеспечение для спектрального анализа |
- | |
- Измерение спектральной отражательной способности отражающих материалов с плоскими поверхностями.
Мой заказ