ГлавнаяКаталогУчебные и образовательные наборы по фотоникеУчебные наборы по спектроскопииSSP-Tr-ES - система измерения пропускания оптических компонентов
SSP-Tr-ES - система измерения пропускания оптических компонентов
SSP-Tr-ES - учебная система измерения спектрального коэффициента пропускания оптических компонентов в спектральном диапазоне от 200 до 1100 нм.
- Высокая скорость и стабильность измерений.
- Отображение измерений в режиме реального времени.
- Простота эксплуатации.
- Регулируемый оптический путь.
Производитель: YIXIST
SSP-Tr-ES - учебная система, предназначенная для измерения кривой пропускания плоских материалов (в пределах видимого спектра, что позволяет оценивать колориметрические параметры). Принцип работы заключается в использовании параллельного излучения для освещения образца, который, проходя через образец, фокусируется через линзу и передается в оптическое волокно, которое в конечном итоге улавливается спектрометром.
Особенности:
- Высокая скорость измерений.
- Стабильное тестирование.
- Отображение кривой пропускания, полуширины, пиковой длины волны и центральной длины волны в режиме реального времени.
- Регулируемый оптический путь.
- Простота в эксплуатации.
Пример измерения спектрального коэффициента пропускания фильтра:
| Параметр | Значение | Ед. измерение | |
|---|---|---|---|
|
Длина волны
|
УФ - Видимый | Видимый - БИК | - |
|
Спектрометр
|
YSM-8101-02-01 |
YSM-8101-02-13 |
- |
|
Длина волны спектрометра
|
200 - 900 | 400 - 1100 | нм |
|
Разрешение спектрометра
|
1 | 1 | нм |
|
Источник излучения
|
Дейтерий-вольфрамовый источник света 230 - 2500 нм |
- | |
|
Тип волокна
|
Кварцевое волокно × 2 |
- | |
|
Держатель
|
Держатель фильтра, 200×78 мм |
- | |
|
Программное обеспечение
|
Программное обеспечение для спектрального анализа |
- | |
- Измерение спектрального коэффициента пропускания твердых материалов с гладкими и плоскими поверхностями, таких как оптические фильтры.
Мой заказ