Новости

Методы измерения ширины лазерного импульса
11.12.2025
11 Декабря 2025

Методы измерения ширины лазерного импульса

Точное измерение длительности лазерного импульса - ключевая задача, определяющая эффективность его применения в науке и промышленности. В нашем новом обзорном материале мы рассматриваем основные методы для ее решения: от прямого с помощью фотодетекторов до нелинейно-оптических, таких как автокорреляция, FROG и SPIDER.
Полный текст
Быстрее, меньше, эффективнее: преимущества тонкопленочных ТFLN модуляторов
09.12.2025
09 Декабря 2025

Быстрее, меньше, эффективнее: преимущества тонкопленочных ТFLN модуляторов

Представляем обзор современных решений для модуляции оптического излучения. Узнайте больше о TFLN-модуляторах!

Полный текст
Диодные лазеры: обновленный каталог решений для высокотехнологичных применений
04.12.2025
04 Декабря 2025

Диодные лазеры: обновленный каталог решений для высокотехнологичных применений

Диодные лазеры остаются ключевым инструментом во многих высокотехнологичных областях. В обновленном разделе вы найдете актуальную информацию о моделях, их характеристиках и сферах применения.
Полный текст
Перестраиваемые лазерные модули для ваших измерений: серии NITLA-C-17 и NITLA-L-17
02.12.2025
02 Декабря 2025

Перестраиваемые лазерные модули для ваших измерений: серии NITLA-C-17 и NITLA-L-17

Идеальное решение для широкого спектра задач, требующих точной настройки длины волны – новые серии перестраиваемых источников излучения для C и L-диапазонов.
Полный текст
Зондовые станции: от ручных для лабораторий до автоматических для производственных задач
25.11.2025
25 Ноября 2025

Зондовые станции: от ручных для лабораторий до автоматических для производственных задач

Компания «Специальные Системы. Фотоника» рада сообщить о расширении ассортимента оборудования для микроэлектроники. Теперь в каталоге представлен новый раздел, посвященный зондовым станциям для электрических, РЧ и оптических измерений различных материалов.
Полный текст
Спектроскопический эллипсометр UVPLUS SE: инновационное решение для исследования и контроля качества перовскитных солнечных элементов
20.11.2025
20 Ноября 2025

Спектроскопический эллипсометр UVPLUS SE: инновационное решение для исследования и контроля качества перовскитных солнечных элементов

Представляем вашему вниманию спектроскопический эллипсометр UVPLUS SE для высокоточного измерения оптических и физических параметров многослойных нанопленок в области перовскитной фотовольтаики.
Полный текст
Прецизионные решения для квантовых и сенсорных применений: полупроводниковые лазеры LD-PD
18.11.2025
18 Ноября 2025

Прецизионные решения для квантовых и сенсорных применений: полупроводниковые лазеры LD-PD

Встречайте лазерные диоды с улучшенными характеристиками!
Полный текст
Новое поколение портативных анализаторов спектра серии 4025
12.11.2025
12 Ноября 2025

Новое поколение портативных анализаторов спектра серии 4025

Представляем обновленную серию анализаторов спектра с широким спектральным диапазоном от 9 кГц до 54 ГГц, полосой анализа в реальном времени до 120 МГц и расширенными функциями анализа. Подробнее о характеристиках и возможностях новой серии читайте в новости.
Полный текст
Лазерные технологии TDLAS открывают новые горизонты в газоанализе
07.11.2025
07 Ноября 2025

Лазерные технологии TDLAS открывают новые горизонты в газоанализе

Узнайте больше об инновационном методе диодно-лазерной абсорбционной спектроскопии для газоанализа!
Полный текст
Гиперспектральные технологии: обзор методов и прикладных решений
05.11.2025
05 Ноября 2025

Гиперспектральные технологии: обзор методов и прикладных решений

Представляем обзорный материал, посвященный нашей новой статье в разделе «Решения»: «Гиперспектральные технологии: методы анализа и применение в науке и промышленности».

Полный текст
Страницы: 1 2 3 4 5 11 Следующая
Мой заказ