ГлавнаяНовостиГде отражение – там измерение! Новые оптические рефлектометры для сверхточного анализа волоконно-оптических устройств

Где отражение – там измерение! Новые оптические рефлектометры для сверхточного анализа волоконно-оптических устройств

14.03.2025

Представляем устройства, которые выводят анализ волоконно-оптических устройств на новый уровень! Новые оптические рефлектометры высокого разрешения 6534A обеспечивают пространственное разрешение до 20 мкм, работают в спектральном диапазоне от 1500 до 1600 нм и полностью исключают «мертвую зону». Подробнее о передовых технологиях и возможностях устройства расскажем в этой статье.

Рефлектометры – это незаменимые инструменты для измерения параметров различных оптических систем, включая вносимые и обратные потери, расположение отражающих событий в волоконном тракте. Современные технологии позволили вывести оптическую рефлектометрию на новый уровень, и теперь на рынке представлены передовые устройства, обеспечивающие беспрецедентное разрешение и скорость работы.

Частотная рефлектометрия OFDR

Наибольший прогресс продемонстрировали приборы, работающие по принципу частотной рефлектометрии (OFDR – Optical Frequency Domain Reflectometry). Они обеспечивают более высокую точность и детализацию измерений по сравнению с традиционными методами.

OFDR – интерферометрический метод измерений, в котором используется высококогерентный лазерный источник излучения с непрерывно перестраиваемой длиной волны. Анализ интерференционной картины производится с помощью преобразования Фурье, позволяющего получить зависимость интенсивности отражения от расстояния до точки введения зондирующего излучения. OFDR является оптимальным методом измерений при решении задач, требующих сочетания высокой скорости, чувствительности и разрешения при анализе коротких и промежуточных длин линий передачи.

Ключевые особенности OFDR рефлектометров:

  • Высокое пространственное разрешение и отсутствие «мертвых зон» – позволяет обнаруживать мельчайшие дефекты, локализовать потери и анализировать структуру сети с максимальной точностью.
  • Высокая скорость измерений – мгновенный анализ сети в режиме реального времени значительно ускоряет процесс диагностики и тестирования компонентов кремниевой фотоники.
  • Информативные графики и данные – детализированные графики позволяют точно определить расположение потерь и дефектов в оптической системе.
  • Гибкость и универсальность – OFDR-рефлектометры подходят как для настройки новых сетей, так и для диагностики и оптимизации уже существующих решений. Они совместимы с различными типами оптического оборудования и систем.

О различных методах рефлектометрии рассказываем в нашей статье > >

Применения оптических рефлектометров:

  • Тестирование и анализ параметров волоконных компонентов и световодов.
  • Анализ параметров интегральных фотонных схем.
  • Диагностика и выявление дефектов в волоконно-оптических линиях связи.
  • Анализ параметров оптического пути и задержек в ВОЛС.
  • Радиофотоника.

Оптические рефлектометры высокого разрешения серии 6534A

Оптический рефлектометр серии 6534A представляет собой высокоточный инструмент для анализа волоконно-оптических компонентов и устройств. Он основан на технологиях оптической частотной рефлектометрии (OFDR) и оптического гетеродинного обнаружения, что обеспечивает исключительную точность измерений и широкий динамический диапазон. С его помощью можно детально исследовать внутреннюю структуру оптических компонентов, модулей, кремниевых фотонных чипов и других элементов. Одного сканирования достаточно для получения кривой потерь и точного определения ключевых параметров, таких как прямые и обратные потери или положение отдельных элементов. Рефлектометр 6534A идеально подходит для диагностики неисправностей в волоконно-оптических линиях связи, а также для проведения научных исследований и разработки новых оптических технологий.

Особенности:

  • Высокая точность: пространственное разрешение до 20 мкм, точность позиционирования — до 100 мкм.
  • Быстродействие: минимальное время измерения — менее 5 секунд.
  • Широкий спектральный диапазон: рабочий диапазон длин волн от 1500 до 1600 нм.
  • Автоматическая калибровка: встроенный модуль самокалибровки корректирует тестовые кривые, обеспечивая стабильность и точность измерений.

Технические характеристики:

Параметр Значение Ед. измерения
Длина участка измерения
50 м
Пространственное разрешение
20 мкм
Время измерения
5 – 25 с
Чувствительность
-120 дБ
Динамический диапазон (RL)
70 дБ
Динамический диапазон (IL)
13 дБ
Точность измерения (RL и IL)
±0,1 дБ
Мертвая зона
нет -
Диапазон длин волн
1500 – 1600 нм
Оптический интерфейс
FC/APC дБ
Источник питания
220 В перем. тока ± 10%, 50 Гц ± 5% -
Максимальная потребляемая мощность
60 Вт

*По запросу доступны другие значения длины участка измерения и диапазоны длин волн.

Результаты тестирования слабоотражающей брэгговской решетки (WFBG)

Общий вид

Локальное увеличение выделенной области

Больше информации доступно по ссылке > >

Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором представленных решений и оказывает техническую поддержку по всей линейке продукции на территории России и ЕАЭС.

Если у Вас остались вопросы, наши специалисты будут рады предоставить любую дополнительную информацию и подобрать оптимальное решение под Ваш запрос. Для составления заказа или получения консультации, пожалуйста, свяжитесь с нами.

Возврат к списку


Мой заказ