Механизм адаптивной коррекции углов: новое слово в высокоточной микроскопии
19.05.2026
Представляем решение для адаптивной коррекции наклона образца в отражательной рентгенографии, предназначенный для существенного повышения точности микроскопических исследований. Новый алгоритм призван устранить одну из самых острых проблем в современной высокоточной микроскопии — искажения данных из-за непараллельности поверхности объекта оптической оси системы.
Проблема точности при работе с отраженным светом
При проведении измерений в высокоточной микроскопии и построении 3D-профилей поверхности, критически важен идеальный фокус. На практике исследователи часто сталкиваются с тем, что образец установлен не строго параллельно плоскости детектора. Даже малейший угол наклона приводит к тому, что различные участки поля зрения оказываются не в фокусе одновременно. В режиме отраженного света это вызывает размытие краев изображения, искажение цветопередачи и погрешности при количественном анализе рельефа.
Как работает наше решение
В основе инновации лежит интеллектуальный алгоритм, который в режиме реального времени анализирует получаемое изображение. Программное обеспечение автоматически определяет плоскость фокусировки и вычисляет вектор отклонения (наклона) образца.
В отличие от ручных методов выравнивания, требующих физической регулировки предметного столика и занимающих много времени, разработанный алгоритм выполняет коррекцию программным путем или управляет механизмами позиционирования для компенсации угла. Это позволяет получить полностью сфокусированное изображение всей площади сканирования, независимо от исходного положения образца.
Для точной аттестации алгоритмов коррекции искажений критически важна возможность прецизионной модуляции фазы. Мы рады представить вам широкий ассортимент пространственных модуляторов света (LCOS) —инструментов, которые позволят вам выйти на новый уровень в таких приложениях, как коррекция углов наклона образцов, работа с фазовыми объектами и задачи высокоразрешающей визуализации.
Ключевые преимущества
- Высокая точность измерений. Минимизация ошибок, связанных с дефокусировкой, что особенно критично при измерении шагов микроструктур и шероховатости поверхностей.
- Ускорение рабочих процессов. Исключение длительной процедуры ручной настройки фокуса перед каждым измерением.
- Универсальность. Решение подходит для работы с различными типами образцов, включая полупроводниковые пластины, металлы и керамику, где сложно обеспечить идеальное механическое позиционирование.
Подробнее об алгоритме адаптивной коррекции угла наклона образца >>>
Компания «Специальные Системы. Фотоника» является официальным дистрибьютором представленных решений и оказывает техническую поддержку на территории России и ЕАЭС.
Наши специалисты будут рады предоставить вам любую дополнительную информацию и подобрать оптимальное решение под ваши задачи. Для оформления заказа или получения консультации, пожалуйста, свяжитесь с нами.
