Эллипсометры

В разделе представлен спектроскопический эллипсометр UVPLUS SE – высокопроизводительный специализированный прибор, предназначенный для исследований и контроля качества фотоэлектрических солнечных элементов. Он охватывает широкий спектральный диапазон (от УФ до ближнего ИК) и подходит для измерений как однослойных и многослойных плёнок, так и объёмных материалов.

Основные характеристики:

• Спектральный диапазон: 280 – 1050 нм.
• Угол падения: 40 – 90°.
• Источник света: ксеноновая лампа.
• Диаметр пятна: 1 – 4 мм.
• Время измерения: 0,8 – 2 с.
• Диапазон измерения толщины: 0,1 нм – 20 мкм.
• Диапазон измерения показателя преломления: 1 – 7.
• Повторяемость измерений толщины <0,5, показателя преломления <0,0005.

Ключевые особенности:

• Быстрое и точное измерение.
• Регулировка нескольких углов падения.
• Измерения в режиме пошагового скан-компенсатора.
• Широкополосный компенсатор хроматической аберрации.
• Программное обеспечение, встроенная база данных материалов.

Специалисты компании «Специальные Системы. Фотоника» будут рады предоставить Вам любую дополнительную информацию и подобрать оптимальное решение для Ваших задач. Для составления заказа или получения консультации обратитесь к менеджерам нашей компании.