ГлавнаяКаталогПозиционеры. Трансляторы. Юстировка волокон и ФИСПьезоэлектрические позиционерыГексаподы и многоосевые моторизированные пьезопозиционерыFree3D.ZTxTy.150 - трехосевые пьезоэлектрические столики
Free3D.ZTxTy.150 - трехосевые пьезоэлектрические столики
Free3D.ZTxTy.150 - серия трехосевых пьезоэлектрических столиков для комнатной температуры.
- Размеры Ø150 × 110 мм.
- Диапазон перемещения по оси Z 5 мм.
- Диапазон перемещения θXY 3°.
- Минимальный размер шага по оси Z 25 нм.
- Минимальный размер шага θXY 7,5 мкрад.
- Разрешение 2 нм.
- Варианты исполнения: исполнение для высокого вакуума (.HV), исполнение для сверхвысокого вакуума (.UHV).
- В комплекте программное обеспечение.
Производитель: MULTIFIELDS TECHNOLOGIES
Параметр | Значение | Ед.измерения | ||
---|---|---|---|---|
Исполнение | Стандартное | *.HV | **.UHV | |
Размеры (Д х В) | Ø150 × 110 | мм | ||
Материал корпуса | Алюминиевый сплав | |||
Кабели и коннекторы | Экранированный кабель с DSub15 коннектором | Кабель с каптоновым покрытием, PEEK-2mm | ||
Нагрузка | 3 | кг | ||
Вес
|
1,5 | кг | ||
Длина кабеля
|
1 | м | ||
Диапазон перемещения Z
|
± 5 |
мм | ||
Диапазон перемещения θXY
|
± 3 |
° |
||
Скорость
|
1 - 10 | мм/с | ||
Минимальный размер шага Z
|
25 | нм | ||
Минимальный размер шага θXY
|
7,5 | мкрад | ||
Точность перемещения по оси Z
|
0,15 | мкм | ||
Точность перемещения по θXY
|
2,5 | мкрад | ||
Тип энкодера
|
Оптический | |||
Разрешение
|
2 | нм | ||
Рабочее напряжение
|
220 | В | ||
Количество каналов управления
|
3 | |||
Порт передачи данных
|
USB | |||
Программное обеспечение
|
В комплекте, поддержка LabVIEW, набор последовательных команд | |||
*.HV - исполнение для высокого вакуума до 1 E-7 мбар. **.UHV - исполнение для сверхвысокого вакуума до 2 E-11 мбар. |
- Нанотехнологии и микросистемная техника.
- Производство интегральных схем и полупроводниковых устройств.
- Создание наноструктур.
- Научные исследования.
- Измерение высоких энергий.
- Микроскопия сверхвысокого разрешения.
- Электронная и сканирующая зондовая микроскопия.
- Дифрактометрия.