RTS-Mini - сканирующая конфокальная рамановская система
- Длина волны лазера: 532 нм.
- Спектральное разрешение: 1,5 см-1
- Решетки: 1800 штр/мм, 500 нм; 600 штр/мм, 500 нм; 150 штр/мм, 500 нм.
- Разрешение камеры: 2000 x 256 пикселей.
RTS-Mini – компактная модульная система для проведения комплексного рамановского микроанализа, использующая возбуждающее излучение 532 нм. Система построена базе прямого микроскопа, но может быть интегрирована с любой альтернативной моделью прямого микроскопа. Данные, полученные с помощью системы, могут использоваться в самых разных областях: от биологических исследований до анализа эффективности солнечных элементов.
Программное обеспечение отображает высококонтрастные рамановские изображения и спектры комбинационного рассеяния, а также поддерживает вывод данных в форматах .csv, .txt, .spm.
В качестве образцов могут использоваться полимеры, керамика, наноматериалы, живые клетки, ткани. Рамановский анализ — удобный неинвазивный и не чувствительный к типу образца метод для научных и промышленных задач, обеспечивающий высококачественные данные, надежность и универсальность по сравнению с другими аналитическими методами.
Сканирование ("мэппинг" сигнала комбинационного рассеяния)
Состав системы:
- Сканирующий модуль.
- Прямой микроскоп.
- Объективы: 10X, 50X, 100X, 50X с длинным рабочим расстоянием).
- Платформа системы (основной корпус).
- Спектрометр (монохроматор-спекрограф) со сходной апертурой f/4.2 и фокусным расстоянием 320 мм, дифракционные решетки на выбор.
- Охлаждаемый ПЗС детектор 2000*256 пикселей.
- Лазер/лазеры.
- Набор фильтров.
- Электроника.
- Программное обеспечение.
Пример применения
Изучение структуры двумерных материалов.
Изучение дефектов графена.
Производительность системы
| Параметр | Значение | Ед. измерения |
|---|---|---|
| Длина волны лазера и фильтра |
532 (другая по запросу) |
нм |
| Количество лазеров | до 2 |
|
| Увеличение объектива | 10x, 50x, 100x |
|
| Тип микроскопа | прямой |
|
| Тип осветителя | галогеновая лампа, 12 В, 100 Вт | нм |
| Размеры области сканирования | 50 × 50 | мкм2 |
| Схема монохроматора | Черни-Тернера |
|
| Входная апертура спектрометра | f/4.2 |
|
| Фокусное расстояние спектрометра | 320 | мм |
|
Диапазон рамановского сдвига |
80-9000 |
см-1 |
| Спектральное разрешения | 1,5 | см-1 |
| Детектор | LDC-DD CCD | |
| Разрешение детектора | 2000 × 256 | пикселей |
| Размер пикселя | 15 × 15 | мкм2 |
| Темновой ток | 0,1 | e-/пиксель/с |
| Пиковая квантвоая эффективность | 95 | % |
| Доступные решетки (плотность штрихов, длина волны блеска) | 1800 штр/мм, 500 нм; 600 штр/мм, 500 нм; 150 штр/мм, 500 нм | - |
- Анализ наноматериалов, двухмерных материалов (графен, нанотрубки, MoS2).
- Электротехническая промышленность (анализ батарей, кристаллических пластин и т.д.).
- Анализ полимеров.
- Изучение объектов искусства.
- Криминалистика.
- Фармацевтика.
- Биомедицина и химическая промышленность (исследование тканей, клеток, раковых образований, результатов применения лекарственных препаратов).
- Анализ пищевых продуктов.
- Объектив: 40-кратный с рабочим расстоянием 0,63 мм, 40-кратный с увеличенным рабочим расстоянием, 10-кратный, 20-кратный, 50-кратный, 100-кратный.
- Лазер (можно выбрать до 3 лазеров): free-space 532 нм, free-space 532 нм для низкочастотных измерений, free-space 405 нм, free-space 633 нм, free-space 785 нм, импульсный лазер 405 нм, лазер с волоконным выводом 785 нм.
- Оптический фильтр: PL-фильтр 532 нм, PL-фильтр 532 нм для низкочастотных измерений, PL-фильтр 405 нм, PL-фильтр 633 нм, PL-фильтр 785 нм.
- Решетка спектрографа (можно выбрать любое количество): 300 штр/мм, 900 нм; 600 штр/мм, 600 нм; 1200 штр/мм, 840 нм; 1800 штр/мм, 532 нм; 2400 штр/мм, 450 нм.
- Опционально: Модуль для вычисления фототока.
