YOA-8402 - рамановский микроскоп
- Длины волны лазера 532; 785 нм.
- Диапазон рамановского сдвига 176 - 3500 см-1 / 176 - 4000 см-1.
- Разрешение до 12 см-1.
Система предназначена для регистрации рамановских спектров локальных участков образца микронного масштаба с одновременным визуальным наблюдением исследуемой области.
Метод рамановской спектроскопии обеспечивает неразрушающий анализ образцов, не требует сложной предварительной подготовки и позволяет получать информацию о молекулярном составе и структуре исследуемого вещества. Совмещение спектроскопического измерительного тракта с микроскопом позволяет выбирать конкретные области поверхности образца и проводить локальный спектральный анализ.
При оснащении системы моторизованным предметным столиком возможно автоматизированное перемещение образца и получение пространственно-разрешенных спектральных данных в режиме рамановской визуализации. Параметры лазера, спектрометра и микроскопа могут конфигурироваться в зависимости от требований конкретной задачи.
| Параметр | YOA-8402-532-01 | YOA-8402-785-01 |
|---|---|---|
|
Тип детектора
|
CCD Hamamatsu с термоэлектрическим охлаждением | CCD Hamamatsu с термоэлектрическим охлаждением |
|
Формат детектора
|
1024 × 58 пикселей | 1024 × 58 пикселей |
|
Размер пикселя
|
24 × 24 мкм | 24 × 24 мкм |
|
Отношение сигнал/шум
|
1000:1 | 1000:1 |
|
Динамический диапазон
|
100000:1 | 100000:1 |
|
АЦП
|
18 бит | 18 бит |
|
Время интегрирования
|
8 мс - 3600 с | 8 мс - 3600 с |
|
Диапазон рамановского сдвига
|
176 - 4000 см-1 | 176 - 3500 см-1 |
|
Спектральное разрешение
|
12 см-1 при ширине щели 50 мкм | 12 см-1 при ширине щели 50 мкм |
|
Интерфейс связи
|
USB 2.0 | USB 2.0 |
|
Лазер
|
||
|
Длина волны
|
532 ± 0,5 нм | 785 ± 0,5 нм |
|
Ширина спектральной линии
|
< 0,05 нм | < 0,1 нм |
|
Выходная мощность
|
0 - 100 мВт, регулируемая | 0 - 500 мВт, регулируемая |
|
Стабильность длины волны за 4 ч
|
±7 пм, тип. | ±7 пм, тип. |
|
Стабильность мощности за 4 ч
|
±2 %, тип. | ±2 %, тип. |
|
Время прогрева
|
15 мин | 15 мин |
|
Микроскопическая система
|
||
|
Тип объективов
|
Планахроматические металлографические объективы с оптической системой, скорректированной на бесконечность | |
|
Увеличение объективов
|
5×, 10×, 20×, 50×, 100× | |
|
Револьвер объективов
|
5-позиционный | |
|
Диапазон грубой фокусировки
|
28 мм | |
|
Точность тонкой фокусировки
|
0,002 мм | |
|
Максимальная высота образца
|
28 мм | |
|
Камера микроскопа
|
||
|
Формат сенсора
|
1/1,8" | |
|
Размер пикселя
|
2,4 × 2,4 мкм | |
|
Разрешение
|
6,3 Мп | |
|
Максимальное разрешение изображения
|
3072 × 2048 пикселей | |
|
Максимальная частота кадров при максимальном разрешении
|
30 кадров/с | |
|
Интерфейс передачи изображения
|
USB 3.0 | |
|
Стандартный предметный столик
|
||
|
Тип
|
Двухкоординатный механический предметный столик | |
|
Регулировка
|
Перемещение по осям X и Y | |
|
Размер рабочей поверхности
|
175 × 145 мм | |
|
Диапазон перемещения
|
76 × 42 мм | |
|
Опциональный моторизованный столик
|
||
|
Тип
|
Электрически управляемый двухкоординатный столик | |
|
Диапазон перемещения
|
75 × 50 мм | |
|
Минимальный шаг перемещения
|
0,1 мкм | |
|
Программное обеспечение
|
ПО для автоматизированного картирования | |
-
Исследование и идентификация материалов.
-
Контроль пищевой и фармацевтической продукции.
-
Идентификация ювелирных изделий и предметов культурного наследия.
-
Обнаружение и идентификация опасных веществ.
-
Экологический мониторинг.
-
Исследование полимерных материалов.
-
Биологические и химические исследования.
-
Локальный анализ неоднородных и микроструктурированных образцов.
