ГлавнаяКаталогУчебные и образовательные наборы по фотоникеУчебные наборы по интерферометрииKirin-S - лазерный сканирующий микроскоп

Kirin-S - лазерный сканирующий микроскоп

Kirin-S - модульная система лазерной сканирующей микроскопии на базе стандартного микроскопического корпуса для широкопольной визуализации с высокоэффективной передачей сигнала.

Широкопольное лазерное сканирование с полем зрения до 525×525 мкм (при 40Х).
Разрешение гальванометра: 70 мкрад.
Совместимость с различными источниками света и детекторами.
Модульная конструкция с широкими возможностями кастомизации.
Собственное ПО для сбора и обработки данных.

Производитель: LBTEK

Узнать цену

Задать вопрос

Лазерная сканирующая микроскопия является одним из ключевых методов современной биомедицинской визуализации, позволяющей получать изображения с высоким контрастом и пространственным разрешением за счёт точечного сканирования образца сфокусированным лазерным пучком. В отличие от традиционной широкопольной микроскопии, данный подход обеспечивает подавление внефокальной засветки и возможность послойного анализа объёмных образцов.

Система Kirin-S построена на базе стандартного корпуса исследовательского микроскопа, интегрированного с оптическим сканирующим модулем. В его основе лежат двухосевые гальванометрические сканеры, обеспечивающие точное позиционирование лазерного пятна по полю зрения. Оптическая схема включает систему 4f-линз для передачи сканирующего пучка в плоскость образца и сбора сигнальной флуоресценции через тот же объектив.

Ключевые особенности:

Базовый модуль (минимальная функциональная единица): включает микроскоп BX53F2 с моторизованным XY-столиком (ход 80×60 мм, повторяемость ≤2,5 мкм), Z-фокусировкой с обратной связью и сканирующим модулем.
Сканирующий модуль: содержит XY-гальванометры, оптические элементы, 4f-систему и управляющую электронику.
Гибкость конфигурации: система позволяет использовать как собственные лазеры и детекторы заказчика, так и приобретать готовые модули детектирования.
Универсальность: совместимость с различными объективами, источниками освещения (LED, лазеры) и детекторами (PMT, sCMOS, APD) позволяет адаптировать систему под широкий спектр приложений.

Модуль	Состав модуля	Конфигурация
1. Базовый модуль (минимальная функциональная единица). обязательная конфигурация
Микроскоп BX53F2 (без объектива)	Корпус Olympus BX53F2 (LED)	Обязательно
	Универсальный светодиодный осветитель высокой яркости
	Специализированная ручка для просвечивающей микроскопии
	Моторизованный XY-столик (ход 80×60 мм, повторяемость ≤2,5 мкм)
	Держатель предметных стёкол
	Шаговый двигатель Z-фокусировки с замкнутым контуром обратной связи
	6-позиционный револьвер объективов
	Блок управления перемещением
Широкопольный лазерный сканирующий модуль	Конструктивные элементы модуля	Обязательно
	Оптические элементы модуля
	Электрические компоненты модуля (включая гальванометр)
	Плата сбора данных
	Программное обеспечение для сбора изображений
Цветная камера	Универсальный C-mount переходник	Обязательно
2. Опциональный модуль 1. Система сбора сигнала
Сигнальный модуль (детектор + сопутствующее оборудование)	Детектор и сопутствующее оборудование для регистрации сигнала, синхронизируемое со сканирующим модулем для быстрого отображения информации об образце	Рекомендуется
3. Опциональный модуль 2. Модуль переключения нижнего оптического пути
Модуль переключения нижнего оптического пути	Моторизованный модуль для автоматического переключения между режимом просвечивания и лазерным сканированием	По выбору
4. Опциональный модуль 3. Рабочая станция обработки данных
Рабочая станция обработки данных	Промышленный компьютер с операционной системой Windows 11 и предустановленным специализированным ПО для обработки и анализа сигналов	По выбору
5. Дополнительные аксессуары (по требованию)
Микроскопные аксессуары	Ручной контроллер Многофункциональный держатель образцов Универсальный ахроматический конденсор Универсальная тринокулярная насадка (угол наклона 30°) Широкопольные окуляры 10× (2 шт.) Объективы (различные увеличения)	По требованию