Микроскопические системы для измерения спектрального отклика DSR300 от Zolix Instruments
15.02.2023
Рады представить новую систему в разделе каталога «Измерение спектральной чувствительности». Доступна с заказу установка DSR300 от Zolix Instruments, разработанная для микроскопического анализа спектральной чувствительности различных фотодетекторов, солнечных батарей, широкозонных полупроводников.
Компания Zolix Instruments известна своими спектроскопическими системами, активно использующимися научными лабораториями во всем мире. Еще одним направлением, которым занимается компания, является оборудование для фотоэлектрических испытаний. Растущий интерес к поиску подходящих материалов для солнечной энергетики и к разработке новых фотодетекторов требует сертифицированное оборудование для анализа. В линейке Zolix сегодня можно найти имитаторы солнечного света, системы измерения квантовой эффективности, системы для измерения LBIC.
Для измерения спектральной характеристики фотодетектора в некотором диапазоне длин волн требуется источник света (или комбинация источников света), который может давать квазимонохроматический свет в широком диапазоне длин волн или, по крайней мере, на определенных дискретных длинах волн. Затем для каждой длины волны измерения можно просто получить чувствительность как отношение фототока к падающей оптической мощности. В системах Zolix последнее достигается с помощью фотодетектора с откалиброванным спектральным откликом.
Система DSR300 от Zolix Instruments обеспечивает измерение спектрального отклика и квантовой эффективности миниатюрных фотодетекторов в спектральном диапазоне 250-1800 нм. Данная установка построена на базе высокоточного монохроматора серии Omni-λ, микроскопа и источника света. Пользователь может выбрать между перестраиваемым источником света на базе ксеноновой лампы, лазером непрерывного излучения 405 / 532 / 633 / 808 / 980 нм, импульсным лазером и источником белого света в зависимости от задачи. Система имеет четыре встроенных канала излучения и один внешний канал для подключения перестраиваемого источника.
Ключевым отличием системы DSR300 от других систем фотоэлектрического анализа является наличие микроскопических объективов, встроенных в «темную комнату». С помощью объективов с 50-кратным увеличением пользователь может работать с образцами размером до 100 микрон. Образец размещается на предметном столике, подключается к зондовой станции и позиционируется в трех плоскостях с разрешением 0,75 мкм.
Система поставляется в комплекте с программным обеспечением, предназначенным для автоматизированного сканирования тока, наведенного лазерным излучением (LIBC), а также измерения спектральной чувствительности, во всем рабочем диапазоне и осуществления быстрых измерений фотоэлектрических устройств.
Измеряемые параметры
- Спектральный отклик.
- Кривые ВАХ.
- Линейность (зависимость тока от плотности от яркости).
- Зависимость тока от времени (в том числе при смещающем напряжении).
- Внешняя квантовая эффективность (EQE).
- Ток, наведенный лазерным излучением (LBIC).
Примеры измерений
Анализ LBIC для фотодетектора, зондирующий пучок 70 мкм, лазерный источник 550 нм, объектив 50x, волокно 400 мкм
Кривые ВАХ для солнечного элемента при различных интенсивностях света
Измерение спектрального отклика кремниевого фотодетектора
Компания «Специальные Системы. Фотоника» является эксклюзивным дистрибьютором компании Zolix Instruments в России и странах ЕАЭС и оказывает профессиональную техническую поддержку по всем решениям компании. Для получения ценовых предложений и консультации по подбору системы для анализа фотоэлектрических устройств обратитесь к специалистам нашей компании.
