SSP-ST-U-SF - стабильные твердотельные лазеры с диодной накачкой
- Рабочие длины волн излучения: 425 / 430 / 433 нм.
- Минимальная выходная мощность: 1 мВт.
- Максимальная выходная мощность: 300 мВт.
- Расходимость пучка: ≤ 3 мрад.
SSP-ST-U-SF - серия стабильных твердотельных лазеров, работающих в непрерывном режиме излучения. В линейке представлено 3 модели, каждая из которых характеризуется определённой длиной волны: 425, 430 и 435 нм. Мощность излучения регулируется в широком диапазоне от 1 до 300 милливатт, что позволяет подобрать оптимальную модель для решения конкретных задач. Каждая модель поставляется с блоком питания PSU-SF и системой водяного/воздушного охлаждения, обеспечивающие стабильную работу всей системы.
Благодаря компактным размерам корпуса, длительному сроку службы, доступной стоимости и простоте в эксплуатации эти DPSS лазеры являются оптимальным выбором для научных исследований и промышленного применения. Их надежность и удобство использования делают их востребованным решением в различных областях применения.
Особенности:
- Компактный дизайн корпуса.
- Простота эксплуатации.
- Высокая мощность.
- Высокая стабильность.
- Два типа охлаждения.
| Модель | Длина волны, нм | Выходная мощность, мВт |
|---|---|---|
| SSP-ST-425-U-SF | 425 | 1 - 10 |
| SSP-ST-430-U-SF | 430 | 1 - 150 |
| SSP-ST-435-U-SF | 435 | 1 - 300 |
| Параметр | Значение | Единица измерения |
|---|---|---|
|
Рабочий режим
|
Непрерывный | - |
|
Стабильность мощности (rms, после 4 часов)
|
≤ 3,0, ≤ 2,0 (≤ 1,0@водяное охлаждение) | % |
|
Поперечный модовый состав
|
TEM00 | - |
|
Диаметр пучка на выходе (1/e2)
|
≤ 3,0 | мм |
|
Расходимость пучка
|
≤ 3,0 | мрад |
| М2 | ≤ 3,0 | |
|
Степень поляризации
|
≥ 100:1 | - |
|
Метод охлаждения
|
Воздушный / Водяной | - |
|
Время прогрева
|
≤ 10 | мин |
|
Высота пучка от основания
|
45 (воздушное охлаждение) 61,5 (водяное охлаждение) |
мм |
|
Рабочая температура
|
15 – 30 | °C |
|
Питание (90-264 В AC)
|
PSU-SF | - |
|
Срок службы
|
10000 | ч |
|
Гарантия
|
1 | год |
- Проточная цитометрия.
- Спектральный анализ.
- Микроскопия.
- Контроль полупроводников.
- Сортировка клеток.
- Оптические устройства и системы.
- Научные эксперименты.
