SSP-ST-355-D - твердотельные лазеры с диодной накачкой
- Режим излучения: непрерывный.
- Диапазон длин волн: 355 нм.
- Выходная мощность: 2 - 5 Вт.
- Расходимость пучка: ≤ 4,5 мрад.
- Диаметр пучка (по 1/e2): ≤ 2,0 мм.
- Коэффициент М2: ≤ 1,5.
Твердотельный лазер модели SSP-ST-355-D представляет собой лазер с диодной накачкой, который отличается высокой стабильностью работы. Прибор генерирует излучение с длиной волны 355 нм в непрерывном режиме, при этом мощность излучения составляет от 2 до 5 Вт (на выбор), что обеспечивает широкие возможности применения устройства. Качество генерируемого луча характеризуется следующими параметрами: расходимость не более 4,5 мрад, диаметр пучка на уровне 1/e² не превышает 2,0 мм, а параметр качества M² составляет не хуже 1,5.
Для эффективного теплоотведения устройство оснащено системой водяного охлаждения. Эксплуатационные характеристики допускают работу устройства в температурном диапазоне от +10 °C до +35 °C, при этом время выхода на рабочий режим не превышает 10 минут. Благодаря такой конфигурации лазер является оптимальным решением для широкого спектра применений, требующих стабильного ультрафиолетового излучения высокой мощности.
Особенности:
- Компактный дизайн корпуса.
- Простота эксплуатации.
- Высокая выходная оптическая мощность.
- Стабильная работа.
- Система водяного охлаждения, обеспечивающая длительный срок службы.
| Параметр | Значение |
Единица измерения |
|---|---|---|
|
Длина волны
|
355 ± 1 | нм |
|
Выходная мощность
|
2 - 5 | Вт |
|
Поперечный модовый состав
|
TEM00 |
|
|
Рабочий режим
|
Непрерывный |
|
|
Стабильность мощности
(rms, после 4 часов) |
≤ 3, ≤ 2, ≤ 1 | % |
|
Коэффициент М2
|
≤ 1,5 |
|
|
Расходимость пучка, полный угол
|
≤ 4,5 | мрад |
|
Диаметр пучка на выходе
|
≤ 2,0 | мм |
|
Метод охлаждения
|
Система водяного охлаждения |
|
|
Высота пучка от основания
|
98 | мм |
|
Коэффициент поляризации
|
≥ 100:1, горизонтальная |
|
|
Рабочая температура
|
от 10 до 35 | °C |
|
Время прогрева
|
≤ 10 | мин |
|
Рабочее напряжение
|
DC 36V/ 19.6A |
|
- Проточная цитометрия.
- Спектральный анализ.
- Микроскопия.
- Контроль полупроводников.
- Сортировка клеток.
- Оптические устройства и системы.
- Научные эксперименты.